Determination of Contact Potential Difference by the Kelvin Probe (Part II) 2. Measurement System by Involving the Composite Bucking Voltage

The present research is devoted to creation of a new low-cost miniaturised measurement system for determination of potential difference in real time and with high measurement resolution. Furthermore, using the electrode of the reference probe, Kelvin method leads to both an indirect measurement of e...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Vilitis, O.

Rutkis, M.

Busenbergs, J.

Merkulovs, D.

Format:

E-Artikel

Erschienen:

De Gruyter Open ; 2017

Schlagwörter:

Kelvin probe

contact potential difference

surface potential

Umfang:

10

Reproduktion:

Walter de Gruyter Online Zeitschriften

Übergeordnetes Werk:

In: 0868-8257 - 53(2017), 6 vom: 25. Jan., Seite 57-66

Übergeordnetes Werk:

In: 53(2017), 6 vom: 25. Jan., Seite 57-66

volume:53 ; year:2017 ; number:6 ; day:25 ; month:01 ; pages:57-66 ; extent:10

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DOI / URN:

10.1515/lpts-2016-0045

Katalog-ID:

NLEJ248118323

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