Papers Presented at ECASIA 99 - Depth Profiling - XPS and SIMS depth profiling of oxynitrides

Gespeichert in:
Autor*in:

Vanzetti, L. [verfasserIn]

Bersani, M.

Sbetti, M.

Anderle, M.

Format:

Artikel

Erschienen:

2000

Systematik:

Umfang:

5

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Surface and interface analysis - Chichester [u.a.] : Wiley, 1979, 30(2000), 1, Seite 255-259

Übergeordnetes Werk:

volume:30 ; year:2000 ; number:1 ; pages:255-259 ; extent:5

Katalog-ID:

OLC1578719410

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