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Aufsätze
1
A switch-level test generation system for synchronous and asynchronous circuits
von: Einspahr, Kent L.
1995, in:
Journal of electronic testing
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2
Generating Tests for Delay Faults in Nonscan Circuits - A delay test method uses any sequential-circuit test generator.
von: Agrawal, Prathima
1993, in:
IEEE design & test of computers
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3
A switch-level test generation system for synchronous and asynchronous circuits
von: Einspahr, Kent L.
1995, in:
Journal of electronic testing
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4
Modeling Fault Coverage of Random Test Patterns
von: Cui, Hailong
2003, in:
Journal of electronic testing
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5
Planar Straight-Line Embedding of Double-Tree Scan Architecture on a Rectangular Grid
von: Saha, Indranil
2008, in:
Fundamenta informaticae
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