Protein structure determination by single-wavelength anomalous diffraction phasing of X-ray free-electron laser data

Serial femtosecond crystallography (SFX) at X-ray free-electron lasers (XFELs) offers unprecedented possibilities for macromolecular structure determination of systems that are prone to radiation damage. However, phasing XFEL data de novo is complicated by the inherent inaccuracy of SFX data, and on...
Ausführliche Beschreibung

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Autor*in:

Karol Nass [verfasserIn]

Anton Meinhart [verfasserIn]

Thomas R. M. Barends [verfasserIn]

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Sabine Botha [verfasserIn]

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Robert L. Shoeman [verfasserIn]

Garth Williams [verfasserIn]

Sebastien Boutet [verfasserIn]

Ilme Schlichting [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2016

Schlagwörter:

serial femtosecond crystallography

SFX

X-ray free-electron lasers

XFELs

SAD phasing

single-wavelength anomalous diffraction

Übergeordnetes Werk:

In: IUCrJ - International Union of Crystallography, 2014, 3(2016), 3, Seite 180-191

Übergeordnetes Werk:

volume:3 ; year:2016 ; number:3 ; pages:180-191

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DOI / URN:

10.1107/S2052252516002980

Katalog-ID:

DOAJ019783809

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