Degradation of MOS-Structures Sensitive to Hydrogen-Containing Gases

Gespeichert in:
Autor*in:

Duchenko, M. O. [verfasserIn]

Kalygina, V. M.

Format:

Artikel

Erschienen:

1995

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques - New York, NY : Gordon and Breach, 1996, 11(1995), 1, Seite 72-79

Übergeordnetes Werk:

volume:11 ; year:1995 ; number:1 ; pages:72-79

Katalog-ID:

OLC1549734342

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