EELS investigation of thin epitaxial NiO-Ag(001) films: surface states in the multilayer, monolayer and submonolayer range

Gespeichert in:
Autor*in:

Müller, F. [verfasserIn]

de Masi, R.

Steiner, P.

Reinicke, D.

Stadtfeld, M.

Hüfner, S.

Format:

Artikel

Erschienen:

2000

Umfang:

12

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Surface science - Amsterdam : Elsevier, 1964, 459(2000), 1, Seite 161-172

Übergeordnetes Werk:

volume:459 ; year:2000 ; number:1 ; pages:161-172 ; extent:12

Katalog-ID:

OLC1574810308

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