High-Resolution Soybean Yield Mapping Across the US Midwest Using Subfield Harvester Data

Cloud computing and freely available, high-resolution satellite data have enabled recent progress in crop yield mapping at fine scales. However, extensive validation data at a matching resolution remain uncommon or infeasible due to data availability. This has limited the ability to evaluate differe...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Walter T. Dado [verfasserIn]

Jillian M. Deines [verfasserIn]

Rinkal Patel [verfasserIn]

Sang-Zi Liang [verfasserIn]

David B. Lobell [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2020

Schlagwörter:

crop yields

yield mapping

US Corn Belt

Landsat

Sentinel

agricultural monitoring

Übergeordnetes Werk:

In: Remote Sensing - MDPI AG, 2009, 12(2020), 21, p 3471

Übergeordnetes Werk:

volume:12 ; year:2020 ; number:21, p 3471

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Journal toc

DOI / URN:

10.3390/rs12213471

Katalog-ID:

DOAJ047260793

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