Instrumentation, Measurement, and Fabrication Technology - X-ray Penetration Depth for Large Lattice-Mismatched Heteroepitaxial Layer by Dynamical Diffraction Theory using Computer Simulation

Gespeichert in:
Autor*in:

Suzuki, Yoshifumi [verfasserIn]

Novikov, Dmitri

Materlik, Gerhard

Yoshida, Masaaki

Chikaura, Yoshinori

Kii, Hideki

Format:

Artikel

Erschienen:

1998

Systematik:

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Japanese journal of applied physics. Part 2, Letters & express letters - Tokyo : Ōyō Butsuri Gakkai, 1982, 37(1998), 7, A, Seite L820

Übergeordnetes Werk:

volume:37 ; year:1998 ; number:7 ; supplement:A ; pages:L820

Katalog-ID:

OLC1540171256

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