Dependence of the measured monolayer height on applied forces in scanning force microscopy

Gespeichert in:
Autor*in:

Hartig, M. [verfasserIn]

Chi, L.F.

Liu, X.D.

Fuchs, H.

Format:

Artikel

Erschienen:

1998

Umfang:

6

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Thin solid films - Amsterdam [u.a.] Elsevier, 1967, 327(1998), 1, Seite 262-267

Übergeordnetes Werk:

volume:327 ; year:1998 ; number:1 ; pages:262-267 ; extent:6

Katalog-ID:

OLC1540834832

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