Effects of Thermal History on the Formation of Oxidation-induced Stacking Fault-Nuclei in Czochralski Silicon during Crystal Growth

Gespeichert in:
Autor*in:

Harada, Kazuhiro [verfasserIn]

Furuya, Hisashi

Kida, Michio

Format:

Artikel

Erschienen:

1997

Systematik:

Umfang:

8

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Japanese journal of applied physics. Part 1, Regular papers, brief communications & review papers - Tokyo : Ōyō Butsuri Gakkai, 1982, 36(1997), 6, A, Seite 3366-3373

Übergeordnetes Werk:

volume:36 ; year:1997 ; number:6 ; supplement:A ; pages:3366-3373 ; extent:8

Katalog-ID:

OLC152123504X

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