Advanced metrology : freeform surfaces
Intro -- Advanced Metrology: Freeform Surfaces -- Copyright -- Contents -- Preface -- Acknowledgments -- Chapter 1: Introduction -- 1.1. Introduction -- 1.2. Geometrical variability -- 1.3. Classification of geometrical surfaces -- 1.4. Basic classification of geometrical surface modifications -- 1....
Ausführliche Beschreibung
Gespeichert in:
| Autor*in: |
Jiang, X. Jane [verfasserIn] |
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| Format: |
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| Sprache: |
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| Erschienen: |
London: Academic Press ; 2020 |
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| 520 | |a 2.2.1. Free-form surface requirements -- 2.2.2. Surface representation models -- 2.2.3. Discrete surface representations -- 2.2.4. Continuous surface representations -- 2.2.4.1. Subdivision surfaces -- 2.2.4.2. Ruled surfaces -- 2.2.5. Other surfaces methods -- 2.2.5.1. Skinned surfaces or multisection surfaces -- 2.2.5.2. Swept surfaces -- 2.2.5.3. Swung surfaces -- 2.3. Free-form analysis -- 2.3.1. Sampling and reconstruction -- 2.3.1.1. Feature- or attribute-based sampling -- 2.3.1.2. Sampling based on orthogonal functions -- 2.3.1.3. Simplification of meshes -- 2.3.2. Free-form form fitting | ||
| 520 | |a 2.3.2.1. Nominal form is known -- 2.3.2.2. Nominal form is not known -- 2.3.3. Free-form filtration and multiscale decomposition -- 2.3.3.1. Diffusion filtering -- 2.3.3.2. Morphological filtering -- 2.3.3.3. Segmentation -- 2.3.3.4. Wavelets -- 2.3.4. Free-form analytics -- 2.3.4.1. Form parameters -- 2.3.4.2. Shape parameters -- 2.3.4.3. Surface texture field parameters -- 2.3.4.4. Surface texture feature parameters -- 2.4. Summary -- References -- Chapter 3: Free-form surface sampling -- 3.1. Introduction -- 3.2. The state of the art -- 3.2.1. Primitive surfaces -- 3.2.2. Free-form surfaces | ||
| 520 | |a 3.2.2.1. Model-adapted sampling strategies -- 3.2.2.2. Self-adaptive sampling strategies -- 3.3. Surface reconstruction -- 3.3.1. Tensor product B-spline reconstruction -- 3.3.2. Delaunay triangulation reconstruction -- 3.4. Curvature based sampling -- 3.4.1. Curve sampling -- 3.4.2. Surface sampling -- 3.5. Adaptive sampling strategy -- 3.5.1. Method description -- 3.5.1.1. Profile adaptive compression sampling -- 3.5.1.2. Areal adaptive scanning -- 3.5.2. Performance validation -- 3.5.2.1. Experimental settings -- 3.5.2.2. Results and discussion -- 3.6. Triangular mesh sampling -- 3.7. Summary | ||
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Remarks -- References -- Chapter 2: Fundaments for free-form surfaces -- 2.1. Introduction -- 2.2. Free-form surface representation 2.2.1. Free-form surface requirements -- 2.2.2. Surface representation models -- 2.2.3. Discrete surface representations -- 2.2.4. Continuous surface representations -- 2.2.4.1. Subdivision surfaces -- 2.2.4.2. Ruled surfaces -- 2.2.5. Other surfaces methods -- 2.2.5.1. Skinned surfaces or multisection surfaces -- 2.2.5.2. Swept surfaces -- 2.2.5.3. Swung surfaces -- 2.3. Free-form analysis -- 2.3.1. Sampling and reconstruction -- 2.3.1.1. Feature- or attribute-based sampling -- 2.3.1.2. Sampling based on orthogonal functions -- 2.3.1.3. Simplification of meshes -- 2.3.2. Free-form form fitting 2.3.2.1. Nominal form is known -- 2.3.2.2. Nominal form is not known -- 2.3.3. Free-form filtration and multiscale decomposition -- 2.3.3.1. Diffusion filtering -- 2.3.3.2. Morphological filtering -- 2.3.3.3. Segmentation -- 2.3.3.4. Wavelets -- 2.3.4. 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Remarks -- References -- Chapter 2: Fundaments for free-form surfaces -- 2.1. Introduction -- 2.2. Free-form surface representation 2.2.1. Free-form surface requirements -- 2.2.2. Surface representation models -- 2.2.3. Discrete surface representations -- 2.2.4. Continuous surface representations -- 2.2.4.1. Subdivision surfaces -- 2.2.4.2. Ruled surfaces -- 2.2.5. Other surfaces methods -- 2.2.5.1. Skinned surfaces or multisection surfaces -- 2.2.5.2. Swept surfaces -- 2.2.5.3. Swung surfaces -- 2.3. Free-form analysis -- 2.3.1. Sampling and reconstruction -- 2.3.1.1. Feature- or attribute-based sampling -- 2.3.1.2. Sampling based on orthogonal functions -- 2.3.1.3. Simplification of meshes -- 2.3.2. Free-form form fitting 2.3.2.1. Nominal form is known -- 2.3.2.2. Nominal form is not known -- 2.3.3. Free-form filtration and multiscale decomposition -- 2.3.3.1. Diffusion filtering -- 2.3.3.2. Morphological filtering -- 2.3.3.3. Segmentation -- 2.3.3.4. Wavelets -- 2.3.4. Free-form analytics -- 2.3.4.1. Form parameters -- 2.3.4.2. Shape parameters -- 2.3.4.3. Surface texture field parameters -- 2.3.4.4. Surface texture feature parameters -- 2.4. Summary -- References -- Chapter 3: Free-form surface sampling -- 3.1. Introduction -- 3.2. The state of the art -- 3.2.1. Primitive surfaces -- 3.2.2. Free-form surfaces 3.2.2.1. Model-adapted sampling strategies -- 3.2.2.2. Self-adaptive sampling strategies -- 3.3. Surface reconstruction -- 3.3.1. Tensor product B-spline reconstruction -- 3.3.2. Delaunay triangulation reconstruction -- 3.4. Curvature based sampling -- 3.4.1. Curve sampling -- 3.4.2. Surface sampling -- 3.5. Adaptive sampling strategy -- 3.5.1. Method description -- 3.5.1.1. Profile adaptive compression sampling -- 3.5.1.2. Areal adaptive scanning -- 3.5.2. Performance validation -- 3.5.2.1. Experimental settings -- 3.5.2.2. Results and discussion -- 3.6. Triangular mesh sampling -- 3.7. Summary Metrology Metrology Metrologie (CaQQLa)201-0363317 Electronic books Scott, Paul J. oth 9780128173244 0128218150 9780128218150 9780128173237 0128173238 Erscheint auch als Druck-Ausgabe 0128218150 9780128218150 9780128173237 0128173238 https://www.sciencedirect.com/science/book/9780128218150 X:ELSEVIER Verlag lizenzpflichtig GBV-33-Freedom 2022 BSZ-33-EBS-HSAA GBV-33-EBS-MRI GBV-33-EBS-ZHB GBV-33-Freedom 2021 ZDB-33-EBS ZDB-33-EGE 2020 ZDB-33-ESD GBV-33-Freedom 2023 BSZ-33-ESD-L1FH GBV-33-EBS-HST BSZ-33-EBS-C1UB GBV_ILN_60 ISIL_DE-705 SYSFLAG_1 GBV_KXP GBV_ILN_105 ISIL_DE-841 GBV_ILN_132 ISIL_DE-959 GBV_ILN_185 ISIL_DE-Sra5 GBV_ILN_370 ISIL_DE-1373 GBV_ILN_2020 ISIL_DE-Ch1 GBV_ILN_2057 ISIL_DE-L189 GBV_ILN_2111 ISIL_DE-944 BO 045F 389/.1 60 01 0705 4236039389 00 --%%-- --%%-- s --%%-- Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. Nur für Angehörige der HSU: Volltextzugang von außerhalb des Campus mit Anmeldung über Shibboleth mit Ihrer Bibliothekskennung z 20-12-22 105 01 0841 4074481391 OLR-ELV-TEST Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. Testzugang ZHB Lübeck z 26-02-22 132 01 0959 4500004335 EBS Elsevier Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. Zeitlich begrenzte Lizenzierung k 13-03-24 185 01 3519 4514754250 OLR-EBS Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. 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Remarks -- References -- Chapter 2: Fundaments for free-form surfaces -- 2.1. Introduction -- 2.2. Free-form surface representation 2.2.1. Free-form surface requirements -- 2.2.2. Surface representation models -- 2.2.3. Discrete surface representations -- 2.2.4. Continuous surface representations -- 2.2.4.1. Subdivision surfaces -- 2.2.4.2. Ruled surfaces -- 2.2.5. Other surfaces methods -- 2.2.5.1. Skinned surfaces or multisection surfaces -- 2.2.5.2. Swept surfaces -- 2.2.5.3. Swung surfaces -- 2.3. Free-form analysis -- 2.3.1. Sampling and reconstruction -- 2.3.1.1. Feature- or attribute-based sampling -- 2.3.1.2. Sampling based on orthogonal functions -- 2.3.1.3. Simplification of meshes -- 2.3.2. Free-form form fitting 2.3.2.1. Nominal form is known -- 2.3.2.2. Nominal form is not known -- 2.3.3. Free-form filtration and multiscale decomposition -- 2.3.3.1. Diffusion filtering -- 2.3.3.2. Morphological filtering -- 2.3.3.3. Segmentation -- 2.3.3.4. Wavelets -- 2.3.4. 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Summary Metrology Metrology Metrologie (CaQQLa)201-0363317 Electronic books Scott, Paul J. oth 9780128173244 0128218150 9780128218150 9780128173237 0128173238 Erscheint auch als Druck-Ausgabe 0128218150 9780128218150 9780128173237 0128173238 https://www.sciencedirect.com/science/book/9780128218150 X:ELSEVIER Verlag lizenzpflichtig GBV-33-Freedom 2022 BSZ-33-EBS-HSAA GBV-33-EBS-MRI GBV-33-EBS-ZHB GBV-33-Freedom 2021 ZDB-33-EBS ZDB-33-EGE 2020 ZDB-33-ESD GBV-33-Freedom 2023 BSZ-33-ESD-L1FH GBV-33-EBS-HST BSZ-33-EBS-C1UB GBV_ILN_60 ISIL_DE-705 SYSFLAG_1 GBV_KXP GBV_ILN_105 ISIL_DE-841 GBV_ILN_132 ISIL_DE-959 GBV_ILN_185 ISIL_DE-Sra5 GBV_ILN_370 ISIL_DE-1373 GBV_ILN_2020 ISIL_DE-Ch1 GBV_ILN_2057 ISIL_DE-L189 GBV_ILN_2111 ISIL_DE-944 BO 045F 389/.1 60 01 0705 4236039389 00 --%%-- --%%-- s --%%-- Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. Nur für Angehörige der HSU: Volltextzugang von außerhalb des Campus mit Anmeldung über Shibboleth mit Ihrer Bibliothekskennung z 20-12-22 105 01 0841 4074481391 OLR-ELV-TEST Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt. Testzugang ZHB Lübeck z 26-02-22 132 01 0959 4500004335 EBS Elsevier Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots. Zeitlich begrenzte Lizenzierung k 13-03-24 185 01 3519 4514754250 OLR-EBS Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. 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Remarks -- References -- Chapter 2: Fundaments for free-form surfaces -- 2.1. Introduction -- 2.2. Free-form surface representation 2.2.1. Free-form surface requirements -- 2.2.2. Surface representation models -- 2.2.3. Discrete surface representations -- 2.2.4. Continuous surface representations -- 2.2.4.1. Subdivision surfaces -- 2.2.4.2. Ruled surfaces -- 2.2.5. Other surfaces methods -- 2.2.5.1. Skinned surfaces or multisection surfaces -- 2.2.5.2. Swept surfaces -- 2.2.5.3. Swung surfaces -- 2.3. Free-form analysis -- 2.3.1. Sampling and reconstruction -- 2.3.1.1. Feature- or attribute-based sampling -- 2.3.1.2. Sampling based on orthogonal functions -- 2.3.1.3. Simplification of meshes -- 2.3.2. Free-form form fitting 2.3.2.1. Nominal form is known -- 2.3.2.2. Nominal form is not known -- 2.3.3. Free-form filtration and multiscale decomposition -- 2.3.3.1. Diffusion filtering -- 2.3.3.2. Morphological filtering -- 2.3.3.3. Segmentation -- 2.3.3.4. Wavelets -- 2.3.4. 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Intro -- Advanced Metrology: Freeform Surfaces -- Copyright -- Contents -- Preface -- Acknowledgments -- Chapter 1: Introduction -- 1.1. Introduction -- 1.2. Geometrical variability -- 1.3. Classification of geometrical surfaces -- 1.4. Basic classification of geometrical surface modifications -- 1.5. The ISO system for geometrical products -- 1.6. A brief history of the specification and metrology of geometrical products -- 1.7. Remarks -- References -- Chapter 2: Fundaments for free-form surfaces -- 2.1. Introduction -- 2.2. Free-form surface representation 2.2.1. Free-form surface requirements -- 2.2.2. Surface representation models -- 2.2.3. Discrete surface representations -- 2.2.4. Continuous surface representations -- 2.2.4.1. Subdivision surfaces -- 2.2.4.2. Ruled surfaces -- 2.2.5. Other surfaces methods -- 2.2.5.1. Skinned surfaces or multisection surfaces -- 2.2.5.2. Swept surfaces -- 2.2.5.3. Swung surfaces -- 2.3. Free-form analysis -- 2.3.1. Sampling and reconstruction -- 2.3.1.1. Feature- or attribute-based sampling -- 2.3.1.2. Sampling based on orthogonal functions -- 2.3.1.3. Simplification of meshes -- 2.3.2. Free-form form fitting 2.3.2.1. Nominal form is known -- 2.3.2.2. Nominal form is not known -- 2.3.3. Free-form filtration and multiscale decomposition -- 2.3.3.1. Diffusion filtering -- 2.3.3.2. Morphological filtering -- 2.3.3.3. Segmentation -- 2.3.3.4. Wavelets -- 2.3.4. Free-form analytics -- 2.3.4.1. Form parameters -- 2.3.4.2. Shape parameters -- 2.3.4.3. Surface texture field parameters -- 2.3.4.4. Surface texture feature parameters -- 2.4. Summary -- References -- Chapter 3: Free-form surface sampling -- 3.1. Introduction -- 3.2. The state of the art -- 3.2.1. Primitive surfaces -- 3.2.2. Free-form surfaces 3.2.2.1. Model-adapted sampling strategies -- 3.2.2.2. Self-adaptive sampling strategies -- 3.3. Surface reconstruction -- 3.3.1. Tensor product B-spline reconstruction -- 3.3.2. Delaunay triangulation reconstruction -- 3.4. Curvature based sampling -- 3.4.1. Curve sampling -- 3.4.2. Surface sampling -- 3.5. Adaptive sampling strategy -- 3.5.1. Method description -- 3.5.1.1. Profile adaptive compression sampling -- 3.5.1.2. Areal adaptive scanning -- 3.5.2. Performance validation -- 3.5.2.1. Experimental settings -- 3.5.2.2. Results and discussion -- 3.6. Triangular mesh sampling -- 3.7. Summary Includes index |
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Intro -- Advanced Metrology: Freeform Surfaces -- Copyright -- Contents -- Preface -- Acknowledgments -- Chapter 1: Introduction -- 1.1. Introduction -- 1.2. Geometrical variability -- 1.3. Classification of geometrical surfaces -- 1.4. Basic classification of geometrical surface modifications -- 1.5. The ISO system for geometrical products -- 1.6. A brief history of the specification and metrology of geometrical products -- 1.7. Remarks -- References -- Chapter 2: Fundaments for free-form surfaces -- 2.1. Introduction -- 2.2. Free-form surface representation 2.2.1. Free-form surface requirements -- 2.2.2. Surface representation models -- 2.2.3. Discrete surface representations -- 2.2.4. Continuous surface representations -- 2.2.4.1. Subdivision surfaces -- 2.2.4.2. Ruled surfaces -- 2.2.5. Other surfaces methods -- 2.2.5.1. Skinned surfaces or multisection surfaces -- 2.2.5.2. Swept surfaces -- 2.2.5.3. Swung surfaces -- 2.3. Free-form analysis -- 2.3.1. Sampling and reconstruction -- 2.3.1.1. Feature- or attribute-based sampling -- 2.3.1.2. Sampling based on orthogonal functions -- 2.3.1.3. Simplification of meshes -- 2.3.2. Free-form form fitting 2.3.2.1. Nominal form is known -- 2.3.2.2. Nominal form is not known -- 2.3.3. Free-form filtration and multiscale decomposition -- 2.3.3.1. Diffusion filtering -- 2.3.3.2. Morphological filtering -- 2.3.3.3. Segmentation -- 2.3.3.4. Wavelets -- 2.3.4. Free-form analytics -- 2.3.4.1. Form parameters -- 2.3.4.2. Shape parameters -- 2.3.4.3. Surface texture field parameters -- 2.3.4.4. Surface texture feature parameters -- 2.4. Summary -- References -- Chapter 3: Free-form surface sampling -- 3.1. Introduction -- 3.2. The state of the art -- 3.2.1. Primitive surfaces -- 3.2.2. Free-form surfaces 3.2.2.1. Model-adapted sampling strategies -- 3.2.2.2. Self-adaptive sampling strategies -- 3.3. Surface reconstruction -- 3.3.1. Tensor product B-spline reconstruction -- 3.3.2. Delaunay triangulation reconstruction -- 3.4. Curvature based sampling -- 3.4.1. Curve sampling -- 3.4.2. Surface sampling -- 3.5. Adaptive sampling strategy -- 3.5.1. Method description -- 3.5.1.1. Profile adaptive compression sampling -- 3.5.1.2. Areal adaptive scanning -- 3.5.2. Performance validation -- 3.5.2.1. Experimental settings -- 3.5.2.2. Results and discussion -- 3.6. Triangular mesh sampling -- 3.7. Summary Includes index |
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Intro -- Advanced Metrology: Freeform Surfaces -- Copyright -- Contents -- Preface -- Acknowledgments -- Chapter 1: Introduction -- 1.1. Introduction -- 1.2. Geometrical variability -- 1.3. Classification of geometrical surfaces -- 1.4. Basic classification of geometrical surface modifications -- 1.5. The ISO system for geometrical products -- 1.6. A brief history of the specification and metrology of geometrical products -- 1.7. Remarks -- References -- Chapter 2: Fundaments for free-form surfaces -- 2.1. Introduction -- 2.2. Free-form surface representation 2.2.1. Free-form surface requirements -- 2.2.2. Surface representation models -- 2.2.3. Discrete surface representations -- 2.2.4. Continuous surface representations -- 2.2.4.1. Subdivision surfaces -- 2.2.4.2. Ruled surfaces -- 2.2.5. Other surfaces methods -- 2.2.5.1. Skinned surfaces or multisection surfaces -- 2.2.5.2. Swept surfaces -- 2.2.5.3. Swung surfaces -- 2.3. Free-form analysis -- 2.3.1. Sampling and reconstruction -- 2.3.1.1. Feature- or attribute-based sampling -- 2.3.1.2. Sampling based on orthogonal functions -- 2.3.1.3. Simplification of meshes -- 2.3.2. Free-form form fitting 2.3.2.1. Nominal form is known -- 2.3.2.2. Nominal form is not known -- 2.3.3. Free-form filtration and multiscale decomposition -- 2.3.3.1. Diffusion filtering -- 2.3.3.2. Morphological filtering -- 2.3.3.3. Segmentation -- 2.3.3.4. Wavelets -- 2.3.4. Free-form analytics -- 2.3.4.1. Form parameters -- 2.3.4.2. Shape parameters -- 2.3.4.3. Surface texture field parameters -- 2.3.4.4. Surface texture feature parameters -- 2.4. Summary -- References -- Chapter 3: Free-form surface sampling -- 3.1. Introduction -- 3.2. The state of the art -- 3.2.1. Primitive surfaces -- 3.2.2. Free-form surfaces 3.2.2.1. Model-adapted sampling strategies -- 3.2.2.2. Self-adaptive sampling strategies -- 3.3. Surface reconstruction -- 3.3.1. Tensor product B-spline reconstruction -- 3.3.2. Delaunay triangulation reconstruction -- 3.4. Curvature based sampling -- 3.4.1. Curve sampling -- 3.4.2. Surface sampling -- 3.5. Adaptive sampling strategy -- 3.5.1. Method description -- 3.5.1.1. Profile adaptive compression sampling -- 3.5.1.2. Areal adaptive scanning -- 3.5.2. Performance validation -- 3.5.2.1. Experimental settings -- 3.5.2.2. Results and discussion -- 3.6. Triangular mesh sampling -- 3.7. Summary Includes index |
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Introduction -- 1.2. Geometrical variability -- 1.3. Classification of geometrical surfaces -- 1.4. Basic classification of geometrical surface modifications -- 1.5. The ISO system for geometrical products -- 1.6. A brief history of the specification and metrology of geometrical products -- 1.7. Remarks -- References -- Chapter 2: Fundaments for free-form surfaces -- 2.1. Introduction -- 2.2. Free-form surface representation</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">2.2.1. Free-form surface requirements -- 2.2.2. Surface representation models -- 2.2.3. Discrete surface representations -- 2.2.4. Continuous surface representations -- 2.2.4.1. Subdivision surfaces -- 2.2.4.2. Ruled surfaces -- 2.2.5. Other surfaces methods -- 2.2.5.1. Skinned surfaces or multisection surfaces -- 2.2.5.2. Swept surfaces -- 2.2.5.3. Swung surfaces -- 2.3. Free-form analysis -- 2.3.1. Sampling and reconstruction -- 2.3.1.1. Feature- or attribute-based sampling -- 2.3.1.2. Sampling based on orthogonal functions -- 2.3.1.3. Simplification of meshes -- 2.3.2. Free-form form fitting</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">2.3.2.1. Nominal form is known -- 2.3.2.2. Nominal form is not known -- 2.3.3. Free-form filtration and multiscale decomposition -- 2.3.3.1. Diffusion filtering -- 2.3.3.2. Morphological filtering -- 2.3.3.3. Segmentation -- 2.3.3.4. Wavelets -- 2.3.4. Free-form analytics -- 2.3.4.1. Form parameters -- 2.3.4.2. Shape parameters -- 2.3.4.3. Surface texture field parameters -- 2.3.4.4. Surface texture feature parameters -- 2.4. Summary -- References -- Chapter 3: Free-form surface sampling -- 3.1. Introduction -- 3.2. The state of the art -- 3.2.1. Primitive surfaces -- 3.2.2. Free-form surfaces</subfield></datafield><datafield tag="520" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3.2.2.1. Model-adapted sampling strategies -- 3.2.2.2. Self-adaptive sampling strategies -- 3.3. Surface reconstruction -- 3.3.1. Tensor product B-spline reconstruction -- 3.3.2. Delaunay triangulation reconstruction -- 3.4. Curvature based sampling -- 3.4.1. Curve sampling -- 3.4.2. Surface sampling -- 3.5. Adaptive sampling strategy -- 3.5.1. Method description -- 3.5.1.1. Profile adaptive compression sampling -- 3.5.1.2. Areal adaptive scanning -- 3.5.2. Performance validation -- 3.5.2.1. Experimental settings -- 3.5.2.2. Results and discussion -- 3.6. Triangular mesh sampling -- 3.7. Summary</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Metrology</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Metrology</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Metrologie</subfield><subfield code="0">(CaQQLa)201-0363317</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Electronic books</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Scott, Paul J.</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="1" ind2=" "><subfield code="z">9780128173244</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="1" ind2=" "><subfield code="z">0128218150</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="1" ind2=" "><subfield code="z">9780128218150</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="1" ind2=" "><subfield code="z">9780128173237</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="1" ind2=" "><subfield 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Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="k">Nur für Angehörige der HSU: Volltextzugang von außerhalb des Campus mit Anmeldung über Shibboleth mit Ihrer Bibliothekskennung</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">20-12-22</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">105</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0841</subfield><subfield code="b">4074481391</subfield><subfield code="h">OLR-ELV-TEST</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt.</subfield><subfield code="k">Testzugang ZHB Lübeck</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">26-02-22</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">132</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">0959</subfield><subfield code="b">4500004335</subfield><subfield code="h">EBS Elsevier</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. Kein systematisches Downloaden durch Robots.</subfield><subfield code="k">Zeitlich begrenzte Lizenzierung</subfield><subfield code="y">k</subfield><subfield code="z">13-03-24</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">185</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">3519</subfield><subfield code="b">4514754250</subfield><subfield code="h">OLR-EBS</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Die Weitergabe an Dritte sowie systematisches Downloaden sind untersagt.</subfield><subfield code="y">z</subfield><subfield code="z">23-04-24</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1=" " ind2=" "><subfield code="2">370</subfield><subfield code="1">01</subfield><subfield code="x">4370</subfield><subfield code="b">4540281836</subfield><subfield code="h">EBS Elsevier</subfield><subfield code="k">Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte. 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