Spectroscopic ellipsometry and raman spectroscopy of Bi

Spectroscopic ellipsometry supported by reflectivity measurements and Raman spectroscopy are applied at room temperature to n-type Rashba semiconductors BiTeI and Bi1-xSbxTeI with nominal compositions x = 0.05 and 0.1. Complementary four probe Hall measurements are made using standard ac technique a...
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Mamedov, N.T. [verfasserIn]

Chulkov, E.V. [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2023

Schlagwörter:

Rashba semiconductor

Dielectric function

Lattice vibrations

Intraband transitions

Intersubband transitions

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Thin solid films - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1967, 768

Übergeordnetes Werk:

volume:768

DOI / URN:

10.1016/j.tsf.2023.139727

Katalog-ID:

ELV009262520

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