The segmented non-uniform dielectric module design for uniformity control of plasma profile in a capacitively coupled plasma chamber

Low-temperature plasma technique is one of the critical techniques in IC manufacturing process, such as etching and thin-film deposition, and the uniformity greatly impacts the process quality, so the design for the plasma uniformity control is very important but difficult. It is hard to finely and...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Huanxiong Xia [verfasserIn]

Dong Xiang [verfasserIn]

Wang Yang [verfasserIn]

Peng Mou [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2014

Übergeordnetes Werk:

In: AIP Advances - AIP Publishing LLC, 2011, 4(2014), 12, Seite 127124-127124-15

Übergeordnetes Werk:

volume:4 ; year:2014 ; number:12 ; pages:127124-127124-15

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DOI / URN:

10.1063/1.4904216

Katalog-ID:

DOAJ034470190

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