Studies of metallic species and oxygen incorporation during sputter-deposition of SrBi2Ta2O9 films, using mass spectroscopy of recoiled ions

Gespeichert in:
Autor*in:

Im, J. [verfasserIn]

Krauss, A.R.

Dhote, A.M.

Gruen, D.M.

Auciello, O.

Ramesh, R.

Chang, R.P.H.

Format:

Artikel

Erschienen:

1998

Umfang:

3

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Applied physics letters - Melville, NY : AIP, 1962, 72(1998), 20, Seite 2529-2531

Übergeordnetes Werk:

volume:72 ; year:1998 ; number:20 ; pages:2529-2531 ; extent:3

Katalog-ID:

OLC1534776079

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