Half-life limits on the zero-neutrino and two-neutrino double-β decay of Ge76

Data obtained from four Ge detectors in an active NaI shield yield a maximum-likelihood 68%-C.L. lower limit of 2.5×1023 yr for the half-life of the 0+→0+ transition, and 5×1022 yr for the 0+→2+ transition, for zero-neutrino double-β decay of Ge76. They also set a 90%-C.L. lower limit of 8×1019 yr f...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Caldwell, D. O.

Eisberg, R. M.

Grumm, D. M.

Hale, D. L.

Witherell, M. S.

Format:

E-Artikel

Erschienen:

1986

Umfang:

Online-Ressource

3

Reproduktion:

APS Digital Backfile Archive 1893-2003

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Physical review / D - [S.l.] : Soc., 1970, 33(1986), 9, Seite 2737-2739

Übergeordnetes Werk:

volume:33 ; year:1986 ; number:9 ; pages:2737-2739 ; extent:3

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Katalog-ID:

NLEJ25020312X

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