Ion-beam-induced epitaxial crystallization (IBIEC) and solid phase epitaxial growth (SPEG) of Si1-xCx layers in Si fabricated by C ion implantation

Gespeichert in:
Autor*in:

Kobayashi, N. [verfasserIn]

Zhu, D.H.

Hasegawa, M.

Katsumata, H.

Tanaka, Y.

Hayashi, N.

Makita, Y.

Shibata, H.

Uekusa, S.

Format:

Artikel

Erschienen:

1997

Systematik:

Umfang:

5

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1984, 127(1997), Seite 350-354

Übergeordnetes Werk:

volume:127 ; year:1997 ; pages:350-354 ; extent:5

Katalog-ID:

OLC1519259239

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