Calculation of average electron mean free path for metallic thin films

Gespeichert in:
Autor*in:

Chen, Chu-Xing

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

1987

Umfang:

3

Reproduktion:

Springer Online Journal Archives 1860-2002

Übergeordnetes Werk:

in: Journal of materials science - 1982, 6(1987) vom: Feb., Seite 232-234

Übergeordnetes Werk:

volume:6 ; year:1987 ; month:02 ; pages:232-234 ; extent:3

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Katalog-ID:

NLEJ194803791

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