SPECIAL SECTION: SURFACE CHARACTERIZATION - Investigations of semiconductor surfaces and interfaces by X-ray grazing incidence diffraction

Gespeichert in:
Autor*in:

Pietsch, Ullrich [verfasserIn]

Format:

Artikel

Erschienen:

2000

Umfang:

12

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Current science - Bangalore : Assoc., 1932, 78(2000), 12, Seite 1484-1495

Übergeordnetes Werk:

volume:78 ; year:2000 ; number:12 ; pages:1484-1495 ; extent:12

Katalog-ID:

OLC1576719464

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