Inclusive μ and b-Quark Production Cross Sections in pp¯ Collisions at √s=1.8 TeV

We report a measurement of the inclusive muon and b-quark production cross sections in pp¯ collisions at s=1.8 TeV using the D0 detector at the Fermilab Tevatron collider. The inclusive muon spectrum extends over the kinematic range | yμ|<0.8 and 3.5<pTμ<60GeV/c, and is well described by th...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Abachi, S.

Abbott, B.

Abolins, M.

Acharya, B. S.

Adam, I.

Adams, D. L.

Adams, M.

Ahn, S.

Aihara, H.

Álvarez, G.

Alves, G. A.

Amidi, E.

Amos, N.

Anderson, E. W.

Aronson, S. H.

Astur, R.

Avery, R. E.

Baden, A.

Balamurali, V.

Balderston, J.

Baldin, B.

Bantly, J.

Bartlett, J. F.

Bazizi, K.

Behnke, T.

Bendich, J.

Beri, S. B.

Bertram, I.

Bezzubov, V. A.

Bhat, P. C.

Bhatnagar, V.

Bhattacharjee, M.

Bischoff, A.

Biswas, N.

Blazey, G.

Blessing, S.

Boehnlein, A.

Bojko, N. I.

Borcherding, F.

Borders, J.

Boswell, C.

Brandt, A.

Brock, R.

Bross, A.

Buchholz, D.

Burtovoi, V. S.

Butler, J. M.

Callot, O.

Casey, D.

Castilla-Valdez, H.

Chakraborty, D.

Chang, S.-M.

Chekulaev, S. V.

Chen, L.-P.

Chen, W.

Chevalier, L.

Chopra, S.

Choudhary, B. C.

Christenson, J. H.

Chung, M.

Claes, D.

Clark, A. R.

Cobau, W. G.

Cochran, J.

Cooper, W. E.

Cretsinger, C.

Cullen-Vidal, D.

Cummings, M.

Cussonneau, J. P.

Cutts, D.

Dahl, O. I.

De, K.

Demarteau, M.

Demina, R.

Denisenko, K.

Denisenko, N.

Denisov, D.

Denisov, S. P.

Dharmaratna, W.

Diehl, H. T.

Diesburg, M.

Dixon, R.

Draper, P.

Drinkard, J.

Ducros, Y.

Durston-Johnson, S.

Eartly, D.

Edmunds, D.

Efimov, A. O.

Ellison, J.

Elvira, V. D.

Engelmann, R.

Eno, S.

Eppley, G.

Ermolov, P.

Eroshin, O. V.

Evdokimov, V. N.

Fahey, S.

Fahland, T.

Fatyga, M.

Fatyga, M. K.

Featherly, J.

Feher, S.

Fein, D.

Ferbel, T.

Finocchiaro, G.

Fisk, H. E.

Fisyak, Yu.

Flattum, E.

Forden, G. E.

Fortner, M.

Frame, K. C.

Franzini, P.

Fredriksen, S.

Fuess, S.

Gallas, E.

Gao, C. S.

Geld, T. L.

Genik II, R. J.

Genser, K.

Gerber, C. E.

Gibbard, B.

Glebov, V.

Glenn, S.

Glicenstein, J. F.

Gobbi, B.

Goforth, M.

Goldschmidt, A.

Gomez, B.

Good, M. L.

Gordon, H.

Graf, N.

Grannis, P. D.

Green, D. R.

Green, J.

Greenlee, H.

Grossman, N.

Grudberg, P.

Grünendahl, S.

Guida, J. A.

Guida, J. M.

Guryn, W.

Hadley, N. J.

Haggerty, H.

Hagopian, S.

Hagopian, V.

Hahn, K. S.

Hall, R. E.

Hansen, S.

Hauptman, J. M.

Hedin, D.

Heinson, A. P.

Heintz, U.

Heuring, T.

Hirosky, R.

Hobbs, J. D.

Hoeneisen, B.

Hoftun, J. S.

Hu, Ting

Hu, Tong

Hubbard, J. R.

Huehn, T.

Igarashi, S.

Ito, A. S.

James, E.

Jaques, J.

Jerger, S. A.

Jiang, J. Z.-Y.

Joffe-Minor, T.

Johari, H.

Johns, K.

Johnson, M.

Johnstad, H.

Jonckheere, A.

Jones, M.

Jöstlein, H.

Jun, S. Y.

Jung, C. K.

Kahn, S.

Kang, J. S.

Kehoe, R.

Kelly, M.

Kernan, A.

Kerth, L.

Kim, C. L.

Klatchko, A.

Klima, B.

Klochkov, B. I.

Klopfenstein, C.

Klyukhin, V. I.

Kochetkov, V. I.

Kohli, J. M.

Koltick, D.

Kotcher, J.

Kourlas, J.

Kozelov, A. V.

Kozlovski, E. A.

Krishnaswamy, M. R.

Krzywdzinski, S.

Kunori, S.

Lami, S.

Landsberg, G.

Lanou, R. E.

Lebrat, J-F.

Lee-Franzini, J.

Leflat, A.

Li, H.

Li, J.

Li, R. B.

Li, Y. K.

Li-Demarteau, Q. Z.

Lima, J. G.

Linn, S. L.

Linnemann, J.

Lipton, R.

Liu, Y. C.

Lobkowicz, F.

Loch, P.

Loken, S. C.

Lökös, S.

Lueking, L.

Lyon, A. L.

Maciel, A. K.

Madaras, R. J.

Madden, R.

Mangeot, Ph.

Mani, S.

Manning, I.

Mansoulié, B.

Mao, H. S.

Margulies, S.

Markeloff, R.

Markosky, L.

Marshall, T.

Martin, M. I.

Marx, M.

May, B.

Mayorov, A. A.

McCarthy, R.

McKibben, T.

McKinley, J.

de Mello Neto, J. R.

Meng, X. C.

Merritt, K. W.

Miettinen, H.

Milder, A.

Milner, C.

Mincer, A.

de Miranda, J. M.

Mokhov, N.

Mondal, N. K.

Montgomery, H. E.

Mooney, P.

Mudan, M.

Murphy, C.

Murphy, C. T.

Nang, F.

Narain, M.

Narasimham, V. S.

Neal, H. A.

Negret, J. P.

Nemethy, P.

Nešić, D.

Norman, D.

Oesch, L.

Oguri, V.

Oltman, E.

Oshima, N.

Owen, D.

Padley, P.

Pang, M.

Para, A.

Park, C. H.

Partridge, R.

Paterno, M.

Peryshkin, A.

Peters, M.

Pi, B.

Piekarz, H.

Pizzuto, D.

Pluquet, A.

Podstavkov, V. M.

Pope, B. G.

Prosper, H. B.

Protopopescu, S.

Pušeljić, D.

Qian, J.

Que, Y.-K.

Quintas, P. Z.

Rahal-Callot, G.

Raja, R.

Rajagopalan, S.

Ramirez, O.

Rao, M. V.

Rasmussen, L.

Read, A. L.

Reucroft, S.

Rijssenbeek, M.

Roe, N. A.

Roldan, J. M.

Rubinov, P.

Ruchti, R.

Rusin, S.

Rutherfoord, J.

Santoro, A.

Sawyer, L.

Schamberger, R. D.

Schellman, H.

Schmid, D.

Sculli, J.

Serna, A.

Shabalina, E.

Shaffer, C.

Shankar, H. C.

Shao, Y.

Shivpuri, R. K.

Shupe, M.

Singh, J. B.

Sirotenko, V.

Skeens, J.

Smart, W.

Smith, A.

Smith, R. P.

Snihur, R.

Snow, G. R.

Snyder, S.

Solomon, J.

Sood, P. M.

Sosebee, M.

Souza, M.

Spadafora, A. L.

Stephens, R. W.

Stevenson, M. L.

Stewart, D.

Stocker, F.

Stoianova, D. A.

Stoker, D.

Streets, K.

Strovink, M.

Taketani, A.

Tamburello, P.

Tartaglia, M.

Taylor, T. L.

Teiger, J.

Thompson, J.

Trippe, T. G.

Tuts, P. M.

Varnes, E. W.

Virador, P. R.

Volkov, A. A.

Vorobiev, A. P.

Wahl, H. D.

Wang, D. C.

Wang, L. Z.

Warchol, J.

Wayne, M.

Weerts, H.

Wenzel, W. A.

White, A.

White, J. T.

Wightman, J. A.

Wilcox, J.

Willis, S.

Wimpenny, S. J.

Wolf, Z.

Womersley, J.

Won, E.

Wood, D. R.

Xia, Y.

Xiao, D.

Xie, R. P.

Xu, H.

Yamada, R.

Yamin, P.

Yanagisawa, C.

Yang, J.

Yang, M.-J.

Yasuda, T.

Yoshikawa, C.

Youssef, S.

Yu, J.

Zeitnitz, C.

Zhang, D.

Zhang, Y.

Zhang, Z.

Zhou, Y. H.

Zhu, Q.

Zhu, Y. S.

Zieminska, D.

Zieminski, A.

Zinchenko, A.

Zylberstejn, A.

Format:

E-Artikel

Erschienen:

1995

Umfang:

Online-Ressource

5

Reproduktion:

APS Digital Backfile Archive 1893-2003

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Physical review letters - College Park, Md. : APS, 1958, 74(1995), 18, Seite 3548-3552

Übergeordnetes Werk:

volume:74 ; year:1995 ; number:18 ; pages:3548-3552 ; extent:5

Links:

Link aufrufen

Katalog-ID:

NLEJ250820196

Nicht das Richtige dabei?

Schreiben Sie uns!