Mid-Level Data Fusion Combined with the Fingerprint Region for Classification DON Levels Defect of Fusarium Head Blight Wheat

In this study, a method of mid-level data fusion with the fingerprint region was proposed, which was combined with the characteristic wavelengths that contain fingerprint information in NIR and FT-MIR spectra to detect the DON level in FHB wheat during wheat processing. NIR and FT-MIR raw spectrosco...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Kun Liang [verfasserIn]

Jinpeng Song [verfasserIn]

Rui Yuan [verfasserIn]

Zhizhou Ren [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2023

Schlagwörter:

spectroscopic techniques

fusarium head blight

fingerprint region

data fusion

Übergeordnetes Werk:

In: Sensors - MDPI AG, 2003, 23(2023), 14, p 6600

Übergeordnetes Werk:

volume:23 ; year:2023 ; number:14, p 6600

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Journal toc

DOI / URN:

10.3390/s23146600

Katalog-ID:

DOAJ093828349

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