Cluster ion emission in the interaction of slow highly charged ions with surfaces

Abstract: Cluster ion emission from a variety of surfaces upon impact of highly charged ions is investigated by time-of-flight secondary ion mass spectrometry. The yield of cluster ions as a function of cluster size for and surface follow a power law decline with exponent approaching the -2 limit of...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Schenkel, T.

Barnes, A.V.

Hamza, A.V.

Schneider, D.H.

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

1998

Umfang:

6

Reproduktion:

Springer Online Journal Archives 1860-2002

Übergeordnetes Werk:

in: The European physical journal - 1998, 1(1998) vom: März, Seite 297-302

Übergeordnetes Werk:

volume:1 ; year:1998 ; month:03 ; pages:297-302 ; extent:6

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Katalog-ID:

NLEJ189694335

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