Erratum: "Thermal dependence of the refractive index of GaAs and AlAs measured using semiconductor multilayer optical cavities" (Appl. Phys. Lett. 66, 335 (1995))

Gespeichert in:
Autor*in:

Talghader, J. [verfasserIn]

Smith, J.S.

Format:

Artikel

Erschienen:

1996

Umfang:

1

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Applied physics letters - Melville, NY : AIP, 1962, 69(1996), 17, Seite 2608

Übergeordnetes Werk:

volume:69 ; year:1996 ; number:17 ; pages:2608 ; extent:1

Katalog-ID:

OLC1506647340

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