Towards phasing using high X-ray intensity

X-ray free-electron lasers (XFELs) show great promise for macromolecular structure determination from sub-micrometre-sized crystals, using the emerging method of serial femtosecond crystallography. The extreme brightness of the XFEL radiation can multiply ionize most, if not all, atoms in a protein,...
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Autor*in:

Lorenzo Galli [verfasserIn]

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Robin Santra [verfasserIn]

Ilme Schlichting [verfasserIn]

Henry N. Chapman [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2015

Schlagwörter:

serial femtosecond crystallography

high-intensity phasing

radiation damage

electronic damage

X-ray free-electron lasers

high XFEL doses

Übergeordnetes Werk:

In: IUCrJ - International Union of Crystallography, 2014, 2(2015), 6, Seite 627-634

Übergeordnetes Werk:

volume:2 ; year:2015 ; number:6 ; pages:627-634

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Journal toc

DOI / URN:

10.1107/S2052252515014049

Katalog-ID:

DOAJ075583232

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