Analysis of Doping in ZnSe and ZnSSe by Far-Infrared Reflectance under Oblique Incidence

Gespeichert in:
Autor*in:

Hermans, J. [verfasserIn]

Offermann, V.

Woitok, J.

Geurts, J.

Stanzl, H.

Gebhardt, W.

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

s.l. Stafa-Zurich, Switzerland: 1995

Anmerkung:

https://getinfo.de/app/details?id=transtech:doi~10.4028%252Fwww.scientific.net%252FMSF.182-184.73

Umfang:

Online-Ressource (4 pages)

Reproduktion:

Scientific.Net: Materials Science & Technology / Trans Tech Publications Archiv 1984-2008

Übergeordnetes Werk:

In: Materials science forum - Uetikon : Trans Tech Publ., 1984, Vol. 182-184 (Feb. 1995), p. 73-76

Übergeordnetes Werk:

volume:182-184 ; year:1995 ; pages:73-76

Links:

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DOI / URN:

10.4028/www.scientific.net/MSF.182-184.73

Katalog-ID:

NLEJ237829479

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