Microstructure in the electron beam and the shape of tagging TDC spectra

The effect of fast electron beam intensity fluctuations and of the dead time of the electron detectors on the shape of TDC spectra in tagged photon experiments is explained. Some consequences for the data analysis and for the use of multi-hit TDCs are also discussed.

Gespeichert in:
Autor*in:

Van Hoorebeke, L.

Ryckbosch, D.

Van den Abeele, C.

Van de Vyver, R.

Dias, J.

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

1993

Reproduktion:

Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect 1907 - 2002

Übergeordnetes Werk:

in: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: - Amsterdam : Elsevier, 326(1993), 3, Seite 608-610

Übergeordnetes Werk:

volume:326 ; year:1993 ; number:3 ; pages:608-610

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Katalog-ID:

NLEJ18087313X

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