Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen : Simulation mit PSPICE
Halbleiterdioden -- Bipolartransistoren -- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren -- Mos-Feldeffekttransisotoren -- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor -- Operationsverstärker -- Optokoppler.
Gespeichert in:
| Autor*in: |
Baumann, Peter [verfasserIn] |
|---|
| Format: |
E-Book |
|---|---|
| Sprache: |
Deutsch |
| Erschienen: |
Wiesbaden: Springer Vieweg ; 2012 |
|---|
| Schlagwörter: | |
|---|---|
| Schlagwörter: | |
| Formangabe: |
Lehrbuch |
| Systematik: |
|
|---|
| Anmerkung: |
Description based upon print version of record |
|---|---|
| Umfang: |
Online-Ressource (IX, 135 S. 153 Abb, digital) |
| Weitere Ausgabe: |
Buchausg. u.d.T. Baumann, Peter: Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen - Wiesbaden : Springer Vieweg, 2012 |
|---|
| Reihe: |
SpringerLink ; Bücher |
|---|
| Links: |
Link aufrufen |
|---|---|
| ISBN: |
978-3-8348-2495-0 |
| DOI / URN: |
10.1007/978-3-8348-2495-0 |
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| 505 | 8 | 0 | |a 1.5 Modellparameter der Z-Diode 1N 7501.5.1 Z-Kennlinie und differentieller Z-Widerstand; 1.5.2 Extraktion von BV und IBV; 2 Bipolartransistoren; 2.1 Großsignalmodell; 2.2 Extraktion statischer Modellparameter; 2.2.1 Kennlinien bei UCB = 0; 2.2.2 Parameterextraktion von NF, IS, NE und ISE; 2.2.3 Abschätzung von BF und IKF; 2.2.4 Ermittlung der EARLY-Spannung VAF; 2.2.5 Ermittlung des Kollektorbahnwiderstandes RC; 2.3 Extraktion dynamischer Modellparameter; 2.3.1 Kapazitätsparameter; 2.3.2 Kleinsignalmodell; 2.3.3 Maximale stabile Leistungsverstärkung |
| 505 | 8 | 0 | |a 2.3.4 Extraktion von CJC, RB und TF über die Leistungsverstärkungen2.3.5 Modellparameter zur Transitfrequenz; 3 Sperrschicht-Feldeffekttransistoren; 3.1 Großsignalmodell; 3.2 Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien; 3.2.1 Ermittlung von Schwellspannung und Transkonduktanz; 3.2.2 Ermittlung der Bahnwiderstände; 3.3 Kleinsignalmodell; 3.4 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 3.4.1 Berechnung; 3.4.2 Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung; 3.4.3 Extraktion von Modellparametern; 3.5 Ermittlung des Funkelrauschkoeffizienten; 4 MOS-Feldeffekttransistoren; 4.1 Großsignalmodell |
| 505 | 8 | 0 | |a 4.2 Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien4.3 Kleinsignalmodelle von MOSFET; 4.4 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 4.4.1 Berechnung für UBS = 0; 4.4.2 Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung; 4.4.3 Extraktion von Modellparametern über vps; 5 Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor; 5.1 Modellparameter des Leistungs-MOSFET IRF 150; 5.2 Extraktion der Modellparameter; 5.2.1 Statische Modellparameter; 5.2.2 Vierpol-Kapazitäten; 5.2.3 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 6 Operationsverstärker; 6.1 Aufbau und Hauptkenngrößen; 6.2 Gleichstrom-Modelle |
| 505 | 8 | 0 | |a 6.2.1 Analysen zu den Makromodellen6.2.2 Erzeugung der linearen Gleichstrom-Modelle; 6.3 Kleinsignal-HF-Modelle; 6.3.1 Frequenzanalysen am Makromodell; 6.3.2 Erzeugung der HF-Modelle; 7 Optokoppler; 7.1 Prinzipschaltung und elektrische Kenngrößen; 7.2 Parameterextraktion zur LED; 7.2.1 Extraktion von Parametern aus Strom-Spannungs-Kennlinien; 7.2.2 Extraktion von Parametern aus der Kapaziätskennlinie; 7.2.3 Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit; 7.3 Parameterextraktion zum Fototransistor; 7.3.1 Extraktion von Parametern aus StromSpannungs-Kennlinien |
| 505 | 8 | 0 | |a 7.3.2 Extraktion der Early-Spannung aus dem Ausgangskennlinienfeld |
| 505 | 8 | 0 | |a Vorwort; Inhaltsverzeichnis; 1 Halbleiterdioden; 1.1 Dioden-Modell; 1.2 Statische Modellparameter der Schaltdiode 1N 4148; 1.2.1 Simulation der Durchlasskennlinie; 1.2.2 Parameterextraktion über MODEL EDITOR; 1.2.3 Auswertung mit Gleichungen; 1.3 Transitzeit der Schaltdiode 1N 4148; 1.3.1 Simulationsschaltung; 1.3.2 Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit; 1.4 Modellparameter der Kapazitätsdiode; 1.4.1 Kapazitätskennlinie; 1.4.2 Parameterextraktion über MODEL EDITOR; 1.4.3 Rechnerische Auswertung; 1.4.4 Grafisches Ermittlungsverfahren; 1.4.5 Simulation der Kapazitätskennlinie |
| 520 | |a Halbleiterdioden -- Bipolartransistoren -- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren -- Mos-Feldeffekttransisotoren -- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor -- Operationsverstärker -- Optokoppler. | ||
| 520 | |a Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Der Inhalt Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen. | ||
| 650 | 0 | |a Computer engineering | |
| 650 | 0 | |a Production of electric energy or power | |
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| 776 | 0 | 8 | |i Buchausg. u.d.T. |a Baumann, Peter |t Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen |d Wiesbaden : Springer Vieweg, 2012 |h IX, 135 S. |w (DE-627)726932426 |w (DE-576)372379060 |z 3834824941 |z 9783834824943 |
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1.5 Modellparameter der Z-Diode 1N 7501.5.1 Z-Kennlinie und differentieller Z-Widerstand; 1.5.2 Extraktion von BV und IBV; 2 Bipolartransistoren; 2.1 Großsignalmodell; 2.2 Extraktion statischer Modellparameter; 2.2.1 Kennlinien bei UCB = 0; 2.2.2 Parameterextraktion von NF, IS, NE und ISE; 2.2.3 Abschätzung von BF und IKF; 2.2.4 Ermittlung der EARLY-Spannung VAF; 2.2.5 Ermittlung des Kollektorbahnwiderstandes RC; 2.3 Extraktion dynamischer Modellparameter; 2.3.1 Kapazitätsparameter; 2.3.2 Kleinsignalmodell; 2.3.3 Maximale stabile Leistungsverstärkung 2.3.4 Extraktion von CJC, RB und TF über die Leistungsverstärkungen2.3.5 Modellparameter zur Transitfrequenz; 3 Sperrschicht-Feldeffekttransistoren; 3.1 Großsignalmodell; 3.2 Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien; 3.2.1 Ermittlung von Schwellspannung und Transkonduktanz; 3.2.2 Ermittlung der Bahnwiderstände; 3.3 Kleinsignalmodell; 3.4 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 3.4.1 Berechnung; 3.4.2 Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung; 3.4.3 Extraktion von Modellparametern; 3.5 Ermittlung des Funkelrauschkoeffizienten; 4 MOS-Feldeffekttransistoren; 4.1 Großsignalmodell 4.2 Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien4.3 Kleinsignalmodelle von MOSFET; 4.4 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 4.4.1 Berechnung für UBS = 0; 4.4.2 Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung; 4.4.3 Extraktion von Modellparametern über vps; 5 Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor; 5.1 Modellparameter des Leistungs-MOSFET IRF 150; 5.2 Extraktion der Modellparameter; 5.2.1 Statische Modellparameter; 5.2.2 Vierpol-Kapazitäten; 5.2.3 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 6 Operationsverstärker; 6.1 Aufbau und Hauptkenngrößen; 6.2 Gleichstrom-Modelle 6.2.1 Analysen zu den Makromodellen6.2.2 Erzeugung der linearen Gleichstrom-Modelle; 6.3 Kleinsignal-HF-Modelle; 6.3.1 Frequenzanalysen am Makromodell; 6.3.2 Erzeugung der HF-Modelle; 7 Optokoppler; 7.1 Prinzipschaltung und elektrische Kenngrößen; 7.2 Parameterextraktion zur LED; 7.2.1 Extraktion von Parametern aus Strom-Spannungs-Kennlinien; 7.2.2 Extraktion von Parametern aus der Kapaziätskennlinie; 7.2.3 Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit; 7.3 Parameterextraktion zum Fototransistor; 7.3.1 Extraktion von Parametern aus StromSpannungs-Kennlinien 7.3.2 Extraktion der Early-Spannung aus dem Ausgangskennlinienfeld Vorwort; Inhaltsverzeichnis; 1 Halbleiterdioden; 1.1 Dioden-Modell; 1.2 Statische Modellparameter der Schaltdiode 1N 4148; 1.2.1 Simulation der Durchlasskennlinie; 1.2.2 Parameterextraktion über MODEL EDITOR; 1.2.3 Auswertung mit Gleichungen; 1.3 Transitzeit der Schaltdiode 1N 4148; 1.3.1 Simulationsschaltung; 1.3.2 Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit; 1.4 Modellparameter der Kapazitätsdiode; 1.4.1 Kapazitätskennlinie; 1.4.2 Parameterextraktion über MODEL EDITOR; 1.4.3 Rechnerische Auswertung; 1.4.4 Grafisches Ermittlungsverfahren; 1.4.5 Simulation der Kapazitätskennlinie |
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Baumann, Peter |
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Simulation mit PSPICE |
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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Simulation mit PSPICE |
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Halbleiterdioden -- Bipolartransistoren -- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren -- Mos-Feldeffekttransisotoren -- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor -- Operationsverstärker -- Optokoppler. Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Der Inhalt Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen. Description based upon print version of record |
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Halbleiterdioden -- Bipolartransistoren -- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren -- Mos-Feldeffekttransisotoren -- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor -- Operationsverstärker -- Optokoppler. Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Der Inhalt Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen. Description based upon print version of record |
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Halbleiterdioden -- Bipolartransistoren -- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren -- Mos-Feldeffekttransisotoren -- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor -- Operationsverstärker -- Optokoppler. Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Der Inhalt Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen. Description based upon print version of record |
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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Der Inhalt Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen. Computer engineering Production of electric energy or power Engineering Microwaves Electronics Power electronics. Microelectronics. Optical engineering. Electrical engineering. Electronic circuits. Engineering Computer engineering Microwaves Electronics Production of electric energy or power Lehrbuch (DE-588)4123623-3 (DE-627)104270187 (DE-576)209561262 gnd-content s (DE-588)4113826-0 (DE-627)105826618 (DE-576)209479655 Halbleiterbauelement gnd s (DE-588)4237438-8 (DE-627)104583533 (DE-576)210405120 SPICE Programm gnd DE-101 s (DE-588)4113826-0 (DE-627)105826618 (DE-576)209479655 Halbleiterbauelement gnd s (DE-588)4237438-8 (DE-627)104583533 (DE-576)210405120 SPICE Programm gnd (DE-627) 9783834824943 Buchausg. u.d.T. Baumann, Peter Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Wiesbaden : Springer Vieweg, 2012 IX, 135 S. (DE-627)726932426 (DE-576)372379060 3834824941 9783834824943 https://doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0 X:SPRINGER Verlag Volltext http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0 Resolving-System lizenzpflichtig Volltext https://swbplus.bsz-bw.de/bsz372049702cov.jpg V:DE-576 X:springer image/jpeg 20140212102840 Cover http://d-nb.info/1026221730/04 B:DE-101 application/pdf 2013-05-01 Verlag Inhaltsverzeichnis http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=4127544&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm X: MVB text/html 2013-05-01 Verlag Inhaltstext (DE-627)728219344 ZDB-2-SEB ZDB-2-STI 2012 GBV_ILN_20 ISIL_DE-84 SYSFLAG_1 GBV_KXP GBV_ILN_21 ISIL_DE-46 GBV_ILN_22 ISIL_DE-18 GBV_ILN_23 ISIL_DE-830 GBV_ILN_30 ISIL_DE-104 GBV_ILN_31 ISIL_DE-27 GBV_ILN_34 ISIL_DE-18-302 GBV_ILN_40 ISIL_DE-7 GBV_ILN_60 ISIL_DE-705 GBV_ILN_62 ISIL_DE-28 GBV_ILN_69 ISIL_DE-9 GBV_ILN_70 ISIL_DE-89 GBV_ILN_91 ISIL_DE-HIL3 GBV_ILN_95 ISIL_DE-542 GBV_ILN_100 ISIL_DE-Ma9 GBV_ILN_101 ISIL_DE-Ma14 GBV_ILN_105 ISIL_DE-841 GBV_ILN_110 ISIL_DE-Luen4 GBV_ILN_118 ISIL_DE-Kt1 GBV_ILN_120 ISIL_DE-715 GBV_ILN_122 ISIL_DE-897 GBV_ILN_130 ISIL_DE-700 GBV_ILN_132 ISIL_DE-959 GBV_ILN_136 ISIL_DE-Wis1 GBV_ILN_140 ISIL_DE-839 GBV_ILN_160 ISIL_DE-755 GBV_ILN_161 ISIL_DE-960 GBV_ILN_164 ISIL_DE-916 GBV_ILN_185 ISIL_DE-Sra5 GBV_ILN_186 ISIL_DE-519 GBV_ILN_187 ISIL_DE-Ki95 GBV_ILN_213 ISIL_DE-551 GBV_ILN_230 ISIL_DE-552 GBV_ILN_231 ISIL_DE-527 GBV_ILN_264 ISIL_DE-897-1 GBV_ILN_285 ISIL_DE-517 GBV_ILN_293 ISIL_DE-960-3 GBV_ILN_370 ISIL_DE-1373 GBV_ILN_736 GBV_ILN_2003 ISIL_DE-25 GBV_ILN_2005 ISIL_DE-291 ISIL_DE-Sa16 ISIL_DE-291-415 GBV_ILN_2006 ISIL_DE-14 GBV_ILN_2007 ISIL_DE-352E GBV_ILN_2009 ISIL_DE-180 GBV_ILN_2010 ISIL_DE-15 GBV_ILN_2014 ISIL_DE-90 GBV_ILN_2015 ISIL_DE-93 GBV_ILN_2020 ISIL_DE-Ch1 GBV_ILN_2027 ISIL_DE-105 GBV_ILN_2034 ISIL_DE-Rt2 GBV_ILN_2037 ISIL_DE-747 GBV_ILN_2045 ISIL_DE-Mit1 GBV_ILN_2048 ISIL_DE-Zwi2 GBV_ILN_2050 ISIL_DE-Zi4 GBV_ILN_2055 ISIL_DE-840 GBV_ILN_2057 ISIL_DE-L189 GBV_ILN_2059 ISIL_DE-Kon4 GBV_ILN_2061 ISIL_DE-520 GBV_ILN_2063 ISIL_DE-951 GBV_ILN_2064 ISIL_DE-953 GBV_ILN_2068 ISIL_DE-Fn1 GBV_ILN_2106 ISIL_DE-Stg259 GBV_ILN_2108 ISIL_DE-991 GBV_ILN_2111 ISIL_DE-944 GBV_ILN_2112 ISIL_DE-1033 GBV_ILN_2113 ISIL_DE-753 GBV_ILN_2116 ISIL_DE-949 GBV_ILN_2118 ISIL_DE-Mh35 GBV_ILN_2119 ISIL_DE-943 GBV_ILN_2122 ISIL_DE-Vil2 GBV_ILN_2129 ISIL_DE-Ofb1 GBV_ILN_2143 ISIL_DE-Rav1 GBV_ILN_2144 ISIL_DE-955 GBV_ILN_2148 ISIL_DE-950 GBV_ILN_2149 ISIL_DE-Loer2 ISIL_DE-Loer2-1 GBV_ILN_2152 ISIL_DE-941 GBV_ILN_2153 ISIL_DE-Hed2 GBV_ILN_2159 ISIL_DE-984 GBV_ILN_2232 ISIL_DE-Stg258 GBV ExPruef ZN 5410 Halbleiterschaltungen Technik Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik Elektrische Netzwerke und Schaltungen Elektronische Schaltungen Halbleiterschaltungen (DE-627)1271558580 (DE-625)rvk/157456: (DE-576)201558580 ZN 5405 Rechnergestützter Entwurf und Berechnung elektronischer Schaltungen; Simulation Technik Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik Elektrische Netzwerke und Schaltungen Elektronische Schaltungen Rechnergestützter Entwurf und Berechnung elektronischer Schaltungen; Simulation (DE-627)1271526077 (DE-625)rvk/157455: (DE-576)201526077 53.52 Elektronische Schaltungen SEPA (DE-627)106414070 53.03 Methoden und Techniken der Elektrotechnik SEPA (DE-627)181570459 53.51 Bauelemente der Elektronik SEPA (DE-627)10641867X BO 045F 621.381 20 01 0084 1336029250 OLR-SEB CATDESC_SPR-EB z 27-10-12 21 01 0046 1336021500 Freie Nutzung im Campusnetz der Universität und der Hochschulen im Land Bremen zza 27-10-12 22 01 0018 1336024712 00 --%%-- --%%-- s --%%-- Olr-seb-tec Vervielfältigungen (z.B. 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9783834824950 978-3-8348-2495-0 10.1007/978-3-8348-2495-0 doi (DE-627)1651783268 (DE-576)372049702 (DE-599)BSZ372049702 (OCoLC)814352236 (OCoLC)1015858729 (EBP)040143503 (DE-He213)978-3-8348-2495-0 DE-627 ger DE-627 rakwb ger XA-DE TK7800-8360 TK7874-7874.9 TK7800-8360 TK7874-7874.9 TEC008070 bisacsh TJF bicssc TEC008000 bisacsh ZN 5410 SEPA rvk (DE-625)rvk/157456: ZN 5405 BVB rvk (DE-625)rvk/157455: 53.52 bkl 53.03 bkl 53.51 bkl Baumann, Peter verfasserin (DE-627)1321766041 (DE-576)251766047 aut Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Simulation mit PSPICE von Peter Baumann Wiesbaden Springer Vieweg 2012 Online-Ressource (IX, 135 S. 153 Abb, digital) Text txt rdacontent Computermedien c rdamedia Online-Ressource cr rdacarrier SpringerLink Bücher Description based upon print version of record 1.5 Modellparameter der Z-Diode 1N 7501.5.1 Z-Kennlinie und differentieller Z-Widerstand; 1.5.2 Extraktion von BV und IBV; 2 Bipolartransistoren; 2.1 Großsignalmodell; 2.2 Extraktion statischer Modellparameter; 2.2.1 Kennlinien bei UCB = 0; 2.2.2 Parameterextraktion von NF, IS, NE und ISE; 2.2.3 Abschätzung von BF und IKF; 2.2.4 Ermittlung der EARLY-Spannung VAF; 2.2.5 Ermittlung des Kollektorbahnwiderstandes RC; 2.3 Extraktion dynamischer Modellparameter; 2.3.1 Kapazitätsparameter; 2.3.2 Kleinsignalmodell; 2.3.3 Maximale stabile Leistungsverstärkung 2.3.4 Extraktion von CJC, RB und TF über die Leistungsverstärkungen2.3.5 Modellparameter zur Transitfrequenz; 3 Sperrschicht-Feldeffekttransistoren; 3.1 Großsignalmodell; 3.2 Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien; 3.2.1 Ermittlung von Schwellspannung und Transkonduktanz; 3.2.2 Ermittlung der Bahnwiderstände; 3.3 Kleinsignalmodell; 3.4 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 3.4.1 Berechnung; 3.4.2 Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung; 3.4.3 Extraktion von Modellparametern; 3.5 Ermittlung des Funkelrauschkoeffizienten; 4 MOS-Feldeffekttransistoren; 4.1 Großsignalmodell 4.2 Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien4.3 Kleinsignalmodelle von MOSFET; 4.4 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 4.4.1 Berechnung für UBS = 0; 4.4.2 Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung; 4.4.3 Extraktion von Modellparametern über vps; 5 Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor; 5.1 Modellparameter des Leistungs-MOSFET IRF 150; 5.2 Extraktion der Modellparameter; 5.2.1 Statische Modellparameter; 5.2.2 Vierpol-Kapazitäten; 5.2.3 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 6 Operationsverstärker; 6.1 Aufbau und Hauptkenngrößen; 6.2 Gleichstrom-Modelle 6.2.1 Analysen zu den Makromodellen6.2.2 Erzeugung der linearen Gleichstrom-Modelle; 6.3 Kleinsignal-HF-Modelle; 6.3.1 Frequenzanalysen am Makromodell; 6.3.2 Erzeugung der HF-Modelle; 7 Optokoppler; 7.1 Prinzipschaltung und elektrische Kenngrößen; 7.2 Parameterextraktion zur LED; 7.2.1 Extraktion von Parametern aus Strom-Spannungs-Kennlinien; 7.2.2 Extraktion von Parametern aus der Kapaziätskennlinie; 7.2.3 Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit; 7.3 Parameterextraktion zum Fototransistor; 7.3.1 Extraktion von Parametern aus StromSpannungs-Kennlinien 7.3.2 Extraktion der Early-Spannung aus dem Ausgangskennlinienfeld Vorwort; Inhaltsverzeichnis; 1 Halbleiterdioden; 1.1 Dioden-Modell; 1.2 Statische Modellparameter der Schaltdiode 1N 4148; 1.2.1 Simulation der Durchlasskennlinie; 1.2.2 Parameterextraktion über MODEL EDITOR; 1.2.3 Auswertung mit Gleichungen; 1.3 Transitzeit der Schaltdiode 1N 4148; 1.3.1 Simulationsschaltung; 1.3.2 Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit; 1.4 Modellparameter der Kapazitätsdiode; 1.4.1 Kapazitätskennlinie; 1.4.2 Parameterextraktion über MODEL EDITOR; 1.4.3 Rechnerische Auswertung; 1.4.4 Grafisches Ermittlungsverfahren; 1.4.5 Simulation der Kapazitätskennlinie Halbleiterdioden -- Bipolartransistoren -- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren -- Mos-Feldeffekttransisotoren -- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor -- Operationsverstärker -- Optokoppler. Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Der Inhalt Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen. Computer engineering Production of electric energy or power Engineering Microwaves Electronics Power electronics. Microelectronics. Optical engineering. Electrical engineering. Electronic circuits. Engineering Computer engineering Microwaves Electronics Production of electric energy or power Lehrbuch (DE-588)4123623-3 (DE-627)104270187 (DE-576)209561262 gnd-content s (DE-588)4113826-0 (DE-627)105826618 (DE-576)209479655 Halbleiterbauelement gnd s (DE-588)4237438-8 (DE-627)104583533 (DE-576)210405120 SPICE Programm gnd DE-101 s (DE-588)4113826-0 (DE-627)105826618 (DE-576)209479655 Halbleiterbauelement gnd s (DE-588)4237438-8 (DE-627)104583533 (DE-576)210405120 SPICE Programm gnd (DE-627) 9783834824943 Buchausg. u.d.T. Baumann, Peter Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Wiesbaden : Springer Vieweg, 2012 IX, 135 S. (DE-627)726932426 (DE-576)372379060 3834824941 9783834824943 https://doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0 X:SPRINGER Verlag Volltext http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0 Resolving-System lizenzpflichtig Volltext https://swbplus.bsz-bw.de/bsz372049702cov.jpg V:DE-576 X:springer image/jpeg 20140212102840 Cover http://d-nb.info/1026221730/04 B:DE-101 application/pdf 2013-05-01 Verlag Inhaltsverzeichnis http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=4127544&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm X: MVB text/html 2013-05-01 Verlag Inhaltstext (DE-627)728219344 ZDB-2-SEB ZDB-2-STI 2012 GBV_ILN_20 ISIL_DE-84 SYSFLAG_1 GBV_KXP GBV_ILN_21 ISIL_DE-46 GBV_ILN_22 ISIL_DE-18 GBV_ILN_23 ISIL_DE-830 GBV_ILN_30 ISIL_DE-104 GBV_ILN_31 ISIL_DE-27 GBV_ILN_34 ISIL_DE-18-302 GBV_ILN_40 ISIL_DE-7 GBV_ILN_60 ISIL_DE-705 GBV_ILN_62 ISIL_DE-28 GBV_ILN_69 ISIL_DE-9 GBV_ILN_70 ISIL_DE-89 GBV_ILN_91 ISIL_DE-HIL3 GBV_ILN_95 ISIL_DE-542 GBV_ILN_100 ISIL_DE-Ma9 GBV_ILN_101 ISIL_DE-Ma14 GBV_ILN_105 ISIL_DE-841 GBV_ILN_110 ISIL_DE-Luen4 GBV_ILN_118 ISIL_DE-Kt1 GBV_ILN_120 ISIL_DE-715 GBV_ILN_122 ISIL_DE-897 GBV_ILN_130 ISIL_DE-700 GBV_ILN_132 ISIL_DE-959 GBV_ILN_136 ISIL_DE-Wis1 GBV_ILN_140 ISIL_DE-839 GBV_ILN_160 ISIL_DE-755 GBV_ILN_161 ISIL_DE-960 GBV_ILN_164 ISIL_DE-916 GBV_ILN_185 ISIL_DE-Sra5 GBV_ILN_186 ISIL_DE-519 GBV_ILN_187 ISIL_DE-Ki95 GBV_ILN_213 ISIL_DE-551 GBV_ILN_230 ISIL_DE-552 GBV_ILN_231 ISIL_DE-527 GBV_ILN_264 ISIL_DE-897-1 GBV_ILN_285 ISIL_DE-517 GBV_ILN_293 ISIL_DE-960-3 GBV_ILN_370 ISIL_DE-1373 GBV_ILN_736 GBV_ILN_2003 ISIL_DE-25 GBV_ILN_2005 ISIL_DE-291 ISIL_DE-Sa16 ISIL_DE-291-415 GBV_ILN_2006 ISIL_DE-14 GBV_ILN_2007 ISIL_DE-352E GBV_ILN_2009 ISIL_DE-180 GBV_ILN_2010 ISIL_DE-15 GBV_ILN_2014 ISIL_DE-90 GBV_ILN_2015 ISIL_DE-93 GBV_ILN_2020 ISIL_DE-Ch1 GBV_ILN_2027 ISIL_DE-105 GBV_ILN_2034 ISIL_DE-Rt2 GBV_ILN_2037 ISIL_DE-747 GBV_ILN_2045 ISIL_DE-Mit1 GBV_ILN_2048 ISIL_DE-Zwi2 GBV_ILN_2050 ISIL_DE-Zi4 GBV_ILN_2055 ISIL_DE-840 GBV_ILN_2057 ISIL_DE-L189 GBV_ILN_2059 ISIL_DE-Kon4 GBV_ILN_2061 ISIL_DE-520 GBV_ILN_2063 ISIL_DE-951 GBV_ILN_2064 ISIL_DE-953 GBV_ILN_2068 ISIL_DE-Fn1 GBV_ILN_2106 ISIL_DE-Stg259 GBV_ILN_2108 ISIL_DE-991 GBV_ILN_2111 ISIL_DE-944 GBV_ILN_2112 ISIL_DE-1033 GBV_ILN_2113 ISIL_DE-753 GBV_ILN_2116 ISIL_DE-949 GBV_ILN_2118 ISIL_DE-Mh35 GBV_ILN_2119 ISIL_DE-943 GBV_ILN_2122 ISIL_DE-Vil2 GBV_ILN_2129 ISIL_DE-Ofb1 GBV_ILN_2143 ISIL_DE-Rav1 GBV_ILN_2144 ISIL_DE-955 GBV_ILN_2148 ISIL_DE-950 GBV_ILN_2149 ISIL_DE-Loer2 ISIL_DE-Loer2-1 GBV_ILN_2152 ISIL_DE-941 GBV_ILN_2153 ISIL_DE-Hed2 GBV_ILN_2159 ISIL_DE-984 GBV_ILN_2232 ISIL_DE-Stg258 GBV ExPruef ZN 5410 Halbleiterschaltungen Technik Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik Elektrische Netzwerke und Schaltungen Elektronische Schaltungen Halbleiterschaltungen (DE-627)1271558580 (DE-625)rvk/157456: (DE-576)201558580 ZN 5405 Rechnergestützter Entwurf und Berechnung elektronischer Schaltungen; Simulation Technik Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik Elektrische Netzwerke und Schaltungen Elektronische Schaltungen Rechnergestützter Entwurf und Berechnung elektronischer Schaltungen; Simulation (DE-627)1271526077 (DE-625)rvk/157455: (DE-576)201526077 53.52 Elektronische Schaltungen SEPA (DE-627)106414070 53.03 Methoden und Techniken der Elektrotechnik SEPA (DE-627)181570459 53.51 Bauelemente der Elektronik SEPA (DE-627)10641867X BO 045F 621.381 20 01 0084 1336029250 OLR-SEB CATDESC_SPR-EB z 27-10-12 21 01 0046 1336021500 Freie Nutzung im Campusnetz der Universität und der Hochschulen im Land Bremen zza 27-10-12 22 01 0018 1336024712 00 --%%-- --%%-- s --%%-- Olr-seb-tec Vervielfältigungen (z.B. 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Kein systematisches Downloaden durch Robots. zi002 27-10-12 40 01 0007 134022027X OLR-SPRINGER-STI nl xsn 22-11-12 60 01 0705 1336019239 SpringerLink Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. Nur für Angehörige der HSU: Volltextzugang von außerhalb des Campus mit Anmeldung über Shibboleth mit Ihrer Bibliothekskennung z 27-10-12 62 01 0028 1336052384 OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z 27-10-12 69 01 0009 1336031123 OLR-SEB-ZDB-2-STI Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. 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Freie Nutzung im Campusnetz der Hochschule und für registrierte Benutzer z 27-10-12 95 01 3095/1 1350613169 00 --%%-- --%%-- s --%%-- OLR-SEB Ausdruck und Kopien sind ausschließlich für den eigenen wissenschaftlichen Gebrauch gestattet z1 10-01-13 100 01 3100 1336035692 00 --%%-- --%%-- s --%%-- 09 --%%-- eBook Springer --%%-- --%%-- OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z 27-10-12 101 01 3101 1336039035 09 --%%-- eBook Springer --%%-- --%%-- OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z 27-10-12 105 01 0841 1336056312 05 --%%-- KaufEBook202103 --%%-- --%%-- OLR-ESP Campuslizenz Universität / Technische Hochschule Lübeck. - Vervielfältigungen (z.B. 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Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. k 27-10-12 136 01 3526 133602030X OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z 27-10-12 140 01 0839 1336008784 OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. z 27-10-12 160 01 0755 1400005558 olr-seb Campusweiter Zugriff (Hochschule Emden/Leer). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. 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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Der Inhalt Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen. Computer engineering Production of electric energy or power Engineering Microwaves Electronics Power electronics. Microelectronics. Optical engineering. Electrical engineering. Electronic circuits. Engineering Computer engineering Microwaves Electronics Production of electric energy or power Lehrbuch (DE-588)4123623-3 (DE-627)104270187 (DE-576)209561262 gnd-content s (DE-588)4113826-0 (DE-627)105826618 (DE-576)209479655 Halbleiterbauelement gnd s (DE-588)4237438-8 (DE-627)104583533 (DE-576)210405120 SPICE Programm gnd DE-101 s (DE-588)4113826-0 (DE-627)105826618 (DE-576)209479655 Halbleiterbauelement gnd s (DE-588)4237438-8 (DE-627)104583533 (DE-576)210405120 SPICE Programm gnd (DE-627) 9783834824943 Buchausg. u.d.T. Baumann, Peter Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Wiesbaden : Springer Vieweg, 2012 IX, 135 S. (DE-627)726932426 (DE-576)372379060 3834824941 9783834824943 https://doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0 X:SPRINGER Verlag Volltext http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0 Resolving-System lizenzpflichtig Volltext https://swbplus.bsz-bw.de/bsz372049702cov.jpg V:DE-576 X:springer image/jpeg 20140212102840 Cover http://d-nb.info/1026221730/04 B:DE-101 application/pdf 2013-05-01 Verlag Inhaltsverzeichnis http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=4127544&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm X: MVB text/html 2013-05-01 Verlag Inhaltstext (DE-627)728219344 ZDB-2-SEB ZDB-2-STI 2012 GBV_ILN_20 ISIL_DE-84 SYSFLAG_1 GBV_KXP GBV_ILN_21 ISIL_DE-46 GBV_ILN_22 ISIL_DE-18 GBV_ILN_23 ISIL_DE-830 GBV_ILN_30 ISIL_DE-104 GBV_ILN_31 ISIL_DE-27 GBV_ILN_34 ISIL_DE-18-302 GBV_ILN_40 ISIL_DE-7 GBV_ILN_60 ISIL_DE-705 GBV_ILN_62 ISIL_DE-28 GBV_ILN_69 ISIL_DE-9 GBV_ILN_70 ISIL_DE-89 GBV_ILN_91 ISIL_DE-HIL3 GBV_ILN_95 ISIL_DE-542 GBV_ILN_100 ISIL_DE-Ma9 GBV_ILN_101 ISIL_DE-Ma14 GBV_ILN_105 ISIL_DE-841 GBV_ILN_110 ISIL_DE-Luen4 GBV_ILN_118 ISIL_DE-Kt1 GBV_ILN_120 ISIL_DE-715 GBV_ILN_122 ISIL_DE-897 GBV_ILN_130 ISIL_DE-700 GBV_ILN_132 ISIL_DE-959 GBV_ILN_136 ISIL_DE-Wis1 GBV_ILN_140 ISIL_DE-839 GBV_ILN_160 ISIL_DE-755 GBV_ILN_161 ISIL_DE-960 GBV_ILN_164 ISIL_DE-916 GBV_ILN_185 ISIL_DE-Sra5 GBV_ILN_186 ISIL_DE-519 GBV_ILN_187 ISIL_DE-Ki95 GBV_ILN_213 ISIL_DE-551 GBV_ILN_230 ISIL_DE-552 GBV_ILN_231 ISIL_DE-527 GBV_ILN_264 ISIL_DE-897-1 GBV_ILN_285 ISIL_DE-517 GBV_ILN_293 ISIL_DE-960-3 GBV_ILN_370 ISIL_DE-1373 GBV_ILN_736 GBV_ILN_2003 ISIL_DE-25 GBV_ILN_2005 ISIL_DE-291 ISIL_DE-Sa16 ISIL_DE-291-415 GBV_ILN_2006 ISIL_DE-14 GBV_ILN_2007 ISIL_DE-352E GBV_ILN_2009 ISIL_DE-180 GBV_ILN_2010 ISIL_DE-15 GBV_ILN_2014 ISIL_DE-90 GBV_ILN_2015 ISIL_DE-93 GBV_ILN_2020 ISIL_DE-Ch1 GBV_ILN_2027 ISIL_DE-105 GBV_ILN_2034 ISIL_DE-Rt2 GBV_ILN_2037 ISIL_DE-747 GBV_ILN_2045 ISIL_DE-Mit1 GBV_ILN_2048 ISIL_DE-Zwi2 GBV_ILN_2050 ISIL_DE-Zi4 GBV_ILN_2055 ISIL_DE-840 GBV_ILN_2057 ISIL_DE-L189 GBV_ILN_2059 ISIL_DE-Kon4 GBV_ILN_2061 ISIL_DE-520 GBV_ILN_2063 ISIL_DE-951 GBV_ILN_2064 ISIL_DE-953 GBV_ILN_2068 ISIL_DE-Fn1 GBV_ILN_2106 ISIL_DE-Stg259 GBV_ILN_2108 ISIL_DE-991 GBV_ILN_2111 ISIL_DE-944 GBV_ILN_2112 ISIL_DE-1033 GBV_ILN_2113 ISIL_DE-753 GBV_ILN_2116 ISIL_DE-949 GBV_ILN_2118 ISIL_DE-Mh35 GBV_ILN_2119 ISIL_DE-943 GBV_ILN_2122 ISIL_DE-Vil2 GBV_ILN_2129 ISIL_DE-Ofb1 GBV_ILN_2143 ISIL_DE-Rav1 GBV_ILN_2144 ISIL_DE-955 GBV_ILN_2148 ISIL_DE-950 GBV_ILN_2149 ISIL_DE-Loer2 ISIL_DE-Loer2-1 GBV_ILN_2152 ISIL_DE-941 GBV_ILN_2153 ISIL_DE-Hed2 GBV_ILN_2159 ISIL_DE-984 GBV_ILN_2232 ISIL_DE-Stg258 GBV ExPruef ZN 5410 Halbleiterschaltungen Technik Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik Elektrische Netzwerke und Schaltungen Elektronische Schaltungen Halbleiterschaltungen (DE-627)1271558580 (DE-625)rvk/157456: (DE-576)201558580 ZN 5405 Rechnergestützter Entwurf und Berechnung elektronischer Schaltungen; Simulation Technik Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik Elektrische Netzwerke und Schaltungen Elektronische Schaltungen Rechnergestützter Entwurf und Berechnung elektronischer Schaltungen; Simulation (DE-627)1271526077 (DE-625)rvk/157455: (DE-576)201526077 53.52 Elektronische Schaltungen SEPA (DE-627)106414070 53.03 Methoden und Techniken der Elektrotechnik SEPA (DE-627)181570459 53.51 Bauelemente der Elektronik SEPA (DE-627)10641867X BO 045F 621.381 20 01 0084 1336029250 OLR-SEB CATDESC_SPR-EB z 27-10-12 21 01 0046 1336021500 Freie Nutzung im Campusnetz der Universität und der Hochschulen im Land Bremen zza 27-10-12 22 01 0018 1336024712 00 --%%-- --%%-- s --%%-- Olr-seb-tec Vervielfältigungen (z.B. 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Kein systematisches Downloaden durch Robots. zi002 27-10-12 40 01 0007 134022027X OLR-SPRINGER-STI nl xsn 22-11-12 60 01 0705 1336019239 SpringerLink Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. Nur für Angehörige der HSU: Volltextzugang von außerhalb des Campus mit Anmeldung über Shibboleth mit Ihrer Bibliothekskennung z 27-10-12 62 01 0028 1336052384 OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z 27-10-12 69 01 0009 1336031123 OLR-SEB-ZDB-2-STI Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. 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Freie Nutzung im Campusnetz der Hochschule und für registrierte Benutzer z 27-10-12 95 01 3095/1 1350613169 00 --%%-- --%%-- s --%%-- OLR-SEB Ausdruck und Kopien sind ausschließlich für den eigenen wissenschaftlichen Gebrauch gestattet z1 10-01-13 100 01 3100 1336035692 00 --%%-- --%%-- s --%%-- 09 --%%-- eBook Springer --%%-- --%%-- OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z 27-10-12 101 01 3101 1336039035 09 --%%-- eBook Springer --%%-- --%%-- OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z 27-10-12 105 01 0841 1336056312 05 --%%-- KaufEBook202103 --%%-- --%%-- OLR-ESP Campuslizenz Universität / Technische Hochschule Lübeck. - Vervielfältigungen (z.B. 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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Der Inhalt Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen. Computer engineering Production of electric energy or power Engineering Microwaves Electronics Power electronics. Microelectronics. Optical engineering. Electrical engineering. Electronic circuits. Engineering Computer engineering Microwaves Electronics Production of electric energy or power Lehrbuch (DE-588)4123623-3 (DE-627)104270187 (DE-576)209561262 gnd-content s (DE-588)4113826-0 (DE-627)105826618 (DE-576)209479655 Halbleiterbauelement gnd s (DE-588)4237438-8 (DE-627)104583533 (DE-576)210405120 SPICE Programm gnd DE-101 s (DE-588)4113826-0 (DE-627)105826618 (DE-576)209479655 Halbleiterbauelement gnd s (DE-588)4237438-8 (DE-627)104583533 (DE-576)210405120 SPICE Programm gnd (DE-627) 9783834824943 Buchausg. u.d.T. Baumann, Peter Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Wiesbaden : Springer Vieweg, 2012 IX, 135 S. (DE-627)726932426 (DE-576)372379060 3834824941 9783834824943 https://doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0 X:SPRINGER Verlag Volltext http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0 Resolving-System lizenzpflichtig Volltext https://swbplus.bsz-bw.de/bsz372049702cov.jpg V:DE-576 X:springer image/jpeg 20140212102840 Cover http://d-nb.info/1026221730/04 B:DE-101 application/pdf 2013-05-01 Verlag Inhaltsverzeichnis http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=4127544&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm X: MVB text/html 2013-05-01 Verlag Inhaltstext (DE-627)728219344 ZDB-2-SEB ZDB-2-STI 2012 GBV_ILN_20 ISIL_DE-84 SYSFLAG_1 GBV_KXP GBV_ILN_21 ISIL_DE-46 GBV_ILN_22 ISIL_DE-18 GBV_ILN_23 ISIL_DE-830 GBV_ILN_30 ISIL_DE-104 GBV_ILN_31 ISIL_DE-27 GBV_ILN_34 ISIL_DE-18-302 GBV_ILN_40 ISIL_DE-7 GBV_ILN_60 ISIL_DE-705 GBV_ILN_62 ISIL_DE-28 GBV_ILN_69 ISIL_DE-9 GBV_ILN_70 ISIL_DE-89 GBV_ILN_91 ISIL_DE-HIL3 GBV_ILN_95 ISIL_DE-542 GBV_ILN_100 ISIL_DE-Ma9 GBV_ILN_101 ISIL_DE-Ma14 GBV_ILN_105 ISIL_DE-841 GBV_ILN_110 ISIL_DE-Luen4 GBV_ILN_118 ISIL_DE-Kt1 GBV_ILN_120 ISIL_DE-715 GBV_ILN_122 ISIL_DE-897 GBV_ILN_130 ISIL_DE-700 GBV_ILN_132 ISIL_DE-959 GBV_ILN_136 ISIL_DE-Wis1 GBV_ILN_140 ISIL_DE-839 GBV_ILN_160 ISIL_DE-755 GBV_ILN_161 ISIL_DE-960 GBV_ILN_164 ISIL_DE-916 GBV_ILN_185 ISIL_DE-Sra5 GBV_ILN_186 ISIL_DE-519 GBV_ILN_187 ISIL_DE-Ki95 GBV_ILN_213 ISIL_DE-551 GBV_ILN_230 ISIL_DE-552 GBV_ILN_231 ISIL_DE-527 GBV_ILN_264 ISIL_DE-897-1 GBV_ILN_285 ISIL_DE-517 GBV_ILN_293 ISIL_DE-960-3 GBV_ILN_370 ISIL_DE-1373 GBV_ILN_736 GBV_ILN_2003 ISIL_DE-25 GBV_ILN_2005 ISIL_DE-291 ISIL_DE-Sa16 ISIL_DE-291-415 GBV_ILN_2006 ISIL_DE-14 GBV_ILN_2007 ISIL_DE-352E GBV_ILN_2009 ISIL_DE-180 GBV_ILN_2010 ISIL_DE-15 GBV_ILN_2014 ISIL_DE-90 GBV_ILN_2015 ISIL_DE-93 GBV_ILN_2020 ISIL_DE-Ch1 GBV_ILN_2027 ISIL_DE-105 GBV_ILN_2034 ISIL_DE-Rt2 GBV_ILN_2037 ISIL_DE-747 GBV_ILN_2045 ISIL_DE-Mit1 GBV_ILN_2048 ISIL_DE-Zwi2 GBV_ILN_2050 ISIL_DE-Zi4 GBV_ILN_2055 ISIL_DE-840 GBV_ILN_2057 ISIL_DE-L189 GBV_ILN_2059 ISIL_DE-Kon4 GBV_ILN_2061 ISIL_DE-520 GBV_ILN_2063 ISIL_DE-951 GBV_ILN_2064 ISIL_DE-953 GBV_ILN_2068 ISIL_DE-Fn1 GBV_ILN_2106 ISIL_DE-Stg259 GBV_ILN_2108 ISIL_DE-991 GBV_ILN_2111 ISIL_DE-944 GBV_ILN_2112 ISIL_DE-1033 GBV_ILN_2113 ISIL_DE-753 GBV_ILN_2116 ISIL_DE-949 GBV_ILN_2118 ISIL_DE-Mh35 GBV_ILN_2119 ISIL_DE-943 GBV_ILN_2122 ISIL_DE-Vil2 GBV_ILN_2129 ISIL_DE-Ofb1 GBV_ILN_2143 ISIL_DE-Rav1 GBV_ILN_2144 ISIL_DE-955 GBV_ILN_2148 ISIL_DE-950 GBV_ILN_2149 ISIL_DE-Loer2 ISIL_DE-Loer2-1 GBV_ILN_2152 ISIL_DE-941 GBV_ILN_2153 ISIL_DE-Hed2 GBV_ILN_2159 ISIL_DE-984 GBV_ILN_2232 ISIL_DE-Stg258 GBV ExPruef ZN 5410 Halbleiterschaltungen Technik Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik Elektrische Netzwerke und Schaltungen Elektronische Schaltungen Halbleiterschaltungen (DE-627)1271558580 (DE-625)rvk/157456: (DE-576)201558580 ZN 5405 Rechnergestützter Entwurf und Berechnung elektronischer Schaltungen; Simulation Technik Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik Elektrische Netzwerke und Schaltungen Elektronische Schaltungen Rechnergestützter Entwurf und Berechnung elektronischer Schaltungen; Simulation (DE-627)1271526077 (DE-625)rvk/157455: (DE-576)201526077 53.52 Elektronische Schaltungen SEPA (DE-627)106414070 53.03 Methoden und Techniken der Elektrotechnik SEPA (DE-627)181570459 53.51 Bauelemente der Elektronik SEPA (DE-627)10641867X BO 045F 621.381 20 01 0084 1336029250 OLR-SEB CATDESC_SPR-EB z 27-10-12 21 01 0046 1336021500 Freie Nutzung im Campusnetz der Universität und der Hochschulen im Land Bremen zza 27-10-12 22 01 0018 1336024712 00 --%%-- --%%-- s --%%-- Olr-seb-tec Vervielfältigungen (z.B. 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Kein systematisches Downloaden durch Robots. zi002 27-10-12 40 01 0007 134022027X OLR-SPRINGER-STI nl xsn 22-11-12 60 01 0705 1336019239 SpringerLink Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. Nur für Angehörige der HSU: Volltextzugang von außerhalb des Campus mit Anmeldung über Shibboleth mit Ihrer Bibliothekskennung z 27-10-12 62 01 0028 1336052384 OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z 27-10-12 69 01 0009 1336031123 OLR-SEB-ZDB-2-STI Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. 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Freie Nutzung im Campusnetz der Hochschule und für registrierte Benutzer z 27-10-12 95 01 3095/1 1350613169 00 --%%-- --%%-- s --%%-- OLR-SEB Ausdruck und Kopien sind ausschließlich für den eigenen wissenschaftlichen Gebrauch gestattet z1 10-01-13 100 01 3100 1336035692 00 --%%-- --%%-- s --%%-- 09 --%%-- eBook Springer --%%-- --%%-- OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z 27-10-12 101 01 3101 1336039035 09 --%%-- eBook Springer --%%-- --%%-- OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z 27-10-12 105 01 0841 1336056312 05 --%%-- KaufEBook202103 --%%-- --%%-- OLR-ESP Campuslizenz Universität / Technische Hochschule Lübeck. - Vervielfältigungen (z.B. 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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Der Inhalt Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen. Computer engineering Production of electric energy or power Engineering Microwaves Electronics Power electronics. Microelectronics. Optical engineering. Electrical engineering. Electronic circuits. Engineering Computer engineering Microwaves Electronics Production of electric energy or power Lehrbuch (DE-588)4123623-3 (DE-627)104270187 (DE-576)209561262 gnd-content s (DE-588)4113826-0 (DE-627)105826618 (DE-576)209479655 Halbleiterbauelement gnd s (DE-588)4237438-8 (DE-627)104583533 (DE-576)210405120 SPICE Programm gnd DE-101 s (DE-588)4113826-0 (DE-627)105826618 (DE-576)209479655 Halbleiterbauelement gnd s (DE-588)4237438-8 (DE-627)104583533 (DE-576)210405120 SPICE Programm gnd (DE-627) 9783834824943 Buchausg. u.d.T. Baumann, Peter Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Wiesbaden : Springer Vieweg, 2012 IX, 135 S. (DE-627)726932426 (DE-576)372379060 3834824941 9783834824943 https://doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0 X:SPRINGER Verlag Volltext http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0 Resolving-System lizenzpflichtig Volltext https://swbplus.bsz-bw.de/bsz372049702cov.jpg V:DE-576 X:springer image/jpeg 20140212102840 Cover http://d-nb.info/1026221730/04 B:DE-101 application/pdf 2013-05-01 Verlag Inhaltsverzeichnis http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=4127544&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm X: MVB text/html 2013-05-01 Verlag Inhaltstext (DE-627)728219344 ZDB-2-SEB ZDB-2-STI 2012 GBV_ILN_20 ISIL_DE-84 SYSFLAG_1 GBV_KXP GBV_ILN_21 ISIL_DE-46 GBV_ILN_22 ISIL_DE-18 GBV_ILN_23 ISIL_DE-830 GBV_ILN_30 ISIL_DE-104 GBV_ILN_31 ISIL_DE-27 GBV_ILN_34 ISIL_DE-18-302 GBV_ILN_40 ISIL_DE-7 GBV_ILN_60 ISIL_DE-705 GBV_ILN_62 ISIL_DE-28 GBV_ILN_69 ISIL_DE-9 GBV_ILN_70 ISIL_DE-89 GBV_ILN_91 ISIL_DE-HIL3 GBV_ILN_95 ISIL_DE-542 GBV_ILN_100 ISIL_DE-Ma9 GBV_ILN_101 ISIL_DE-Ma14 GBV_ILN_105 ISIL_DE-841 GBV_ILN_110 ISIL_DE-Luen4 GBV_ILN_118 ISIL_DE-Kt1 GBV_ILN_120 ISIL_DE-715 GBV_ILN_122 ISIL_DE-897 GBV_ILN_130 ISIL_DE-700 GBV_ILN_132 ISIL_DE-959 GBV_ILN_136 ISIL_DE-Wis1 GBV_ILN_140 ISIL_DE-839 GBV_ILN_160 ISIL_DE-755 GBV_ILN_161 ISIL_DE-960 GBV_ILN_164 ISIL_DE-916 GBV_ILN_185 ISIL_DE-Sra5 GBV_ILN_186 ISIL_DE-519 GBV_ILN_187 ISIL_DE-Ki95 GBV_ILN_213 ISIL_DE-551 GBV_ILN_230 ISIL_DE-552 GBV_ILN_231 ISIL_DE-527 GBV_ILN_264 ISIL_DE-897-1 GBV_ILN_285 ISIL_DE-517 GBV_ILN_293 ISIL_DE-960-3 GBV_ILN_370 ISIL_DE-1373 GBV_ILN_736 GBV_ILN_2003 ISIL_DE-25 GBV_ILN_2005 ISIL_DE-291 ISIL_DE-Sa16 ISIL_DE-291-415 GBV_ILN_2006 ISIL_DE-14 GBV_ILN_2007 ISIL_DE-352E GBV_ILN_2009 ISIL_DE-180 GBV_ILN_2010 ISIL_DE-15 GBV_ILN_2014 ISIL_DE-90 GBV_ILN_2015 ISIL_DE-93 GBV_ILN_2020 ISIL_DE-Ch1 GBV_ILN_2027 ISIL_DE-105 GBV_ILN_2034 ISIL_DE-Rt2 GBV_ILN_2037 ISIL_DE-747 GBV_ILN_2045 ISIL_DE-Mit1 GBV_ILN_2048 ISIL_DE-Zwi2 GBV_ILN_2050 ISIL_DE-Zi4 GBV_ILN_2055 ISIL_DE-840 GBV_ILN_2057 ISIL_DE-L189 GBV_ILN_2059 ISIL_DE-Kon4 GBV_ILN_2061 ISIL_DE-520 GBV_ILN_2063 ISIL_DE-951 GBV_ILN_2064 ISIL_DE-953 GBV_ILN_2068 ISIL_DE-Fn1 GBV_ILN_2106 ISIL_DE-Stg259 GBV_ILN_2108 ISIL_DE-991 GBV_ILN_2111 ISIL_DE-944 GBV_ILN_2112 ISIL_DE-1033 GBV_ILN_2113 ISIL_DE-753 GBV_ILN_2116 ISIL_DE-949 GBV_ILN_2118 ISIL_DE-Mh35 GBV_ILN_2119 ISIL_DE-943 GBV_ILN_2122 ISIL_DE-Vil2 GBV_ILN_2129 ISIL_DE-Ofb1 GBV_ILN_2143 ISIL_DE-Rav1 GBV_ILN_2144 ISIL_DE-955 GBV_ILN_2148 ISIL_DE-950 GBV_ILN_2149 ISIL_DE-Loer2 ISIL_DE-Loer2-1 GBV_ILN_2152 ISIL_DE-941 GBV_ILN_2153 ISIL_DE-Hed2 GBV_ILN_2159 ISIL_DE-984 GBV_ILN_2232 ISIL_DE-Stg258 GBV ExPruef ZN 5410 Halbleiterschaltungen Technik Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik Elektrische Netzwerke und Schaltungen Elektronische Schaltungen Halbleiterschaltungen (DE-627)1271558580 (DE-625)rvk/157456: (DE-576)201558580 ZN 5405 Rechnergestützter Entwurf und Berechnung elektronischer Schaltungen; Simulation Technik Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik Elektrische Netzwerke und Schaltungen Elektronische Schaltungen Rechnergestützter Entwurf und Berechnung elektronischer Schaltungen; Simulation (DE-627)1271526077 (DE-625)rvk/157455: (DE-576)201526077 53.52 Elektronische Schaltungen SEPA (DE-627)106414070 53.03 Methoden und Techniken der Elektrotechnik SEPA (DE-627)181570459 53.51 Bauelemente der Elektronik SEPA (DE-627)10641867X BO 045F 621.381 20 01 0084 1336029250 OLR-SEB CATDESC_SPR-EB z 27-10-12 21 01 0046 1336021500 Freie Nutzung im Campusnetz der Universität und der Hochschulen im Land Bremen zza 27-10-12 22 01 0018 1336024712 00 --%%-- --%%-- s --%%-- Olr-seb-tec Vervielfältigungen (z.B. 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Kein systematisches Downloaden durch Robots. zi002 27-10-12 40 01 0007 134022027X OLR-SPRINGER-STI nl xsn 22-11-12 60 01 0705 1336019239 SpringerLink Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. Nur für Angehörige der HSU: Volltextzugang von außerhalb des Campus mit Anmeldung über Shibboleth mit Ihrer Bibliothekskennung z 27-10-12 62 01 0028 1336052384 OLR-SEB Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. z 27-10-12 69 01 0009 1336031123 OLR-SEB-ZDB-2-STI Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. 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1.5.2 Extraktion von BV und IBV; 2 Bipolartransistoren; 2.1 Großsignalmodell; 2.2 Extraktion statischer Modellparameter; 2.2.1 Kennlinien bei UCB = 0; 2.2.2 Parameterextraktion von NF, IS, NE und ISE; 2.2.3 Abschätzung von BF und IKF; 2.2.4 Ermittlung der EARLY-Spannung VAF; 2.2.5 Ermittlung des Kollektorbahnwiderstandes RC; 2.3 Extraktion dynamischer Modellparameter; 2.3.1 Kapazitätsparameter; 2.3.2 Kleinsignalmodell; 2.3.3 Maximale stabile Leistungsverstärkung</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2="0"><subfield code="a">2.3.4 Extraktion von CJC, RB und TF über die Leistungsverstärkungen2.3.5 Modellparameter zur Transitfrequenz; 3 Sperrschicht-Feldeffekttransistoren; 3.1 Großsignalmodell; 3.2 Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien; 3.2.1 Ermittlung von Schwellspannung und Transkonduktanz; 3.2.2 Ermittlung der Bahnwiderstände; 3.3 Kleinsignalmodell; 3.4 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 3.4.1 Berechnung; 3.4.2 Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung; 3.4.3 Extraktion von Modellparametern; 3.5 Ermittlung des Funkelrauschkoeffizienten; 4 MOS-Feldeffekttransistoren; 4.1 Großsignalmodell</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2="0"><subfield code="a">4.2 Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien4.3 Kleinsignalmodelle von MOSFET; 4.4 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 4.4.1 Berechnung für UBS = 0; 4.4.2 Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung; 4.4.3 Extraktion von Modellparametern über vps; 5 Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor; 5.1 Modellparameter des Leistungs-MOSFET IRF 150; 5.2 Extraktion der Modellparameter; 5.2.1 Statische Modellparameter; 5.2.2 Vierpol-Kapazitäten; 5.2.3 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 6 Operationsverstärker; 6.1 Aufbau und Hauptkenngrößen; 6.2 Gleichstrom-Modelle</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2="0"><subfield code="a">6.2.1 Analysen zu den Makromodellen6.2.2 Erzeugung der linearen Gleichstrom-Modelle; 6.3 Kleinsignal-HF-Modelle; 6.3.1 Frequenzanalysen am Makromodell; 6.3.2 Erzeugung der HF-Modelle; 7 Optokoppler; 7.1 Prinzipschaltung und elektrische Kenngrößen; 7.2 Parameterextraktion zur LED; 7.2.1 Extraktion von Parametern aus Strom-Spannungs-Kennlinien; 7.2.2 Extraktion von Parametern aus der Kapaziätskennlinie; 7.2.3 Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit; 7.3 Parameterextraktion zum Fototransistor; 7.3.1 Extraktion von Parametern aus StromSpannungs-Kennlinien</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2="0"><subfield code="a">7.3.2 Extraktion der Early-Spannung aus dem Ausgangskennlinienfeld</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2="0"><subfield code="a">Vorwort; Inhaltsverzeichnis; 1 Halbleiterdioden; 1.1 Dioden-Modell; 1.2 Statische Modellparameter der Schaltdiode 1N 4148; 1.2.1 Simulation der Durchlasskennlinie; 1.2.2 Parameterextraktion über MODEL EDITOR; 1.2.3 Auswertung mit Gleichungen; 1.3 Transitzeit der Schaltdiode 1N 4148; 1.3.1 Simulationsschaltung; 1.3.2 Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit; 1.4 Modellparameter der Kapazitätsdiode; 1.4.1 Kapazitätskennlinie; 1.4.2 Parameterextraktion über MODEL EDITOR; 1.4.3 Rechnerische Auswertung; 1.4.4 Grafisches Ermittlungsverfahren; 1.4.5 Simulation der Kapazitätskennlinie</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Halbleiterdioden -- Bipolartransistoren -- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren -- Mos-Feldeffekttransisotoren -- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor -- Operationsverstärker -- Optokoppler.</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Der Inhalt Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Computer engineering</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Production of electric energy or power</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Engineering</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Microwaves</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Electronics</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Power electronics.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Microelectronics.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Optical engineering.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Electrical 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Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">zu</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">23</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0830</subfield><subfield code="b">1336027746</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">s</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">olr-springer</subfield><subfield code="u">i</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">30</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0104</subfield><subfield code="b">1336000961</subfield><subfield code="h">OLR-ESP</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">31</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0027</subfield><subfield code="b">1336025891</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">34</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3551</subfield><subfield code="b">1336013974</subfield><subfield code="h">OLR-SEB-TEC</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">zi002</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">40</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0007</subfield><subfield code="b">134022027X</subfield><subfield code="h">OLR-SPRINGER-STI</subfield><subfield code="u">nl</subfield><subfield code="y">xsn</subfield><subfield code="z">22-11-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">60</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0705</subfield><subfield code="b">1336019239</subfield><subfield code="h">SpringerLink</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="k">Nur für Angehörige der HSU: Volltextzugang von außerhalb des Campus mit Anmeldung über Shibboleth mit Ihrer Bibliothekskennung</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">62</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0028</subfield><subfield code="b">1336052384</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">69</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0009</subfield><subfield code="b">1336031123</subfield><subfield code="h">OLR-SEB-ZDB-2-STI</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">70</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0089</subfield><subfield code="b">1336026553</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">s</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff (Universität Hannover). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="k">Erworben aus Studienbeiträgen</subfield><subfield code="y">zesp</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">91</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3091</subfield><subfield code="b">1336004509</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="k">Freie Nutzung im Campusnetz der Hochschule und für registrierte Benutzer</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">95</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3095/1</subfield><subfield code="b">1350613169</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">s</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Ausdruck und Kopien sind ausschließlich für den eigenen wissenschaftlichen Gebrauch gestattet</subfield><subfield code="y">z1</subfield><subfield code="z">10-01-13</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">100</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3100</subfield><subfield code="b">1336035692</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">s</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="c">09</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">eBook Springer</subfield><subfield code="e">--%%--</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">101</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3101</subfield><subfield code="b">1336039035</subfield><subfield code="c">09</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">eBook Springer</subfield><subfield code="e">--%%--</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">105</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0841</subfield><subfield code="b">1336056312</subfield><subfield code="c">05</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">KaufEBook202103</subfield><subfield code="e">--%%--</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-ESP</subfield><subfield code="k">Campuslizenz Universität / Technische Hochschule Lübeck. - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">x</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">110</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3110</subfield><subfield code="b">1336031921</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">s</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">118</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3329</subfield><subfield code="b">1336015543</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff HSA - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z1</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">120</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0715</subfield><subfield code="b">1336040432</subfield><subfield code="h">OLR-ESP</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff (Universität Oldenburg). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">120</subfield><subfield code="1">02</subfield><subfield code="x">0715</subfield><subfield code="b">1754956092</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">g</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">alma</subfield><subfield code="k">ww</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">22-02-18</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">120</subfield><subfield code="1">03</subfield><subfield code="x">0715</subfield><subfield code="b">3577232838</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">g</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">alma</subfield><subfield code="k">ww</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">20-01-20</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">122</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0897</subfield><subfield code="b">1336007648</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">130</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0700</subfield><subfield code="b">1736843745</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z. B. Kopien, Downloads) nur für den eigenen wissenschaftlichen Gebrauch. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">24-12-17</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">132</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0959</subfield><subfield code="b">1336012579</subfield><subfield code="h">OLR-ESP-STI</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">k</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">136</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3526</subfield><subfield code="b">133602030X</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. 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Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">160</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0755</subfield><subfield code="b">1400005558</subfield><subfield code="h">olr-seb</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff (Hochschule Emden/Leer). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. 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Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="u">fhebook</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">24-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">164</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0916</subfield><subfield code="b">1336001623</subfield><subfield code="h">OLR-ESP</subfield><subfield code="k">Zugriff nur aus dem Hochschulnetz. Vervielfältigungen nur für den eigenen wissenschaftlichen Gebrauch.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">185</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3519</subfield><subfield code="b">1336012951</subfield><subfield code="h">OLR-ESP</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">186</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0519</subfield><subfield code="b">1336018186</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">187</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3520</subfield><subfield code="b">1336006722</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. 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VII Inhaltsverzeichnis … Halbleiterdioden … Dioden-Modell … Statische Modellparameter der Schaltdiode IN 4148 … Simulation der Durchlasskennlinie … Parameterextraktion über MODEL EDITOR … Auswertung mit Gleichungen … Transitzeit der Schaltdiode IN 4148 … Simulationsschaltung … Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit … Modellparameter der Kapazitätsdiode … Kapazitätskennlinie … Parameterextraktion über MODEL EDITOR … Rechnerische Auswertung … Grafisches Ermittlungsverfahren … Simulation der Kapazitätskennlinie … Modellparameter der Z-Diode IN … Z-Kennlinie und differentieller Z-Widerstand … Extraktion von B V und / B V … Bipolartransistoren … Großsignalmodell … Extraktion statischer Modellparameter … Kennlinien bei U c B = … Parameterextraktion von NF, I s , N E und / SE … Abschätzung von … f und/ K f … Ermittlung der EARLY-Spannung VAF … Ermittlung des Kollektorbahnwiderstandes R c … Extraktion dynamischer Modellparameter … Kapazitätsparameter … Kleinsignalmodell … Maximale stabile Leistungsverstärkung … Extraktion von C J C , u n d T F über die Leistungsverstärkungen … Modellparameter zur Transitfrequenz … Sperrschicht-Feldeffekttransistoren … Großsignalmodell … Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien … Ermittlung von Schwellspannung und Transkonduktanz … Ermittlung der Bahnwiderstände … Kleinsignalmodell … VIII Inhaltsverzeichnis … Maximale stabile Leistungsverstärkung … Berechnung … Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung … Extraktion von Modellparametern … Ermittlung des Funkelrauschkoeffizienten … MOS-Feldeffekttransistoren … Großsignalmodell … Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien … Kleinsignalmodelle von MOSFET … Maximale stabile Leistungsverstärkung … Berechnung fiir t/ßs = … Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung … Extraktion von Modellparametern über vps … Parameter des NMOSFET … Parameter des PMOSFET … Leistungs-MOS-FeldefTekttransistor … Modellparameter des Leistungs-MOSFET IRF … Extraktion der Modellparameter … Statische Modellparameter … Vierpol-Kapazitäten … Maximale stabile Leistungsverstärkung … Simulationsschaltungen zu vps … Ermittlung von Modellparametern über die Leistungsverstärkung … Operationsverstärker … Aufbau und Hauptkenngrößen … Gleichstrom-Modelle … Analysen zu den Makromodeilen … Übertragungskennlinie … Eingangs-und Betriebsruheströme … Übertragungsfunktion … Gleichtaktkenngrößen … Erzeugung der linearen Gleichstrom-Modelle … Einfache Gleichstrom-Modelle … Erweitertes Gleichstrom-Modell … Kleinsignal-HF-Modelle … Frequenzanalysen am Makromodell … Frequenzgang der Differenzverstärkung … Frequenzgang der Gleichtaktunterdrückung … Erzeugung der HF-Modelle … HF-Modell für den Differenzbetrieb … HF-Modell für den Gleichtaktbetrieb … Inhaltsverzeichnis IX … Optokoppler … Prinzipschaltung und elektrische Kenngrößen … Parameterextraktion zur LED … Extraktion von Parametern aus Strom-Spannungs-Kennlinien … Durchlasskennlinie … Sperrkennlinie … Extraktion von Parametern aus der Kapaziätskennlinie … Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit … Parameterextraktion zum Fototransistor … Extraktion von Parametern aus Strom- Spannungs-Kennlinien … Extraktion der Early-Spannung aus dem Ausgangskennlinienfeld … Extraktion von Parametern aus Kennlinien für den Inversbetrieb … Extraktion von Modellparameter aus den Kapazitätskennlinien … Extraktion von Modellparametern aus der Leistungsverstärkung vps … Transitzeit in der Vorwärtsrichtung … Transitzeit in der Rückwärtsrichtung … Auswertung der Transitzeiten über die Transitfrequenz … Parameterextraktion zum Optokoppler … Analyse des Stromübertragungsfaktors … Gleichstrom-Modell des Optokopplers … Statische Kennlinien … NF-Signal-Übertragung … Frequenzabhängigkeit des Stromübertragungsfaktors … Temperaturabhängigkeit des Optokopplers … Literaturverzeichnis … Sachwortverzeichnis … |
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1.5.2 Extraktion von BV und IBV; 2 Bipolartransistoren; 2.1 Großsignalmodell; 2.2 Extraktion statischer Modellparameter; 2.2.1 Kennlinien bei UCB = 0; 2.2.2 Parameterextraktion von NF, IS, NE und ISE; 2.2.3 Abschätzung von BF und IKF; 2.2.4 Ermittlung der EARLY-Spannung VAF; 2.2.5 Ermittlung des Kollektorbahnwiderstandes RC; 2.3 Extraktion dynamischer Modellparameter; 2.3.1 Kapazitätsparameter; 2.3.2 Kleinsignalmodell; 2.3.3 Maximale stabile Leistungsverstärkung</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2="0"><subfield code="a">2.3.4 Extraktion von CJC, RB und TF über die Leistungsverstärkungen2.3.5 Modellparameter zur Transitfrequenz; 3 Sperrschicht-Feldeffekttransistoren; 3.1 Großsignalmodell; 3.2 Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien; 3.2.1 Ermittlung von Schwellspannung und Transkonduktanz; 3.2.2 Ermittlung der Bahnwiderstände; 3.3 Kleinsignalmodell; 3.4 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 3.4.1 Berechnung; 3.4.2 Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung; 3.4.3 Extraktion von Modellparametern; 3.5 Ermittlung des Funkelrauschkoeffizienten; 4 MOS-Feldeffekttransistoren; 4.1 Großsignalmodell</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2="0"><subfield code="a">4.2 Extraktion von Modellparametern aus Kennlinien4.3 Kleinsignalmodelle von MOSFET; 4.4 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 4.4.1 Berechnung für UBS = 0; 4.4.2 Simulationsschaltungen zur Leistungsverstärkung; 4.4.3 Extraktion von Modellparametern über vps; 5 Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor; 5.1 Modellparameter des Leistungs-MOSFET IRF 150; 5.2 Extraktion der Modellparameter; 5.2.1 Statische Modellparameter; 5.2.2 Vierpol-Kapazitäten; 5.2.3 Maximale stabile Leistungsverstärkung; 6 Operationsverstärker; 6.1 Aufbau und Hauptkenngrößen; 6.2 Gleichstrom-Modelle</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2="0"><subfield code="a">6.2.1 Analysen zu den Makromodellen6.2.2 Erzeugung der linearen Gleichstrom-Modelle; 6.3 Kleinsignal-HF-Modelle; 6.3.1 Frequenzanalysen am Makromodell; 6.3.2 Erzeugung der HF-Modelle; 7 Optokoppler; 7.1 Prinzipschaltung und elektrische Kenngrößen; 7.2 Parameterextraktion zur LED; 7.2.1 Extraktion von Parametern aus Strom-Spannungs-Kennlinien; 7.2.2 Extraktion von Parametern aus der Kapaziätskennlinie; 7.2.3 Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit; 7.3 Parameterextraktion zum Fototransistor; 7.3.1 Extraktion von Parametern aus StromSpannungs-Kennlinien</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2="0"><subfield code="a">7.3.2 Extraktion der Early-Spannung aus dem Ausgangskennlinienfeld</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2="0"><subfield code="a">Vorwort; Inhaltsverzeichnis; 1 Halbleiterdioden; 1.1 Dioden-Modell; 1.2 Statische Modellparameter der Schaltdiode 1N 4148; 1.2.1 Simulation der Durchlasskennlinie; 1.2.2 Parameterextraktion über MODEL EDITOR; 1.2.3 Auswertung mit Gleichungen; 1.3 Transitzeit der Schaltdiode 1N 4148; 1.3.1 Simulationsschaltung; 1.3.2 Extraktion der Transitzeit aus der Sperrerholungszeit; 1.4 Modellparameter der Kapazitätsdiode; 1.4.1 Kapazitätskennlinie; 1.4.2 Parameterextraktion über MODEL EDITOR; 1.4.3 Rechnerische Auswertung; 1.4.4 Grafisches Ermittlungsverfahren; 1.4.5 Simulation der Kapazitätskennlinie</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Halbleiterdioden -- Bipolartransistoren -- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren -- Mos-Feldeffekttransisotoren -- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor -- Operationsverstärker -- Optokoppler.</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Der Inhalt Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Computer engineering</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Production of electric energy or power</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Engineering</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Microwaves</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Electronics</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Power electronics.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Microelectronics.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Optical engineering.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Electrical 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Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">zu</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">23</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0830</subfield><subfield code="b">1336027746</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">s</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">olr-springer</subfield><subfield code="u">i</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">30</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0104</subfield><subfield code="b">1336000961</subfield><subfield code="h">OLR-ESP</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">31</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0027</subfield><subfield code="b">1336025891</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">34</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3551</subfield><subfield code="b">1336013974</subfield><subfield code="h">OLR-SEB-TEC</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">zi002</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">40</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0007</subfield><subfield code="b">134022027X</subfield><subfield code="h">OLR-SPRINGER-STI</subfield><subfield code="u">nl</subfield><subfield code="y">xsn</subfield><subfield code="z">22-11-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">60</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0705</subfield><subfield code="b">1336019239</subfield><subfield code="h">SpringerLink</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="k">Nur für Angehörige der HSU: Volltextzugang von außerhalb des Campus mit Anmeldung über Shibboleth mit Ihrer Bibliothekskennung</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">62</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0028</subfield><subfield code="b">1336052384</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">69</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0009</subfield><subfield code="b">1336031123</subfield><subfield code="h">OLR-SEB-ZDB-2-STI</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">70</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0089</subfield><subfield code="b">1336026553</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">s</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff (Universität Hannover). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="k">Erworben aus Studienbeiträgen</subfield><subfield code="y">zesp</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">91</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3091</subfield><subfield code="b">1336004509</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="k">Freie Nutzung im Campusnetz der Hochschule und für registrierte Benutzer</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">95</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3095/1</subfield><subfield code="b">1350613169</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">s</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Ausdruck und Kopien sind ausschließlich für den eigenen wissenschaftlichen Gebrauch gestattet</subfield><subfield code="y">z1</subfield><subfield code="z">10-01-13</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">100</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3100</subfield><subfield code="b">1336035692</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">s</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="c">09</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">eBook Springer</subfield><subfield code="e">--%%--</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">101</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3101</subfield><subfield code="b">1336039035</subfield><subfield code="c">09</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">eBook Springer</subfield><subfield code="e">--%%--</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">105</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0841</subfield><subfield code="b">1336056312</subfield><subfield code="c">05</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">KaufEBook202103</subfield><subfield code="e">--%%--</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-ESP</subfield><subfield code="k">Campuslizenz Universität / Technische Hochschule Lübeck. - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">x</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">110</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3110</subfield><subfield code="b">1336031921</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">s</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">118</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3329</subfield><subfield code="b">1336015543</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff HSA - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z1</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">120</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0715</subfield><subfield code="b">1336040432</subfield><subfield code="h">OLR-ESP</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff (Universität Oldenburg). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">120</subfield><subfield code="1">02</subfield><subfield code="x">0715</subfield><subfield code="b">1754956092</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">g</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">alma</subfield><subfield code="k">ww</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">22-02-18</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">120</subfield><subfield code="1">03</subfield><subfield code="x">0715</subfield><subfield code="b">3577232838</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">g</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">alma</subfield><subfield code="k">ww</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">20-01-20</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">122</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0897</subfield><subfield code="b">1336007648</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">130</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0700</subfield><subfield code="b">1736843745</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z. B. Kopien, Downloads) nur für den eigenen wissenschaftlichen Gebrauch. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">24-12-17</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">132</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0959</subfield><subfield code="b">1336012579</subfield><subfield code="h">OLR-ESP-STI</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">k</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">136</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3526</subfield><subfield code="b">133602030X</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">140</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0839</subfield><subfield code="b">1336008784</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">160</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0755</subfield><subfield code="b">1400005558</subfield><subfield code="h">olr-seb</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff (Hochschule Emden/Leer). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">11-06-13</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">161</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0960</subfield><subfield code="b">1335615520</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff (Hochschule Hannover). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="u">fhebook</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">24-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">164</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0916</subfield><subfield code="b">1336001623</subfield><subfield code="h">OLR-ESP</subfield><subfield code="k">Zugriff nur aus dem Hochschulnetz. Vervielfältigungen nur für den eigenen wissenschaftlichen Gebrauch.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">185</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3519</subfield><subfield code="b">1336012951</subfield><subfield code="h">OLR-ESP</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">186</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0519</subfield><subfield code="b">1336018186</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">187</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3520</subfield><subfield code="b">1336006722</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">213</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0551</subfield><subfield code="b">1528678826</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff (HS Magdeburg-Stendal). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">03-03-15</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">230</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0552</subfield><subfield code="b">1528688619</subfield><subfield code="k">Campusweiter Zugriff (HS Magdeburg-Stendal). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">03-03-15</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">231</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0527</subfield><subfield code="b">1336015985</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Ausdruck und Kopien sind ausschließlich für den eigenen wissenschaftlichen Gebrauch gestattet</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">264</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3264</subfield><subfield code="b">1336009926</subfield><subfield code="h">OLR-SEB</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">27-10-12</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">285</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0517</subfield><subfield code="b">1449604730</subfield><subfield code="c">00</subfield><subfield code="f">--%%--</subfield><subfield code="d">--%%--</subfield><subfield code="e">s</subfield><subfield code="j">--%%--</subfield><subfield code="h">OLR-ESP-STI</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. 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