ARTICLES - X-ray diffraction and transmission electron microscopy analysis of ordering and structure in Al1-xInxAs thin films

Gespeichert in:
Autor*in:

Forrest, R.L. [verfasserIn]

Kulik, J.

Golding, T.D.

Moss, S.C.

Format:

Artikel

Erschienen:

2000

Systematik:

Umfang:

11

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of materials research - Warrendale, Pa. : Materials Research Society, 1986, 15(2000), 1, Seite 45-55

Übergeordnetes Werk:

volume:15 ; year:2000 ; number:1 ; pages:45-55 ; extent:11

Katalog-ID:

OLC1567264476

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