Use of artificial neural networks to predict thickness and optical constants of thin films from reflectance data

Gespeichert in:
Autor*in:

Tabet, M.F. [verfasserIn]

Mcgahan, W.A.

Format:

Artikel

Erschienen:

2000

Umfang:

6

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Thin solid films - Amsterdam [u.a.] Elsevier, 1967, 370(2000), 1, Seite 122-127

Übergeordnetes Werk:

volume:370 ; year:2000 ; number:1 ; pages:122-127 ; extent:6

Katalog-ID:

OLC1573614947

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