Errors in the Measurement of Film Thickness by Multiple-Beam Interferometry

[Auszug] There are two ways in which a sharp edge can be given to an evaporated film. Part of the substrate can be shielded during the deposition of the film, the shield being removed for the deposition of the overlayer. Alternatively, Scott, McLauchlan and Sennett2 have suggested that a sharp-edged...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

WEAVER, C. [verfasserIn]

BENJAMIN, P. [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

s.l.: Nature Publishing Group ; 1958

Umfang:

2

Reproduktion:

Nature Archives 1869 - 2009

Übergeordnetes Werk:

In: Nature - London [u.a.] : Nature Publising Group, 1869, 182(1958), 4643 vom: Feb., Seite 1149-1150

Übergeordnetes Werk:

volume:182 ; year:1958 ; number:4643 ; month:02 ; pages:1149-1150 ; extent:2

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DOI / URN:

10.1038/1821149b0

Katalog-ID:

NLEJ233356592

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