Analytical method of gigabit trench doping uniformity by secondary ion mass spectrometry

Gespeichert in:
Autor*in:

Matsuo, Naoto [verfasserIn]

Tsukamoto, Kazuyoshi

Miyoshi, Tadaki

Format:

Artikel

Erschienen:

1996

Systematik:

Umfang:

2

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of vacuum science and technology / B - New York, NY : Inst., 1983, 14(1996), 4, Seite 2770-2771

Übergeordnetes Werk:

volume:14 ; year:1996 ; number:4 ; pages:2770-2771 ; extent:2

Katalog-ID:

OLC1503842576

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