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Aufsätze
1
A Controlled Flaw Technique for Lifetime Characterization
von: Liniger, Eric G.
1993, in:
Journal of the American Ceramic Society
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2
Kinetics of Indentation Cracking in Glass
von: Cook, Robert F.
1993, in:
Journal of the American Ceramic Society
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3
Stress-Corrosion Cracking of Spin-On Glass Thin Films
von: Cook, Robert F.
1998, in:
MRS online proceedings library
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4
ARTICLES - Evaluation of the modified edge lift-off test for adhesion characterization in microelectronic multifilm applications
von: Hay, Jack C.
2001, in:
Journal of materials research
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5
Random loose packings of uniform spheres and the dilatancy onset
von: Onoda, George Y.
1990, in:
Physical review letters
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6
Evaluation of the modified edge lift-off test for adhesion characterization in microelectronic multifilm applications
von: Hay, Jack C.
2001, in:
Journal of materials research
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7
Evaluation of the modified edge lift-off test for adhesion characterization in microelectronic multifilm applications
von: Hay, Jack C.
2001, in:
Journal of materials research
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8
Experimental determination of the random-parking limit in two dimensions
von: Onoda, George Y.
1986, in:
Physical review / A
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9
Sigmoidal Indentation-Strength Characteristics of Polycrystalline Alumina
von: Cook, Robert F.
1994, in:
Journal of the American Ceramic Society
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10
Impedance spectroscopy studies of moisture uptake in low-k dielectrics and its relation to reliability
von: Raja, Archana
2015, in:
Microelectronic engineering
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11
Impedance spectroscopy studies of moisture uptake in low-k dielectrics and its relation to reliability
von: Raja, Archana
2015, in:
Brain emotional learning impedance control of uncertain nonlinear systems with time delay: Experiments on a hybrid elastic joint robot in telesurgery
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12
Characterization Of Spin -on Glasses by Microindentation
von: Simonyi, Eva E.
1998, in:
MRS online proceedings library
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13
Properties Development During Curing of Low Dielectric-Constant Spin-On Glasses
von: Cook, Robert F.
1998, in:
MRS online proceedings library
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14
Cu CMP and its Challenge for 20nm Nodes and Beyond
von: Zhang, John H.
2012, in:
MRS online proceedings library
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