Analysis of MBE growth mode for GaN epilayers by RHEED

Gespeichert in:
Autor*in:

Okumura, Hajime [verfasserIn]

Balakrishnan, Krishnan

Hamaguchi, Hiroshi

Koizumi, Takayoshi

Chichibu, Shigefusa

Nakanishi, Hisayuki

Nagatomo, Takao

Yoshida, Sadafumi

Format:

Artikel

Erschienen:

1998

Umfang:

6

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of crystal growth - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1967, 189(1998), Seite 364-369

Übergeordnetes Werk:

volume:189 ; year:1998 ; pages:364-369 ; extent:6

Katalog-ID:

OLC1538653524

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