Investigasi Pengaruh Daya RF terhadap Morfologi Silicon Nanowire pada Penumbuhan dengan Metode PECVD

Silicon nanowire (SiNW) merupakan material berstruktur nano yang pemanfaatannya cukup luas, diantaranya yaitu sebagai material divais elektronik, sebagai material biosensor, dan sebagai sistem pembawa obat. Penumbuhan SiNW salah satunya dapat dilakukan dengan metode PECVD (plasma-enhanced chemical v...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Aulia Fikri Hidayat [verfasserIn]

Toto Winata [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch ; Indonesisch

Erschienen:

2019

Schlagwörter:

daya rf

morfologi

nikel

pecvd

silicon nanowire

Übergeordnetes Werk:

In: Jurnal Fisika - Universitas Negeri Semarang, 2015, 9(2019), 1, Seite 8

Übergeordnetes Werk:

volume:9 ; year:2019 ; number:1 ; pages:8

Links:

Link aufrufen
Link aufrufen
Link aufrufen
Journal toc

DOI / URN:

10.15294/jf.v9i1.18811

Katalog-ID:

DOAJ061459348

Nicht das Richtige dabei?

Schreiben Sie uns!