1. 1
    von: Tech, Thomas
    2003, 1. Aufl., Vieweg
  2. 2
    von: Smil, Vaclav
    2008, The MIT Press
  3. 3
    von: Bockhorst, Michael
    2002, Bockhorst
  4. 4
    1995, VDI-Verl.
  5. 5
    von: Brune, Wolfgang
    1998, Teubner
  6. 6
    von: Voss, Gerhard
    1981, Dt. Inst.-Verl.
  7. 7
    1983, Verl. TÜV Rheinland
  8. 8
    von: Heinloth, Klaus
    1997, Vieweg
  9. 9
    2012-, CRC 912 HAEC, TU Dresden
  10. 10
    von: Schaefer, Helmut
    1994, VDI-Verl.
  11. 11
    von: Rebhan, Eckhard
    2002, Springer
  12. 12
    von: Kausch, Peter
    2011, Spektrum Akademischer Verlag
  13. 13
    von: Zahoransky, Richard
    2015, 7., überarb. u. erw. Aufl., Springer Vieweg
  14. 14
    von: Konstantin, Panos
    [2023], 5., aktualisierte Auflage, Springer Vieweg
  15. 15
    von: Diekmann, Bernd
    2014, 3., vollst. überarb. u. erw. Aufl. 2014, Springer Spektrum
  16. 16
    von: Allelein, Hans-Josef
    2010, 5., überarbeitete und erweiterte Auflage, Vieweg + Teubner
  17. 17
    von: Zahoransky, Richard
    2013, 6., überarb. u. erw. Aufl. 2013, Springer Vieweg

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