Rauheitsmessung : Theorie und Praxis
Rauheitsmessung -- Impressum / Copyright -- Über den Autor -- Vorwort -- Inhalt -- 1 Einführung -- 2 Oberflächen -- 2.1 Funktion einer Oberfläche -- 2.2 Einfluss des Fertigungsverfahrens -- 2.3 Prüfmittel für die Oberflächenrauheit -- 2.4 Herstellung von Oberflächen -- 2.5 Die Oberfläche als...
Ausführliche Beschreibung
Gespeichert in:
| Autor*in: |
Volk, Raimund - 1958- [verfasserIn] |
|---|---|
| Körperschaften: |
Deutsches Institut für Normung [HerausgeberIn] Beuth Verlag [Verlag] |
| Format: |
E-Book |
|---|---|
| Sprache: |
Deutsch |
| Erschienen: |
Berlin Wien Zürich: Beuth Verlag GmbH ; 2018 © 2018 |
|---|---|
| Ausgabe: |
3., überarbeitete Auflage 2018 |
| Schlagwörter: |
Surfaces (Technology)-Analysis.. Surfaces (Technology) ; Analysis |
|---|
| Anmerkung: |
Literaturangaben |
|---|---|
| Umfang: |
1 Online-Ressource (XII, 190 Seiten) ; Illustrationen, Diagramme |
| Reihe: |
Beuth Praxis |
|---|
| Links: | |
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| ISBN: |
978-3-410-27550-3 |
| Katalog-ID: |
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| 520 | |a Rauheitsmessung -- Impressum / Copyright -- Über den Autor -- Vorwort -- Inhalt -- 1 Einführung -- 2 Oberflächen -- 2.1 Funktion einer Oberfläche -- 2.2 Einfluss des Fertigungsverfahrens -- 2.3 Prüfmittel für die Oberflächenrauheit -- 2.4 Herstellung von Oberflächen -- 2.5 Die Oberfläche als komplexes Gebilde -- 2.6 Unterscheidung von Oberflächenunregelmäßigkeiten -- 3 Oberflächenkenngrößen -- 3.1 Bedeutung der Kenngrößen -- 3.1.1 Wichtige aktuelle Kenngrößen -- 3.1.2 Neue Kenngrößen -- 3.1.3 Weniger gebräuchliche Kenngrößen -- 3.2 Verwechslungsgefahren -- 3.3 Übersicht über die Kenngrößen -- 3.4 Rauheitskenngrößen -- 3.4.1 Ra - Arithmetischer Mittenrauwert -- 3.4.2 Rq - Quadratischer Mittenrauwert -- 3.4.3 Rz - Gemittelte Rautiefe -- Rmax - Maximale Rautiefe -- 3.4.4 R3z - Grundrautiefe -- 3.4.5 Rz(ISO) - Zehnpunktehöhe -- Ry - Maximale Rautiefe (alt) -- 3.4.6 Rp - Mittlere Glättungstiefe -- Rv - Mittlere Riefentiefe -- 3.5 Welligkeitskenngrößen -- 3.5.1 Wt - Wellentiefe -- 3.5.2 WDSm - Dominante Wellenlänge -- 3.6 Oberflächenkenngrößen für das Gesamtprofil -- 3.6.1 Pt - Profiltiefe -- 3.7 Distanzkenngrößen (Horizontalkenngrößen) -- 3.7.1 RPc - Normierte Spitzenzahl -- D - Dichte -- 3.7.2 RSm - Mittlerer Rillenabstand -- 3.8 Zusammengesetzte Kenngrößen (Länge und Tiefe) -- 3.8.1 Rmr(c), Pmr(c) - Materialanteil des Profils -- 3.8.2 Rk - Kernrautiefe -- Rpk - Reduzierte Spitzenhöhe -- Rvk - Reduzierte Riefentiefe -- Mr1 - Kleinster Materialanteil -- Mr2 - Größter Materialanteil -- 3.8.3 RΔq - Quadratischer Mittelwert der Profilsteigung -- 3.8.4 L0 - Gestreckte Länge des Profils (nicht genormt) -- 3.8.5 LR - Profillängenverhältnis -- 3.9 Motifkenngrößen -- R - Mittlere Tiefe der Rauheitsmotifs -- Rx - Maximale Tiefe der Profilunregelmäßigkeit -- W - Mittlere Tiefe der Welligkeitsmotifs | ||
| 520 | |a Wx - Maximale Tiefe der Welligkeitsmotifs -- AR - Mittlere Teilung der Rauheitsmotifs -- AW - Mittlere Länge der Welligkeitsmotifs -- Wte - Gesamttiefe der Welligkeit -- 3.10 Statistische Kenngrößen -- 3.10.1 Die Oberfläche aus statistischer Sicht -- 3.10.2 Rsk - Schiefe des Profils -- 3.10.3 Rku - Steilheit des Profils -- 3.10.4 AKF - Die Autokorrelationsfunktion -- 3.10.5 Fourier-Analyse (nicht genormt) -- 3.11 Dreidimensionale Analyse der Oberfläche -- 3.11.1 Drall-Kenngrößen -- 4 Oberflächenmessgeräte -- 4.1 Oberflächenvergleichsmuster -- 4.2 Tastschnittverfahren -- 4.2.1 Normen zu Tastschnittgeräten -- 4.2.2 Taster -- 4.2.3 Vorschubapparat -- 4.2.4 Computer -- 4.2.5 Anzeige -- 4.2.6 Dokumentation -- 4.3 Berührungslose Messung -- 4.3.1 Weißlichtsensor -- 4.3.2 Alternative Verfahren -- 5 Messtechnik -- 5.1 Oberflächenmesstechnik mit dem Tastschnittverfahren -- 5.1.1 Einstellung der Taststrecke -- 5.1.2 Wahl der Grenzwellenlänge des Filters -- 5.1.3 Formabweichungen eliminieren -- 5.1.4 Ausrichten des Profils -- 5.2 Güteklassen -- 5.3 Kalibrierung der Geräte -- 5.3.1 Kalibrierlaboratorien -- 5.4 Rauschen, Schwingungen -- 5.4.1 Gleitkufentaster -- 5.4.2 Vorschubapparat an Säulen -- 5.4.3 Messtische mit Schwingungsdämpfung -- 5.5 Temperatur -- 5.6 Einfluss von Zugluft -- 5.7 Beschädigungen am Werkstück -- 5.8 Sauberkeit -- 5.9 Einfluss von Magnetismus -- 5.10 Oberflächenabdrücke -- 5.11 Statistische Analyse der Ergebnisse -- 5.11.1 „16%-Regel" -- 5.11.2 „Höchstwert-Regel" -- 5.12 Statistische Prozesskontrolle SPC -- 6 Filter -- 6.1 Die Grenzwellenlänge des Filters λc -- 6.2 Gaußfilter nach DIN EN ISO 16610-21:2013-06 -- 6.3 Analoge Filter (2RC-Filter) -- 6.4 Sonderfilter nach Normenreihe DIN EN ISO 13565 (Rk) -- 7 Messunsicherheit -- 7.1 Theorie -- 7.1.1 Mathematisches Modell -- 7.1.2 Filterfaktor c | ||
| 520 | |a 7.1.3 Unsicherheit der gemittelten Rautiefe Rz -- 7.2 Unsicherheitsbeiträge -- 7.2.1 Vorschub und Schwingungsisolierung -- 7.2.2 Tastsystem -- 7.2.3 Unbekannte systematische Abweichungen -- 7.2.4 Streuung der Messwerte s(Rz) -- 7.3 Messunsicherheitsbudget -- 8 Zeichnungseintragungen -- 8.1 Regeln nach DIN EN ISO 1302:2002-08 -- 8.1.1 Symbole für die Oberflächenbeschaffenheit -- 8.1.2 Oberflächenbeschaffenheit am vollständigen Symbol -- 8.1.3 Bearbeitungsverfahren -- 8.1.4 Übertragungscharakteristik und Einzelmessstrecke -- 8.1.5 Oberflächenrillenrichtung -- 8.1.6 Bearbeitungszugabe -- 8.1.7 Lage und Ausrichtung der Symbole -- 8.1.8 Vereinfachte Zeichnungseintragung -- 8.1.9 Ausblick ISO 21920 - Zeichnungseintragungen -- 9 DIN-Normen und VDI-Richtlinien -- 9.1 Technische Oberflächen -- 9.1.1 Entwicklung -- 9.1.2 Konstruktion -- 9.1.3 Fertigung -- 9.1.4 Qualitätsprüfung -- 9.2 Weiterentwicklung der Normung -- 9.2.1 ISO 21920 Profilnorm -- 9.2.2 Neue Filterverfahren -- 9.2.3 Unterschiedliche Interpretationen beim Rmax und Rz1max -- 9.3 Anleitungen zur Ermittlung der Messunsicherheit -- 9.4 Normen und Richtlinien aus angrenzenden Bereichen -- 10 Literatur -- 10.1 Entwicklung der Oberflächenmesstechnik -- 10.2 Standardwerke -- 10.2.1 Bodschwinna -- Hillmann (1992) -- 10.2.2 Whitehouse (1994) -- 10.2.3 Thomas (1999) -- 10.2.4 Leach (2013) -- Abkürzungsverzeichnis -- Stichwortverzeichnis | ||
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Zeichnungseintragungen -- 9 DIN-Normen und VDI-Richtlinien -- 9.1 Technische Oberflächen -- 9.1.1 Entwicklung -- 9.1.2 Konstruktion -- 9.1.3 Fertigung -- 9.1.4 Qualitätsprüfung -- 9.2 Weiterentwicklung der Normung -- 9.2.1 ISO 21920 Profilnorm -- 9.2.2 Neue Filterverfahren -- 9.2.3 Unterschiedliche Interpretationen beim Rmax und Rz1max -- 9.3 Anleitungen zur Ermittlung der Messunsicherheit -- 9.4 Normen und Richtlinien aus angrenzenden Bereichen -- 10 Literatur -- 10.1 Entwicklung der Oberflächenmesstechnik -- 10.2 Standardwerke -- 10.2.1 Bodschwinna -- Hillmann (1992) -- 10.2.2 Whitehouse (1994) -- 10.2.3 Thomas (1999) -- 10.2.4 Leach (2013) -- Abkürzungsverzeichnis -- Stichwortverzeichnis Surfaces (Technology)-Analysis.. 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Surface roughness Electronic books Deutsches Institut für Normung HerausgeberIn (DE-588)1030066-1 (DE-627)103726543 (DE-576)191320846 edt Beuth Verlag Verlag (DE-588)2179028-0 (DE-627)302342052 (DE-576)197801714 pbl 9783410275497 Erscheint auch als Druck-Ausgabe Volk, Raimund Rauheitsmessung : Theorie und Praxis Berlin : Beuth Verlag,c2018 9783410275497 https://ebookcentral.proquest.com/lib/kxp/detail.action?docID=5431652 X:EBC Verlag lizenzpflichtig Volltext http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=3fc8b5b03d474e14b767759bf28117fd&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm X:MVB text/html Inhaltstext https://external.dandelon.com/download/attachments/dandelon/ids/DE00131E5F891055D6B38C12582D000425955.pdf V:DE-601 X:AGI pdf/ BSZ-30-PQE-MABEAK BSZ-30-PQE-S2AAFH ZDB-30-PQE GBV_ILN_21 ISIL_DE-46 SYSFLAG_1 GBV_KXP GBV_ILN_118 ISIL_DE-Kt1 GBV_ILN_122 ISIL_DE-897 GBV_ILN_140 ISIL_DE-839 GBV_ILN_152 ISIL_DE-Shm2 GBV_ILN_264 ISIL_DE-897-1 GBV_ILN_370 ISIL_DE-1373 GBV_ILN_2021 ISIL_DE-289 GBV_ILN_2059 ISIL_DE-Kon4 GBV_ILN_2111 ISIL_DE-944 GBV_ILN_2118 ISIL_DE-Mh35 GBV_ILN_2144 ISIL_DE-955 BO 045F 620.44 21 01 0046 1791726372 ebook_2018_ebookcentral_tb Freie Nutzung im <a href="https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:46-campusnetz9" Target="_blank">Campusnetz</a> der Universitaet und der Hochschulen im Lande Bremen <br><b><a href="https://elib.suub.uni-bremen.de/ebooks/proquest.html" Target="_blank">Wie kann ich <font color="#ff0000">das E-Book nutzen?</font></a></b> zza 06-08-18 118 01 3329 3660646563 OLR-Proquest Holding Campusweiter Zugriff HSA - Vervielfältigungen (z.B. 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Surface roughness Electronic books Deutsches Institut für Normung HerausgeberIn (DE-588)1030066-1 (DE-627)103726543 (DE-576)191320846 edt Beuth Verlag Verlag (DE-588)2179028-0 (DE-627)302342052 (DE-576)197801714 pbl 9783410275497 Erscheint auch als Druck-Ausgabe Volk, Raimund Rauheitsmessung : Theorie und Praxis Berlin : Beuth Verlag,c2018 9783410275497 https://ebookcentral.proquest.com/lib/kxp/detail.action?docID=5431652 X:EBC Verlag lizenzpflichtig Volltext http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=3fc8b5b03d474e14b767759bf28117fd&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm X:MVB text/html Inhaltstext https://external.dandelon.com/download/attachments/dandelon/ids/DE00131E5F891055D6B38C12582D000425955.pdf V:DE-601 X:AGI pdf/ BSZ-30-PQE-MABEAK BSZ-30-PQE-S2AAFH ZDB-30-PQE GBV_ILN_21 ISIL_DE-46 SYSFLAG_1 GBV_KXP GBV_ILN_118 ISIL_DE-Kt1 GBV_ILN_122 ISIL_DE-897 GBV_ILN_140 ISIL_DE-839 GBV_ILN_152 ISIL_DE-Shm2 GBV_ILN_264 ISIL_DE-897-1 GBV_ILN_370 ISIL_DE-1373 GBV_ILN_2021 ISIL_DE-289 GBV_ILN_2059 ISIL_DE-Kon4 GBV_ILN_2111 ISIL_DE-944 GBV_ILN_2118 ISIL_DE-Mh35 GBV_ILN_2144 ISIL_DE-955 BO 045F 620.44 21 01 0046 1791726372 ebook_2018_ebookcentral_tb Freie Nutzung im <a href="https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:46-campusnetz9" Target="_blank">Campusnetz</a> der Universitaet und der Hochschulen im Lande Bremen <br><b><a href="https://elib.suub.uni-bremen.de/ebooks/proquest.html" Target="_blank">Wie kann ich <font color="#ff0000">das E-Book nutzen?</font></a></b> zza 06-08-18 118 01 3329 3660646563 OLR-Proquest Holding Campusweiter Zugriff HSA - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z1 06-05-20 122 01 0897 3481823452 ACQ Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. z 06-06-19 140 01 0839 348182369X ACQ Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. z 06-06-19 152 01 3405 3497121118 00 Online --%%-- g --%%-- Proquest DDA Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. 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9783410275503 : electronic bk. 978-3-410-27550-3 (DE-627)1026109442 (DE-576)517803100 (DE-599)GBV1026109442 (EBP)03761746X (EBC)EBC5431652 (EBL)EBL5431652 DE-627 ger DE-627 rda ger XA-DE XA-CH XA-AT 620.44 Volk, Raimund 1958- verfasserin (DE-588)1162700785 (DE-627)1026852676 (DE-576)507569520 aut Rauheitsmessung Theorie und Praxis Dr. Raimund Volk ; Herausgeber: DIN Deutsches Institut für Normung e.V. 3., überarbeitete Auflage 2018 Berlin Wien Zürich Beuth Verlag GmbH [2018] © 2018 1 Online-Ressource (XII, 190 Seiten) Illustrationen, Diagramme Text txt rdacontent Computermedien c rdamedia Online-Ressource cr rdacarrier Beuth Praxis Literaturangaben Rauheitsmessung -- Impressum / Copyright -- Über den Autor -- Vorwort -- Inhalt -- 1 Einführung -- 2 Oberflächen -- 2.1 Funktion einer Oberfläche -- 2.2 Einfluss des Fertigungsverfahrens -- 2.3 Prüfmittel für die Oberflächenrauheit -- 2.4 Herstellung von Oberflächen -- 2.5 Die Oberfläche als komplexes Gebilde -- 2.6 Unterscheidung von Oberflächenunregelmäßigkeiten -- 3 Oberflächenkenngrößen -- 3.1 Bedeutung der Kenngrößen -- 3.1.1 Wichtige aktuelle Kenngrößen -- 3.1.2 Neue Kenngrößen -- 3.1.3 Weniger gebräuchliche Kenngrößen -- 3.2 Verwechslungsgefahren -- 3.3 Übersicht über die Kenngrößen -- 3.4 Rauheitskenngrößen -- 3.4.1 Ra - Arithmetischer Mittenrauwert -- 3.4.2 Rq - Quadratischer Mittenrauwert -- 3.4.3 Rz - Gemittelte Rautiefe -- Rmax - Maximale Rautiefe -- 3.4.4 R3z - Grundrautiefe -- 3.4.5 Rz(ISO) - Zehnpunktehöhe -- Ry - Maximale Rautiefe (alt) -- 3.4.6 Rp - Mittlere Glättungstiefe -- Rv - Mittlere Riefentiefe -- 3.5 Welligkeitskenngrößen -- 3.5.1 Wt - Wellentiefe -- 3.5.2 WDSm - Dominante Wellenlänge -- 3.6 Oberflächenkenngrößen für das Gesamtprofil -- 3.6.1 Pt - Profiltiefe -- 3.7 Distanzkenngrößen (Horizontalkenngrößen) -- 3.7.1 RPc - Normierte Spitzenzahl -- D - Dichte -- 3.7.2 RSm - Mittlerer Rillenabstand -- 3.8 Zusammengesetzte Kenngrößen (Länge und Tiefe) -- 3.8.1 Rmr(c), Pmr(c) - Materialanteil des Profils -- 3.8.2 Rk - Kernrautiefe -- Rpk - Reduzierte Spitzenhöhe -- Rvk - Reduzierte Riefentiefe -- Mr1 - Kleinster Materialanteil -- Mr2 - Größter Materialanteil -- 3.8.3 RΔq - Quadratischer Mittelwert der Profilsteigung -- 3.8.4 L0 - Gestreckte Länge des Profils (nicht genormt) -- 3.8.5 LR - Profillängenverhältnis -- 3.9 Motifkenngrößen -- R - 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Zeichnungseintragungen -- 9 DIN-Normen und VDI-Richtlinien -- 9.1 Technische Oberflächen -- 9.1.1 Entwicklung -- 9.1.2 Konstruktion -- 9.1.3 Fertigung -- 9.1.4 Qualitätsprüfung -- 9.2 Weiterentwicklung der Normung -- 9.2.1 ISO 21920 Profilnorm -- 9.2.2 Neue Filterverfahren -- 9.2.3 Unterschiedliche Interpretationen beim Rmax und Rz1max -- 9.3 Anleitungen zur Ermittlung der Messunsicherheit -- 9.4 Normen und Richtlinien aus angrenzenden Bereichen -- 10 Literatur -- 10.1 Entwicklung der Oberflächenmesstechnik -- 10.2 Standardwerke -- 10.2.1 Bodschwinna -- Hillmann (1992) -- 10.2.2 Whitehouse (1994) -- 10.2.3 Thomas (1999) -- 10.2.4 Leach (2013) -- Abkürzungsverzeichnis -- Stichwortverzeichnis Surfaces (Technology)-Analysis.. Surface roughness Surfaces (Technology) ; Analysis Surfaces (Technology)-Analysis. Surface roughness Electronic books Deutsches Institut für Normung HerausgeberIn (DE-588)1030066-1 (DE-627)103726543 (DE-576)191320846 edt Beuth Verlag Verlag (DE-588)2179028-0 (DE-627)302342052 (DE-576)197801714 pbl 9783410275497 Erscheint auch als Druck-Ausgabe Volk, Raimund Rauheitsmessung : Theorie und Praxis Berlin : Beuth Verlag,c2018 9783410275497 https://ebookcentral.proquest.com/lib/kxp/detail.action?docID=5431652 X:EBC Verlag lizenzpflichtig Volltext http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=3fc8b5b03d474e14b767759bf28117fd&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm X:MVB text/html Inhaltstext https://external.dandelon.com/download/attachments/dandelon/ids/DE00131E5F891055D6B38C12582D000425955.pdf V:DE-601 X:AGI pdf/ BSZ-30-PQE-MABEAK BSZ-30-PQE-S2AAFH ZDB-30-PQE GBV_ILN_21 ISIL_DE-46 SYSFLAG_1 GBV_KXP GBV_ILN_118 ISIL_DE-Kt1 GBV_ILN_122 ISIL_DE-897 GBV_ILN_140 ISIL_DE-839 GBV_ILN_152 ISIL_DE-Shm2 GBV_ILN_264 ISIL_DE-897-1 GBV_ILN_370 ISIL_DE-1373 GBV_ILN_2021 ISIL_DE-289 GBV_ILN_2059 ISIL_DE-Kon4 GBV_ILN_2111 ISIL_DE-944 GBV_ILN_2118 ISIL_DE-Mh35 GBV_ILN_2144 ISIL_DE-955 BO 045F 620.44 21 01 0046 1791726372 ebook_2018_ebookcentral_tb Freie Nutzung im <a href="https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:46-campusnetz9" Target="_blank">Campusnetz</a> der Universitaet und der Hochschulen im Lande Bremen <br><b><a href="https://elib.suub.uni-bremen.de/ebooks/proquest.html" Target="_blank">Wie kann ich <font color="#ff0000">das E-Book nutzen?</font></a></b> zza 06-08-18 118 01 3329 3660646563 OLR-Proquest Holding Campusweiter Zugriff HSA - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z1 06-05-20 122 01 0897 3481823452 ACQ Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. z 06-06-19 140 01 0839 348182369X ACQ Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. z 06-06-19 152 01 3405 3497121118 00 Online --%%-- g --%%-- Proquest DDA Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. k 25-07-19 264 01 3264 3481821573 ACQ Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. z 06-06-19 370 01 4370 3976599875 olr-dda ebc Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. i z 09-09-21 2021 01 DE-289 3844764364 00 --%%-- --%%-- --%%-- n l01 29-01-21 2059 01 DE-Kon4 3378482486 00 --%%-- eBook ebcentral --%%-- n Elektronischer Volltext - Campuslizenz l01 19-02-19 2111 01 DE-944 3936586160 00 --%%-- E-Book Beuth --%%-- n Elektronischer Volltext - Campuslizenz l01 10-06-21 2118 01 DE-Mh35 3576133720 00 --%%-- eBook Beuth --%%-- n Elektronischer Volltext - Campuslizenz l01 17-01-20 2144 01 DE-955 3567961942 00 --%%-- --%%-- --%%-- n E-Book-Ausleihe für Hochschulangehörige l01 20-12-19 21 01 0046 http://ebookcentral.proquest.com/lib/suub/detail.action?docID=5431652 118 01 3329 https://ebookcentral.proquest.com/lib/hsanhalt-ebooks/detail.action?docID=5431652 122 01 0897 https://ebookcentral.proquest.com/lib/jade/detail.action?docID=5431652 Volltext 140 01 0839 https://ebookcentral.proquest.com/lib/jade/detail.action?docID=5431652 Volltext 152 01 3405 One User https://ebookcentral.proquest.com/lib/hs-sm/detail.action?docID=5431652 264 01 3264 https://ebookcentral.proquest.com/lib/jade/detail.action?docID=5431652 Volltext 370 01 4370 E-Book: Zugriff im HCU-Netz. 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Arithmetischer Mittenrauwert -- 3.4.2 Rq - Quadratischer Mittenrauwert -- 3.4.3 Rz - Gemittelte Rautiefe -- Rmax - Maximale Rautiefe -- 3.4.4 R3z - Grundrautiefe -- 3.4.5 Rz(ISO) - Zehnpunktehöhe -- Ry - Maximale Rautiefe (alt) -- 3.4.6 Rp - Mittlere Glättungstiefe -- Rv - Mittlere Riefentiefe -- 3.5 Welligkeitskenngrößen -- 3.5.1 Wt - Wellentiefe -- 3.5.2 WDSm - Dominante Wellenlänge -- 3.6 Oberflächenkenngrößen für das Gesamtprofil -- 3.6.1 Pt - Profiltiefe -- 3.7 Distanzkenngrößen (Horizontalkenngrößen) -- 3.7.1 RPc - Normierte Spitzenzahl -- D - Dichte -- 3.7.2 RSm - Mittlerer Rillenabstand -- 3.8 Zusammengesetzte Kenngrößen (Länge und Tiefe) -- 3.8.1 Rmr(c), Pmr(c) - Materialanteil des Profils -- 3.8.2 Rk - Kernrautiefe -- Rpk - Reduzierte Spitzenhöhe -- Rvk - Reduzierte Riefentiefe -- Mr1 - Kleinster Materialanteil -- Mr2 - Größter Materialanteil -- 3.8.3 RΔq - Quadratischer Mittelwert der Profilsteigung -- 3.8.4 L0 - Gestreckte Länge des Profils (nicht genormt) -- 3.8.5 LR - Profillängenverhältnis -- 3.9 Motifkenngrößen -- R - Mittlere Tiefe der Rauheitsmotifs -- Rx - Maximale Tiefe der Profilunregelmäßigkeit -- W - Mittlere Tiefe der Welligkeitsmotifs Wx - Maximale Tiefe der Welligkeitsmotifs -- AR - Mittlere Teilung der Rauheitsmotifs -- AW - Mittlere Länge der Welligkeitsmotifs -- Wte - Gesamttiefe der Welligkeit -- 3.10 Statistische Kenngrößen -- 3.10.1 Die Oberfläche aus statistischer Sicht -- 3.10.2 Rsk - Schiefe des Profils -- 3.10.3 Rku - Steilheit des Profils -- 3.10.4 AKF - Die Autokorrelationsfunktion -- 3.10.5 Fourier-Analyse (nicht genormt) -- 3.11 Dreidimensionale Analyse der Oberfläche -- 3.11.1 Drall-Kenngrößen -- 4 Oberflächenmessgeräte -- 4.1 Oberflächenvergleichsmuster -- 4.2 Tastschnittverfahren -- 4.2.1 Normen zu Tastschnittgeräten -- 4.2.2 Taster -- 4.2.3 Vorschubapparat -- 4.2.4 Computer -- 4.2.5 Anzeige -- 4.2.6 Dokumentation -- 4.3 Berührungslose Messung -- 4.3.1 Weißlichtsensor -- 4.3.2 Alternative Verfahren -- 5 Messtechnik -- 5.1 Oberflächenmesstechnik mit dem Tastschnittverfahren -- 5.1.1 Einstellung der Taststrecke -- 5.1.2 Wahl der Grenzwellenlänge des Filters -- 5.1.3 Formabweichungen eliminieren -- 5.1.4 Ausrichten des Profils -- 5.2 Güteklassen -- 5.3 Kalibrierung der Geräte -- 5.3.1 Kalibrierlaboratorien -- 5.4 Rauschen, Schwingungen -- 5.4.1 Gleitkufentaster -- 5.4.2 Vorschubapparat an Säulen -- 5.4.3 Messtische mit Schwingungsdämpfung -- 5.5 Temperatur -- 5.6 Einfluss von Zugluft -- 5.7 Beschädigungen am Werkstück -- 5.8 Sauberkeit -- 5.9 Einfluss von Magnetismus -- 5.10 Oberflächenabdrücke -- 5.11 Statistische Analyse der Ergebnisse -- 5.11.1 „16%-Regel" -- 5.11.2 „Höchstwert-Regel" -- 5.12 Statistische Prozesskontrolle SPC -- 6 Filter -- 6.1 Die Grenzwellenlänge des Filters λc -- 6.2 Gaußfilter nach DIN EN ISO 16610-21:2013-06 -- 6.3 Analoge Filter (2RC-Filter) -- 6.4 Sonderfilter nach Normenreihe DIN EN ISO 13565 (Rk) -- 7 Messunsicherheit -- 7.1 Theorie -- 7.1.1 Mathematisches Modell -- 7.1.2 Filterfaktor c 7.1.3 Unsicherheit der gemittelten Rautiefe Rz -- 7.2 Unsicherheitsbeiträge -- 7.2.1 Vorschub und Schwingungsisolierung -- 7.2.2 Tastsystem -- 7.2.3 Unbekannte systematische Abweichungen -- 7.2.4 Streuung der Messwerte s(Rz) -- 7.3 Messunsicherheitsbudget -- 8 Zeichnungseintragungen -- 8.1 Regeln nach DIN EN ISO 1302:2002-08 -- 8.1.1 Symbole für die Oberflächenbeschaffenheit -- 8.1.2 Oberflächenbeschaffenheit am vollständigen Symbol -- 8.1.3 Bearbeitungsverfahren -- 8.1.4 Übertragungscharakteristik und Einzelmessstrecke -- 8.1.5 Oberflächenrillenrichtung -- 8.1.6 Bearbeitungszugabe -- 8.1.7 Lage und Ausrichtung der Symbole -- 8.1.8 Vereinfachte Zeichnungseintragung -- 8.1.9 Ausblick ISO 21920 - Zeichnungseintragungen -- 9 DIN-Normen und VDI-Richtlinien -- 9.1 Technische Oberflächen -- 9.1.1 Entwicklung -- 9.1.2 Konstruktion -- 9.1.3 Fertigung -- 9.1.4 Qualitätsprüfung -- 9.2 Weiterentwicklung der Normung -- 9.2.1 ISO 21920 Profilnorm -- 9.2.2 Neue Filterverfahren -- 9.2.3 Unterschiedliche Interpretationen beim Rmax und Rz1max -- 9.3 Anleitungen zur Ermittlung der Messunsicherheit -- 9.4 Normen und Richtlinien aus angrenzenden Bereichen -- 10 Literatur -- 10.1 Entwicklung der Oberflächenmesstechnik -- 10.2 Standardwerke -- 10.2.1 Bodschwinna -- Hillmann (1992) -- 10.2.2 Whitehouse (1994) -- 10.2.3 Thomas (1999) -- 10.2.4 Leach (2013) -- Abkürzungsverzeichnis -- Stichwortverzeichnis Surfaces (Technology)-Analysis.. Surface roughness Surfaces (Technology) ; Analysis Surfaces (Technology)-Analysis. Surface roughness Electronic books Deutsches Institut für Normung HerausgeberIn (DE-588)1030066-1 (DE-627)103726543 (DE-576)191320846 edt Beuth Verlag Verlag (DE-588)2179028-0 (DE-627)302342052 (DE-576)197801714 pbl 9783410275497 Erscheint auch als Druck-Ausgabe Volk, Raimund Rauheitsmessung : Theorie und Praxis Berlin : Beuth Verlag,c2018 9783410275497 https://ebookcentral.proquest.com/lib/kxp/detail.action?docID=5431652 X:EBC Verlag lizenzpflichtig Volltext http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=3fc8b5b03d474e14b767759bf28117fd&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm X:MVB text/html Inhaltstext https://external.dandelon.com/download/attachments/dandelon/ids/DE00131E5F891055D6B38C12582D000425955.pdf V:DE-601 X:AGI pdf/ BSZ-30-PQE-MABEAK BSZ-30-PQE-S2AAFH ZDB-30-PQE GBV_ILN_21 ISIL_DE-46 SYSFLAG_1 GBV_KXP GBV_ILN_118 ISIL_DE-Kt1 GBV_ILN_122 ISIL_DE-897 GBV_ILN_140 ISIL_DE-839 GBV_ILN_152 ISIL_DE-Shm2 GBV_ILN_264 ISIL_DE-897-1 GBV_ILN_370 ISIL_DE-1373 GBV_ILN_2021 ISIL_DE-289 GBV_ILN_2059 ISIL_DE-Kon4 GBV_ILN_2111 ISIL_DE-944 GBV_ILN_2118 ISIL_DE-Mh35 GBV_ILN_2144 ISIL_DE-955 BO 045F 620.44 21 01 0046 1791726372 ebook_2018_ebookcentral_tb Freie Nutzung im <a href="https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:46-campusnetz9" Target="_blank">Campusnetz</a> der Universitaet und der Hochschulen im Lande Bremen <br><b><a href="https://elib.suub.uni-bremen.de/ebooks/proquest.html" Target="_blank">Wie kann ich <font color="#ff0000">das E-Book nutzen?</font></a></b> zza 06-08-18 118 01 3329 3660646563 OLR-Proquest Holding Campusweiter Zugriff HSA - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z1 06-05-20 122 01 0897 3481823452 ACQ Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. z 06-06-19 140 01 0839 348182369X ACQ Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. z 06-06-19 152 01 3405 3497121118 00 Online --%%-- g --%%-- Proquest DDA Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. k 25-07-19 264 01 3264 3481821573 ACQ Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. z 06-06-19 370 01 4370 3976599875 olr-dda ebc Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. i z 09-09-21 2021 01 DE-289 3844764364 00 --%%-- --%%-- --%%-- n l01 29-01-21 2059 01 DE-Kon4 3378482486 00 --%%-- eBook ebcentral --%%-- n Elektronischer Volltext - Campuslizenz l01 19-02-19 2111 01 DE-944 3936586160 00 --%%-- E-Book Beuth --%%-- n Elektronischer Volltext - Campuslizenz l01 10-06-21 2118 01 DE-Mh35 3576133720 00 --%%-- eBook Beuth --%%-- n Elektronischer Volltext - Campuslizenz l01 17-01-20 2144 01 DE-955 3567961942 00 --%%-- --%%-- --%%-- n E-Book-Ausleihe für Hochschulangehörige l01 20-12-19 21 01 0046 http://ebookcentral.proquest.com/lib/suub/detail.action?docID=5431652 118 01 3329 https://ebookcentral.proquest.com/lib/hsanhalt-ebooks/detail.action?docID=5431652 122 01 0897 https://ebookcentral.proquest.com/lib/jade/detail.action?docID=5431652 Volltext 140 01 0839 https://ebookcentral.proquest.com/lib/jade/detail.action?docID=5431652 Volltext 152 01 3405 One User https://ebookcentral.proquest.com/lib/hs-sm/detail.action?docID=5431652 264 01 3264 https://ebookcentral.proquest.com/lib/jade/detail.action?docID=5431652 Volltext 370 01 4370 E-Book: Zugriff im HCU-Netz. 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Arithmetischer Mittenrauwert -- 3.4.2 Rq - Quadratischer Mittenrauwert -- 3.4.3 Rz - Gemittelte Rautiefe -- Rmax - Maximale Rautiefe -- 3.4.4 R3z - Grundrautiefe -- 3.4.5 Rz(ISO) - Zehnpunktehöhe -- Ry - Maximale Rautiefe (alt) -- 3.4.6 Rp - Mittlere Glättungstiefe -- Rv - Mittlere Riefentiefe -- 3.5 Welligkeitskenngrößen -- 3.5.1 Wt - Wellentiefe -- 3.5.2 WDSm - Dominante Wellenlänge -- 3.6 Oberflächenkenngrößen für das Gesamtprofil -- 3.6.1 Pt - Profiltiefe -- 3.7 Distanzkenngrößen (Horizontalkenngrößen) -- 3.7.1 RPc - Normierte Spitzenzahl -- D - Dichte -- 3.7.2 RSm - Mittlerer Rillenabstand -- 3.8 Zusammengesetzte Kenngrößen (Länge und Tiefe) -- 3.8.1 Rmr(c), Pmr(c) - Materialanteil des Profils -- 3.8.2 Rk - Kernrautiefe -- Rpk - Reduzierte Spitzenhöhe -- Rvk - Reduzierte Riefentiefe -- Mr1 - Kleinster Materialanteil -- Mr2 - Größter Materialanteil -- 3.8.3 RΔq - Quadratischer Mittelwert der Profilsteigung -- 3.8.4 L0 - Gestreckte Länge des Profils (nicht genormt) -- 3.8.5 LR - Profillängenverhältnis -- 3.9 Motifkenngrößen -- R - 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Kein systematisches Downloaden durch Robots. k 25-07-19 264 01 3264 3481821573 ACQ Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. z 06-06-19 370 01 4370 3976599875 olr-dda ebc Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. i z 09-09-21 2021 01 DE-289 3844764364 00 --%%-- --%%-- --%%-- n l01 29-01-21 2059 01 DE-Kon4 3378482486 00 --%%-- eBook ebcentral --%%-- n Elektronischer Volltext - Campuslizenz l01 19-02-19 2111 01 DE-944 3936586160 00 --%%-- E-Book Beuth --%%-- n Elektronischer Volltext - Campuslizenz l01 10-06-21 2118 01 DE-Mh35 3576133720 00 --%%-- eBook Beuth --%%-- n Elektronischer Volltext - Campuslizenz l01 17-01-20 2144 01 DE-955 3567961942 00 --%%-- --%%-- --%%-- n E-Book-Ausleihe für Hochschulangehörige l01 20-12-19 21 01 0046 http://ebookcentral.proquest.com/lib/suub/detail.action?docID=5431652 118 01 3329 https://ebookcentral.proquest.com/lib/hsanhalt-ebooks/detail.action?docID=5431652 122 01 0897 https://ebookcentral.proquest.com/lib/jade/detail.action?docID=5431652 Volltext 140 01 0839 https://ebookcentral.proquest.com/lib/jade/detail.action?docID=5431652 Volltext 152 01 3405 One User https://ebookcentral.proquest.com/lib/hs-sm/detail.action?docID=5431652 264 01 3264 https://ebookcentral.proquest.com/lib/jade/detail.action?docID=5431652 Volltext 370 01 4370 E-Book: Zugriff im HCU-Netz. 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tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Text</subfield><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Computermedien</subfield><subfield code="b">c</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Online-Ressource</subfield><subfield code="b">cr</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Beuth Praxis</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Literaturangaben</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Rauheitsmessung -- Impressum / Copyright -- Über den Autor -- Vorwort -- Inhalt -- 1 Einführung -- 2 Oberflächen -- 2.1 Funktion einer Oberfläche -- 2.2 Einfluss des Fertigungsverfahrens -- 2.3 Prüfmittel für die Oberflächenrauheit -- 2.4 Herstellung von Oberflächen -- 2.5 Die Oberfläche als komplexes Gebilde -- 2.6 Unterscheidung von Oberflächenunregelmäßigkeiten -- 3 Oberflächenkenngrößen -- 3.1 Bedeutung der Kenngrößen -- 3.1.1 Wichtige aktuelle Kenngrößen -- 3.1.2 Neue Kenngrößen -- 3.1.3 Weniger gebräuchliche Kenngrößen -- 3.2 Verwechslungsgefahren -- 3.3 Übersicht über die Kenngrößen -- 3.4 Rauheitskenngrößen -- 3.4.1 Ra - Arithmetischer Mittenrauwert -- 3.4.2 Rq - Quadratischer Mittenrauwert -- 3.4.3 Rz - Gemittelte Rautiefe -- Rmax - Maximale Rautiefe -- 3.4.4 R3z - Grundrautiefe -- 3.4.5 Rz(ISO) - Zehnpunktehöhe -- Ry - Maximale Rautiefe (alt) -- 3.4.6 Rp - Mittlere Glättungstiefe -- Rv - Mittlere Riefentiefe -- 3.5 Welligkeitskenngrößen -- 3.5.1 Wt - Wellentiefe -- 3.5.2 WDSm - Dominante Wellenlänge -- 3.6 Oberflächenkenngrößen für das Gesamtprofil -- 3.6.1 Pt - Profiltiefe -- 3.7 Distanzkenngrößen (Horizontalkenngrößen) -- 3.7.1 RPc - Normierte Spitzenzahl -- D - Dichte -- 3.7.2 RSm - Mittlerer Rillenabstand -- 3.8 Zusammengesetzte Kenngrößen (Länge und Tiefe) -- 3.8.1 Rmr(c), Pmr(c) - Materialanteil des Profils -- 3.8.2 Rk - Kernrautiefe -- Rpk - Reduzierte Spitzenhöhe -- Rvk - Reduzierte Riefentiefe -- Mr1 - Kleinster Materialanteil -- Mr2 - Größter Materialanteil -- 3.8.3 RΔq - Quadratischer Mittelwert der Profilsteigung -- 3.8.4 L0 - Gestreckte Länge des Profils (nicht genormt) -- 3.8.5 LR - Profillängenverhältnis -- 3.9 Motifkenngrößen -- R - Mittlere Tiefe der Rauheitsmotifs -- Rx - Maximale Tiefe der Profilunregelmäßigkeit -- W - Mittlere Tiefe der Welligkeitsmotifs</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Wx - Maximale Tiefe der Welligkeitsmotifs -- AR - Mittlere Teilung der Rauheitsmotifs -- AW - Mittlere Länge der Welligkeitsmotifs -- Wte - Gesamttiefe der Welligkeit -- 3.10 Statistische Kenngrößen -- 3.10.1 Die Oberfläche aus statistischer Sicht -- 3.10.2 Rsk - Schiefe des Profils -- 3.10.3 Rku - Steilheit des Profils -- 3.10.4 AKF - Die Autokorrelationsfunktion -- 3.10.5 Fourier-Analyse (nicht genormt) -- 3.11 Dreidimensionale Analyse der Oberfläche -- 3.11.1 Drall-Kenngrößen -- 4 Oberflächenmessgeräte -- 4.1 Oberflächenvergleichsmuster -- 4.2 Tastschnittverfahren -- 4.2.1 Normen zu Tastschnittgeräten -- 4.2.2 Taster -- 4.2.3 Vorschubapparat -- 4.2.4 Computer -- 4.2.5 Anzeige -- 4.2.6 Dokumentation -- 4.3 Berührungslose Messung -- 4.3.1 Weißlichtsensor -- 4.3.2 Alternative Verfahren -- 5 Messtechnik -- 5.1 Oberflächenmesstechnik mit dem Tastschnittverfahren -- 5.1.1 Einstellung der Taststrecke -- 5.1.2 Wahl der Grenzwellenlänge des Filters -- 5.1.3 Formabweichungen eliminieren -- 5.1.4 Ausrichten des Profils -- 5.2 Güteklassen -- 5.3 Kalibrierung der Geräte -- 5.3.1 Kalibrierlaboratorien -- 5.4 Rauschen, Schwingungen -- 5.4.1 Gleitkufentaster -- 5.4.2 Vorschubapparat an Säulen -- 5.4.3 Messtische mit Schwingungsdämpfung -- 5.5 Temperatur -- 5.6 Einfluss von Zugluft -- 5.7 Beschädigungen am Werkstück -- 5.8 Sauberkeit -- 5.9 Einfluss von Magnetismus -- 5.10 Oberflächenabdrücke -- 5.11 Statistische Analyse der Ergebnisse -- 5.11.1 „16%-Regel" -- 5.11.2 „Höchstwert-Regel" -- 5.12 Statistische Prozesskontrolle SPC -- 6 Filter -- 6.1 Die Grenzwellenlänge des Filters λc -- 6.2 Gaußfilter nach DIN EN ISO 16610-21:2013-06 -- 6.3 Analoge Filter (2RC-Filter) -- 6.4 Sonderfilter nach Normenreihe DIN EN ISO 13565 (Rk) -- 7 Messunsicherheit -- 7.1 Theorie -- 7.1.1 Mathematisches Modell -- 7.1.2 Filterfaktor c</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">7.1.3 Unsicherheit der gemittelten Rautiefe Rz -- 7.2 Unsicherheitsbeiträge -- 7.2.1 Vorschub und Schwingungsisolierung -- 7.2.2 Tastsystem -- 7.2.3 Unbekannte systematische Abweichungen -- 7.2.4 Streuung der Messwerte s(Rz) -- 7.3 Messunsicherheitsbudget -- 8 Zeichnungseintragungen -- 8.1 Regeln nach DIN EN ISO 1302:2002-08 -- 8.1.1 Symbole für die Oberflächenbeschaffenheit -- 8.1.2 Oberflächenbeschaffenheit am vollständigen Symbol -- 8.1.3 Bearbeitungsverfahren -- 8.1.4 Übertragungscharakteristik und Einzelmessstrecke -- 8.1.5 Oberflächenrillenrichtung -- 8.1.6 Bearbeitungszugabe -- 8.1.7 Lage und Ausrichtung der Symbole -- 8.1.8 Vereinfachte Zeichnungseintragung -- 8.1.9 Ausblick ISO 21920 - Zeichnungseintragungen -- 9 DIN-Normen und VDI-Richtlinien -- 9.1 Technische Oberflächen -- 9.1.1 Entwicklung -- 9.1.2 Konstruktion -- 9.1.3 Fertigung -- 9.1.4 Qualitätsprüfung -- 9.2 Weiterentwicklung der Normung -- 9.2.1 ISO 21920 Profilnorm -- 9.2.2 Neue Filterverfahren -- 9.2.3 Unterschiedliche Interpretationen beim Rmax und Rz1max -- 9.3 Anleitungen zur Ermittlung der Messunsicherheit -- 9.4 Normen und Richtlinien aus angrenzenden Bereichen -- 10 Literatur -- 10.1 Entwicklung der Oberflächenmesstechnik -- 10.2 Standardwerke -- 10.2.1 Bodschwinna -- Hillmann (1992) -- 10.2.2 Whitehouse (1994) -- 10.2.3 Thomas (1999) -- 10.2.4 Leach (2013) -- Abkürzungsverzeichnis -- Stichwortverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="650" 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Bremen</subfield><subfield code="k"><br><b><a href="https://elib.suub.uni-bremen.de/ebooks/proquest.html" Target="_blank">Wie kann ich <font color="#ff0000">das E-Book nutzen?</font></a></b></subfield><subfield code="y">zza</subfield><subfield code="z">06-08-18</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">118</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3329</subfield><subfield code="b">3660646563</subfield><subfield code="h">OLR-Proquest Holding</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff HSA - Vervielfältigungen (z.B. 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Rauheitsmessung Theorie und Praxis |
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Rauheitsmessung -- Impressum / Copyright -- Über den Autor -- Vorwort -- Inhalt -- 1 Einführung -- 2 Oberflächen -- 2.1 Funktion einer Oberfläche -- 2.2 Einfluss des Fertigungsverfahrens -- 2.3 Prüfmittel für die Oberflächenrauheit -- 2.4 Herstellung von Oberflächen -- 2.5 Die Oberfläche als komplexes Gebilde -- 2.6 Unterscheidung von Oberflächenunregelmäßigkeiten -- 3 Oberflächenkenngrößen -- 3.1 Bedeutung der Kenngrößen -- 3.1.1 Wichtige aktuelle Kenngrößen -- 3.1.2 Neue Kenngrößen -- 3.1.3 Weniger gebräuchliche Kenngrößen -- 3.2 Verwechslungsgefahren -- 3.3 Übersicht über die Kenngrößen -- 3.4 Rauheitskenngrößen -- 3.4.1 Ra - Arithmetischer Mittenrauwert -- 3.4.2 Rq - Quadratischer Mittenrauwert -- 3.4.3 Rz - Gemittelte Rautiefe -- Rmax - Maximale Rautiefe -- 3.4.4 R3z - Grundrautiefe -- 3.4.5 Rz(ISO) - Zehnpunktehöhe -- Ry - Maximale Rautiefe (alt) -- 3.4.6 Rp - Mittlere Glättungstiefe -- Rv - Mittlere Riefentiefe -- 3.5 Welligkeitskenngrößen -- 3.5.1 Wt - Wellentiefe -- 3.5.2 WDSm - Dominante Wellenlänge -- 3.6 Oberflächenkenngrößen für das Gesamtprofil -- 3.6.1 Pt - Profiltiefe -- 3.7 Distanzkenngrößen (Horizontalkenngrößen) -- 3.7.1 RPc - Normierte Spitzenzahl -- D - Dichte -- 3.7.2 RSm - Mittlerer Rillenabstand -- 3.8 Zusammengesetzte Kenngrößen (Länge und Tiefe) -- 3.8.1 Rmr(c), Pmr(c) - Materialanteil des Profils -- 3.8.2 Rk - Kernrautiefe -- Rpk - Reduzierte Spitzenhöhe -- Rvk - Reduzierte Riefentiefe -- Mr1 - Kleinster Materialanteil -- Mr2 - Größter Materialanteil -- 3.8.3 RΔq - Quadratischer Mittelwert der Profilsteigung -- 3.8.4 L0 - Gestreckte Länge des Profils (nicht genormt) -- 3.8.5 LR - Profillängenverhältnis -- 3.9 Motifkenngrößen -- R - Mittlere Tiefe der Rauheitsmotifs -- Rx - Maximale Tiefe der Profilunregelmäßigkeit -- W - Mittlere Tiefe der Welligkeitsmotifs Wx - Maximale Tiefe der Welligkeitsmotifs -- AR - Mittlere Teilung der Rauheitsmotifs -- AW - Mittlere Länge der Welligkeitsmotifs -- Wte - Gesamttiefe der Welligkeit -- 3.10 Statistische Kenngrößen -- 3.10.1 Die Oberfläche aus statistischer Sicht -- 3.10.2 Rsk - Schiefe des Profils -- 3.10.3 Rku - Steilheit des Profils -- 3.10.4 AKF - Die Autokorrelationsfunktion -- 3.10.5 Fourier-Analyse (nicht genormt) -- 3.11 Dreidimensionale Analyse der Oberfläche -- 3.11.1 Drall-Kenngrößen -- 4 Oberflächenmessgeräte -- 4.1 Oberflächenvergleichsmuster -- 4.2 Tastschnittverfahren -- 4.2.1 Normen zu Tastschnittgeräten -- 4.2.2 Taster -- 4.2.3 Vorschubapparat -- 4.2.4 Computer -- 4.2.5 Anzeige -- 4.2.6 Dokumentation -- 4.3 Berührungslose Messung -- 4.3.1 Weißlichtsensor -- 4.3.2 Alternative Verfahren -- 5 Messtechnik -- 5.1 Oberflächenmesstechnik mit dem Tastschnittverfahren -- 5.1.1 Einstellung der Taststrecke -- 5.1.2 Wahl der Grenzwellenlänge des Filters -- 5.1.3 Formabweichungen eliminieren -- 5.1.4 Ausrichten des Profils -- 5.2 Güteklassen -- 5.3 Kalibrierung der Geräte -- 5.3.1 Kalibrierlaboratorien -- 5.4 Rauschen, Schwingungen -- 5.4.1 Gleitkufentaster -- 5.4.2 Vorschubapparat an Säulen -- 5.4.3 Messtische mit Schwingungsdämpfung -- 5.5 Temperatur -- 5.6 Einfluss von Zugluft -- 5.7 Beschädigungen am Werkstück -- 5.8 Sauberkeit -- 5.9 Einfluss von Magnetismus -- 5.10 Oberflächenabdrücke -- 5.11 Statistische Analyse der Ergebnisse -- 5.11.1 „16%-Regel" -- 5.11.2 „Höchstwert-Regel" -- 5.12 Statistische Prozesskontrolle SPC -- 6 Filter -- 6.1 Die Grenzwellenlänge des Filters λc -- 6.2 Gaußfilter nach DIN EN ISO 16610-21:2013-06 -- 6.3 Analoge Filter (2RC-Filter) -- 6.4 Sonderfilter nach Normenreihe DIN EN ISO 13565 (Rk) -- 7 Messunsicherheit -- 7.1 Theorie -- 7.1.1 Mathematisches Modell -- 7.1.2 Filterfaktor c 7.1.3 Unsicherheit der gemittelten Rautiefe Rz -- 7.2 Unsicherheitsbeiträge -- 7.2.1 Vorschub und Schwingungsisolierung -- 7.2.2 Tastsystem -- 7.2.3 Unbekannte systematische Abweichungen -- 7.2.4 Streuung der Messwerte s(Rz) -- 7.3 Messunsicherheitsbudget -- 8 Zeichnungseintragungen -- 8.1 Regeln nach DIN EN ISO 1302:2002-08 -- 8.1.1 Symbole für die Oberflächenbeschaffenheit -- 8.1.2 Oberflächenbeschaffenheit am vollständigen Symbol -- 8.1.3 Bearbeitungsverfahren -- 8.1.4 Übertragungscharakteristik und Einzelmessstrecke -- 8.1.5 Oberflächenrillenrichtung -- 8.1.6 Bearbeitungszugabe -- 8.1.7 Lage und Ausrichtung der Symbole -- 8.1.8 Vereinfachte Zeichnungseintragung -- 8.1.9 Ausblick ISO 21920 - Zeichnungseintragungen -- 9 DIN-Normen und VDI-Richtlinien -- 9.1 Technische Oberflächen -- 9.1.1 Entwicklung -- 9.1.2 Konstruktion -- 9.1.3 Fertigung -- 9.1.4 Qualitätsprüfung -- 9.2 Weiterentwicklung der Normung -- 9.2.1 ISO 21920 Profilnorm -- 9.2.2 Neue Filterverfahren -- 9.2.3 Unterschiedliche Interpretationen beim Rmax und Rz1max -- 9.3 Anleitungen zur Ermittlung der Messunsicherheit -- 9.4 Normen und Richtlinien aus angrenzenden Bereichen -- 10 Literatur -- 10.1 Entwicklung der Oberflächenmesstechnik -- 10.2 Standardwerke -- 10.2.1 Bodschwinna -- Hillmann (1992) -- 10.2.2 Whitehouse (1994) -- 10.2.3 Thomas (1999) -- 10.2.4 Leach (2013) -- Abkürzungsverzeichnis -- Stichwortverzeichnis Literaturangaben |
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Rauheitsmessung -- Impressum / Copyright -- Über den Autor -- Vorwort -- Inhalt -- 1 Einführung -- 2 Oberflächen -- 2.1 Funktion einer Oberfläche -- 2.2 Einfluss des Fertigungsverfahrens -- 2.3 Prüfmittel für die Oberflächenrauheit -- 2.4 Herstellung von Oberflächen -- 2.5 Die Oberfläche als komplexes Gebilde -- 2.6 Unterscheidung von Oberflächenunregelmäßigkeiten -- 3 Oberflächenkenngrößen -- 3.1 Bedeutung der Kenngrößen -- 3.1.1 Wichtige aktuelle Kenngrößen -- 3.1.2 Neue Kenngrößen -- 3.1.3 Weniger gebräuchliche Kenngrößen -- 3.2 Verwechslungsgefahren -- 3.3 Übersicht über die Kenngrößen -- 3.4 Rauheitskenngrößen -- 3.4.1 Ra - Arithmetischer Mittenrauwert -- 3.4.2 Rq - Quadratischer Mittenrauwert -- 3.4.3 Rz - Gemittelte Rautiefe -- Rmax - Maximale Rautiefe -- 3.4.4 R3z - Grundrautiefe -- 3.4.5 Rz(ISO) - Zehnpunktehöhe -- Ry - Maximale Rautiefe (alt) -- 3.4.6 Rp - Mittlere Glättungstiefe -- Rv - Mittlere Riefentiefe -- 3.5 Welligkeitskenngrößen -- 3.5.1 Wt - Wellentiefe -- 3.5.2 WDSm - Dominante Wellenlänge -- 3.6 Oberflächenkenngrößen für das Gesamtprofil -- 3.6.1 Pt - Profiltiefe -- 3.7 Distanzkenngrößen (Horizontalkenngrößen) -- 3.7.1 RPc - Normierte Spitzenzahl -- D - Dichte -- 3.7.2 RSm - Mittlerer Rillenabstand -- 3.8 Zusammengesetzte Kenngrößen (Länge und Tiefe) -- 3.8.1 Rmr(c), Pmr(c) - Materialanteil des Profils -- 3.8.2 Rk - Kernrautiefe -- Rpk - Reduzierte Spitzenhöhe -- Rvk - Reduzierte Riefentiefe -- Mr1 - Kleinster Materialanteil -- Mr2 - Größter Materialanteil -- 3.8.3 RΔq - Quadratischer Mittelwert der Profilsteigung -- 3.8.4 L0 - Gestreckte Länge des Profils (nicht genormt) -- 3.8.5 LR - Profillängenverhältnis -- 3.9 Motifkenngrößen -- R - Mittlere Tiefe der Rauheitsmotifs -- Rx - Maximale Tiefe der Profilunregelmäßigkeit -- W - Mittlere Tiefe der Welligkeitsmotifs Wx - Maximale Tiefe der Welligkeitsmotifs -- AR - Mittlere Teilung der Rauheitsmotifs -- AW - Mittlere Länge der Welligkeitsmotifs -- Wte - Gesamttiefe der Welligkeit -- 3.10 Statistische Kenngrößen -- 3.10.1 Die Oberfläche aus statistischer Sicht -- 3.10.2 Rsk - 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Zeichnungseintragungen -- 9 DIN-Normen und VDI-Richtlinien -- 9.1 Technische Oberflächen -- 9.1.1 Entwicklung -- 9.1.2 Konstruktion -- 9.1.3 Fertigung -- 9.1.4 Qualitätsprüfung -- 9.2 Weiterentwicklung der Normung -- 9.2.1 ISO 21920 Profilnorm -- 9.2.2 Neue Filterverfahren -- 9.2.3 Unterschiedliche Interpretationen beim Rmax und Rz1max -- 9.3 Anleitungen zur Ermittlung der Messunsicherheit -- 9.4 Normen und Richtlinien aus angrenzenden Bereichen -- 10 Literatur -- 10.1 Entwicklung der Oberflächenmesstechnik -- 10.2 Standardwerke -- 10.2.1 Bodschwinna -- Hillmann (1992) -- 10.2.2 Whitehouse (1994) -- 10.2.3 Thomas (1999) -- 10.2.4 Leach (2013) -- Abkürzungsverzeichnis -- Stichwortverzeichnis Literaturangaben |
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Rauheitsmessung -- Impressum / Copyright -- Über den Autor -- Vorwort -- Inhalt -- 1 Einführung -- 2 Oberflächen -- 2.1 Funktion einer Oberfläche -- 2.2 Einfluss des Fertigungsverfahrens -- 2.3 Prüfmittel für die Oberflächenrauheit -- 2.4 Herstellung von Oberflächen -- 2.5 Die Oberfläche als komplexes Gebilde -- 2.6 Unterscheidung von Oberflächenunregelmäßigkeiten -- 3 Oberflächenkenngrößen -- 3.1 Bedeutung der Kenngrößen -- 3.1.1 Wichtige aktuelle Kenngrößen -- 3.1.2 Neue Kenngrößen -- 3.1.3 Weniger gebräuchliche Kenngrößen -- 3.2 Verwechslungsgefahren -- 3.3 Übersicht über die Kenngrößen -- 3.4 Rauheitskenngrößen -- 3.4.1 Ra - Arithmetischer Mittenrauwert -- 3.4.2 Rq - Quadratischer Mittenrauwert -- 3.4.3 Rz - Gemittelte Rautiefe -- Rmax - Maximale Rautiefe -- 3.4.4 R3z - Grundrautiefe -- 3.4.5 Rz(ISO) - Zehnpunktehöhe -- Ry - Maximale Rautiefe (alt) -- 3.4.6 Rp - Mittlere Glättungstiefe -- Rv - Mittlere Riefentiefe -- 3.5 Welligkeitskenngrößen -- 3.5.1 Wt - Wellentiefe -- 3.5.2 WDSm - 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2.5 Die Oberfläche als komplexes Gebilde -- 2.6 Unterscheidung von Oberflächenunregelmäßigkeiten -- 3 Oberflächenkenngrößen -- 3.1 Bedeutung der Kenngrößen -- 3.1.1 Wichtige aktuelle Kenngrößen -- 3.1.2 Neue Kenngrößen -- 3.1.3 Weniger gebräuchliche Kenngrößen -- 3.2 Verwechslungsgefahren -- 3.3 Übersicht über die Kenngrößen -- 3.4 Rauheitskenngrößen -- 3.4.1 Ra - Arithmetischer Mittenrauwert -- 3.4.2 Rq - Quadratischer Mittenrauwert -- 3.4.3 Rz - Gemittelte Rautiefe -- Rmax - Maximale Rautiefe -- 3.4.4 R3z - Grundrautiefe -- 3.4.5 Rz(ISO) - Zehnpunktehöhe -- Ry - Maximale Rautiefe (alt) -- 3.4.6 Rp - Mittlere Glättungstiefe -- Rv - Mittlere Riefentiefe -- 3.5 Welligkeitskenngrößen -- 3.5.1 Wt - Wellentiefe -- 3.5.2 WDSm - Dominante Wellenlänge -- 3.6 Oberflächenkenngrößen für das Gesamtprofil -- 3.6.1 Pt - Profiltiefe -- 3.7 Distanzkenngrößen (Horizontalkenngrößen) -- 3.7.1 RPc - Normierte Spitzenzahl -- D - Dichte -- 3.7.2 RSm - Mittlerer Rillenabstand -- 3.8 Zusammengesetzte Kenngrößen (Länge und Tiefe) -- 3.8.1 Rmr(c), Pmr(c) - Materialanteil des Profils -- 3.8.2 Rk - Kernrautiefe -- Rpk - Reduzierte Spitzenhöhe -- Rvk - Reduzierte Riefentiefe -- Mr1 - Kleinster Materialanteil -- Mr2 - Größter Materialanteil -- 3.8.3 RΔq - Quadratischer Mittelwert der Profilsteigung -- 3.8.4 L0 - Gestreckte Länge des Profils (nicht genormt) -- 3.8.5 LR - Profillängenverhältnis -- 3.9 Motifkenngrößen -- R - Mittlere Tiefe der Rauheitsmotifs -- Rx - Maximale Tiefe der Profilunregelmäßigkeit -- W - Mittlere Tiefe der Welligkeitsmotifs</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Wx - Maximale Tiefe der Welligkeitsmotifs -- AR - Mittlere Teilung der Rauheitsmotifs -- AW - Mittlere Länge der Welligkeitsmotifs -- Wte - Gesamttiefe der Welligkeit -- 3.10 Statistische Kenngrößen -- 3.10.1 Die Oberfläche aus statistischer Sicht -- 3.10.2 Rsk - Schiefe des Profils -- 3.10.3 Rku - Steilheit des Profils -- 3.10.4 AKF - Die Autokorrelationsfunktion -- 3.10.5 Fourier-Analyse (nicht genormt) -- 3.11 Dreidimensionale Analyse der Oberfläche -- 3.11.1 Drall-Kenngrößen -- 4 Oberflächenmessgeräte -- 4.1 Oberflächenvergleichsmuster -- 4.2 Tastschnittverfahren -- 4.2.1 Normen zu Tastschnittgeräten -- 4.2.2 Taster -- 4.2.3 Vorschubapparat -- 4.2.4 Computer -- 4.2.5 Anzeige -- 4.2.6 Dokumentation -- 4.3 Berührungslose Messung -- 4.3.1 Weißlichtsensor -- 4.3.2 Alternative Verfahren -- 5 Messtechnik -- 5.1 Oberflächenmesstechnik mit dem Tastschnittverfahren -- 5.1.1 Einstellung der Taststrecke -- 5.1.2 Wahl der Grenzwellenlänge des Filters -- 5.1.3 Formabweichungen eliminieren -- 5.1.4 Ausrichten des Profils -- 5.2 Güteklassen -- 5.3 Kalibrierung der Geräte -- 5.3.1 Kalibrierlaboratorien -- 5.4 Rauschen, Schwingungen -- 5.4.1 Gleitkufentaster -- 5.4.2 Vorschubapparat an Säulen -- 5.4.3 Messtische mit Schwingungsdämpfung -- 5.5 Temperatur -- 5.6 Einfluss von Zugluft -- 5.7 Beschädigungen am Werkstück -- 5.8 Sauberkeit -- 5.9 Einfluss von Magnetismus -- 5.10 Oberflächenabdrücke -- 5.11 Statistische Analyse der Ergebnisse -- 5.11.1 „16%-Regel" -- 5.11.2 „Höchstwert-Regel" -- 5.12 Statistische Prozesskontrolle SPC -- 6 Filter -- 6.1 Die Grenzwellenlänge des Filters λc -- 6.2 Gaußfilter nach DIN EN ISO 16610-21:2013-06 -- 6.3 Analoge Filter (2RC-Filter) -- 6.4 Sonderfilter nach Normenreihe DIN EN ISO 13565 (Rk) -- 7 Messunsicherheit -- 7.1 Theorie -- 7.1.1 Mathematisches Modell -- 7.1.2 Filterfaktor c</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">7.1.3 Unsicherheit der gemittelten Rautiefe Rz -- 7.2 Unsicherheitsbeiträge -- 7.2.1 Vorschub und Schwingungsisolierung -- 7.2.2 Tastsystem -- 7.2.3 Unbekannte systematische Abweichungen -- 7.2.4 Streuung der Messwerte s(Rz) -- 7.3 Messunsicherheitsbudget -- 8 Zeichnungseintragungen -- 8.1 Regeln nach DIN EN ISO 1302:2002-08 -- 8.1.1 Symbole für die Oberflächenbeschaffenheit -- 8.1.2 Oberflächenbeschaffenheit am vollständigen Symbol -- 8.1.3 Bearbeitungsverfahren -- 8.1.4 Übertragungscharakteristik und Einzelmessstrecke -- 8.1.5 Oberflächenrillenrichtung -- 8.1.6 Bearbeitungszugabe -- 8.1.7 Lage und Ausrichtung der Symbole -- 8.1.8 Vereinfachte Zeichnungseintragung -- 8.1.9 Ausblick ISO 21920 - Zeichnungseintragungen -- 9 DIN-Normen und VDI-Richtlinien -- 9.1 Technische Oberflächen -- 9.1.1 Entwicklung -- 9.1.2 Konstruktion -- 9.1.3 Fertigung -- 9.1.4 Qualitätsprüfung -- 9.2 Weiterentwicklung der Normung -- 9.2.1 ISO 21920 Profilnorm -- 9.2.2 Neue Filterverfahren -- 9.2.3 Unterschiedliche Interpretationen beim Rmax und Rz1max -- 9.3 Anleitungen zur Ermittlung der Messunsicherheit -- 9.4 Normen und Richtlinien aus angrenzenden Bereichen -- 10 Literatur -- 10.1 Entwicklung der Oberflächenmesstechnik -- 10.2 Standardwerke -- 10.2.1 Bodschwinna -- Hillmann (1992) -- 10.2.2 Whitehouse (1994) -- 10.2.3 Thomas (1999) -- 10.2.4 Leach (2013) -- Abkürzungsverzeichnis -- Stichwortverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Surfaces (Technology)-Analysis..</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Surface roughness</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Surfaces (Technology) ; Analysis</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Surfaces (Technology)-Analysis.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Surface roughness</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Electronic books</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Deutsches Institut für Normung</subfield><subfield code="e">HerausgeberIn</subfield><subfield code="0">(DE-588)1030066-1</subfield><subfield code="0">(DE-627)103726543</subfield><subfield code="0">(DE-576)191320846</subfield><subfield code="4">edt</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield 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code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="u">http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=3fc8b5b03d474e14b767759bf28117fd&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm</subfield><subfield code="m">X:MVB</subfield><subfield code="q">text/html</subfield><subfield code="3">Inhaltstext</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="u">https://external.dandelon.com/download/attachments/dandelon/ids/DE00131E5F891055D6B38C12582D000425955.pdf</subfield><subfield code="m">V:DE-601</subfield><subfield code="m">X:AGI</subfield><subfield code="q">pdf/</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">BSZ-30-PQE-MABEAK</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">BSZ-30-PQE-S2AAFH</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZDB-30-PQE</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield 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Bremen</subfield><subfield code="k"><br><b><a href="https://elib.suub.uni-bremen.de/ebooks/proquest.html" Target="_blank">Wie kann ich <font color="#ff0000">das E-Book nutzen?</font></a></b></subfield><subfield code="y">zza</subfield><subfield code="z">06-08-18</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">118</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3329</subfield><subfield code="b">3660646563</subfield><subfield code="h">OLR-Proquest Holding</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff HSA - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z1</subfield><subfield code="z">06-05-20</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">122</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0897</subfield><subfield code="b">3481823452</subfield><subfield code="h">ACQ</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">06-06-19</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">140</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0839</subfield><subfield code="b">348182369X</subfield><subfield code="h">ACQ</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">06-06-19</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">152</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3405</subfield><subfield code="b">3497121118</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">Online</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">g</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">Proquest DDA</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">k</subfield><subfield code="z">25-07-19</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">264</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3264</subfield><subfield code="b">3481821573</subfield><subfield code="h">ACQ</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">06-06-19</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">370</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">4370</subfield><subfield code="b">3976599875</subfield><subfield code="h">olr-dda ebc</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. 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