A Novel MAE-Based Self-Supervised Anomaly Detection and Localization Method

Despite significant advancements in self-supervised anomaly detection, multi-class anomaly detection tasks still pose substantial challenges. Most existing methods require individual network training for each category of objects. This paper presents a novel end-to-end approach for multi-class anomal...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Yibo Chen [verfasserIn]

Haolong Peng [verfasserIn]

Le Huang [verfasserIn]

Jianming Zhang [verfasserIn]

Wei Jiang [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2023

Schlagwörter:

Defect localization

self-supervised learning

visual transformer (ViT)

masked autoencoder (MAE)

industrial products

Übergeordnetes Werk:

In: IEEE Access - IEEE, 2014, 11(2023), Seite 127526-127538

Übergeordnetes Werk:

volume:11 ; year:2023 ; pages:127526-127538

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DOI / URN:

10.1109/ACCESS.2023.3332475

Katalog-ID:

DOAJ09268470X

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