X-ray spectroscopy from variable, Z laser-produced plasmas

We have investigated the sensitivity of X-ray line intensities as a laser-plasma diagnostic by seeding Si in CH and PbO plasmas. The Si K X-ray spectrum is measured using both time-integrating and time-resolving spectrographs to investigate the effect of time averaging on the line intensities. The m...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Kauffman, R.L.

Lee, R.W.

Matthews, D.L.

Kilkenny, J.D.

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

1984

Reproduktion:

Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect 1907 - 2002

Übergeordnetes Werk:

in: Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer - Amsterdam : Elsevier, 32(1984), 4, Seite 335-342

Übergeordnetes Werk:

volume:32 ; year:1984 ; number:4 ; pages:335-342

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Katalog-ID:

NLEJ178093777

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