Non-contact scanning probe microscopy with sub-piconewton force sensitivity

Gespeichert in:
Autor*in:

Aoki, T. [verfasserIn]

Hiroshima, M.

Kitamura, K.

Tokunaga, M.

Yanagida, T.

Format:

Artikel

Erschienen:

1997

Umfang:

12

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Ultramicroscopy - New York, NY [u.a.] : Elsevier, 1975, 70(1997), 1-2, Seite 45-56

Übergeordnetes Werk:

volume:70 ; year:1997 ; number:1-2 ; pages:45-56 ; extent:12

Katalog-ID:

OLC1527932052

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