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1
Erratum to: A Small Chip Area Stochastic Calibration for TDC Using Ring Oscillator
von: Katoh, Kentaroh
2014, in:
Journal of electronic testing
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2
A Small Chip Area Stochastic Calibration for TDC Using Ring Oscillator
von: Katoh, Kentaroh
2014, in:
Journal of electronic testing
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3
Erratum to: A Small Chip Area Stochastic Calibration for TDC Using Ring Oscillator
von: Katoh, Kentaroh
2014, in:
Journal of electronic testing
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4
A Small Chip Area Stochastic Calibration for TDC Using Ring Oscillator
von: Katoh, Kentaroh
2014, in:
Journal of electronic testing
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5
Revisit to Histogram Method for ADC Linearity Test: Examination of Input Signal and Ratio of Input and Sampling Frequencies
von: Zhao, Yujie
2022, in:
Journal of electronic testing
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6
Revisit to Histogram Method for ADC Linearity Test: Examination of Input Signal and Ratio of Input and Sampling Frequencies
von: Zhao, Yujie
2022, in:
Journal of electronic testing
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