Design of Inner Matching Three-Stage High-Power Doherty Power Amplifier Based on GaN HEMT Model

This paper introduces the structure and characteristics of an internal-matching high-power Doherty power amplifier based on GaN HEMT devices with 0.25 μm process platforms from the Nanjing Electronic Devices Institute. Through parameter extraction and load-pull testing of the model transistor, an EE...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Renyi Li [verfasserIn]

Chen Ge [verfasserIn]

Chenwei Liang [verfasserIn]

Shichang Zhong [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2024

Schlagwörter:

GaN HEMT

EE_HEMT model

Doherty PA

Übergeordnetes Werk:

In: Micromachines - MDPI AG, 2010, 15(2024), 3, p 388

Übergeordnetes Werk:

volume:15 ; year:2024 ; number:3, p 388

Links:

Link aufrufen
Link aufrufen
Link aufrufen
Journal toc

DOI / URN:

10.3390/mi15030388

Katalog-ID:

DOAJ100462782

Nicht das Richtige dabei?

Schreiben Sie uns!