Letters - Instrumentation, Measurement, and Fabrication Technology - Wavelength-Dispersive Total Reflection X-Ray Fluorescence with High-Brilliance Undulator Radiation at SPring-8

Gespeichert in:
Autor*in:

Awaji, Naoki [verfasserIn]

Ozaki, Shinji

Nishino, Junichi

Noguchi, Sinichi

Yamamoto, Tohru

Syoji, Takashi

Yamagami, Motoyuki

Kobayashi, Akira

Hirai, You

Shibata, Masahiro

Yamaguchi, Koji

Liu, Kuang-Yu

Kawado, Seiji

Takahashi, Mamoru

Yasuami, Shigeru

Konomi, Ichiro

Kimura, Shigeru

Hirai, Yasuharu

Hasegawa, Masaki

Format:

Artikel

Erschienen:

2000

Systematik:

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Japanese journal of applied physics. Part 2, Letters & express letters - Tokyo : Ōyō Butsuri Gakkai, 1982, 39(2000), 12, A, Seite L1252

Übergeordnetes Werk:

volume:39 ; year:2000 ; number:12 ; supplement:A ; pages:L1252

Katalog-ID:

OLC1588411621

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