Weiter zum Inhalt
Start Suche
Toggle navigation
Merkliste (
0
)
(Voll)
Sprache
English
Deutsch
Mein Konto
Abmeldung
Anmelden
Suchen
Erweiterte Suche
Suchverlauf
Suche im alten Katalog
Die von der HCU lizenzierten E-Medien sind aus lizenzrechtlichen Gründen nur im HCU-Netz frei nutzbar (
Tipps zum Zugriff für HCU-Angehörige
)
Bücher & mehr
Aufsätze
1
High-resolution depth profiling of soda-lime silicate glass using high-resolution RBS and ERDA
von: Sakata, Hiroki
2019transfer abstract, in:
Editorial Comment
Wird geladen...
2
Towards nanometric resolution in multilayer depth profiling: a comparative study of RBS, SIMS, XPS and GDOES
von: Escobar Galindo, Ramón
2010, in:
Analytical and bioanalytical chemistry
Wird geladen...
3
Sputtering of SiN films by 540keV C 60 2 + ions observed using high-resolution Rutherford backscattering spectroscopy
von: Nakajima, K.
2014transfer abstract, in:
Editorial Comment
Wird geladen...
4
The influence of the beam charge state on the analytical calculation of RBS and ERDA spectra
von: Barradas, Nuno P.
2016transfer abstract, in:
Editorial Comment
Wird geladen...
5
High-resolution Rutherford backscattering spectrometry with an optimised solid-state detector
von: Robson, S.G.
2021transfer abstract, in:
Editorial Comment
Wird geladen...
6
Loss of implanted heavy elements during annealing of ultra-shallow ion-implanted silicon: The complete picture
von: Chan, T.K.
2014, in:
Characterising shape patterns using features derived from best-fitting ellipsoids
Wird geladen...
Nicht das Richtige dabei?
Schreiben Sie uns!
Sortieren & Filtern
Sortieren nach
Relevanz
Neueste zuerst
Älteste zuerst
Autor*in
Titel
Einschränken auf E-Medien
Bibliothek
Standort (Printmedien)
Online
Ja
6
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Sprache
English
6
Nicht das Richtige dabei?
Schreiben Sie uns!
Wird geladen...