Electrical stress effects on ultrathin (2.3 nm) oxides

Gespeichert in:
Autor*in:

Zander, D. [verfasserIn]

Saigne, F.

Petit, C.

Meinertzhagen, A.

Format:

Artikel

Erschienen:

2001

Umfang:

6

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of non-crystalline solids - Amsterdam : North-Holland Publ. Co., 1968, 280(2001), 1, Seite 86-91

Übergeordnetes Werk:

volume:280 ; year:2001 ; number:1 ; pages:86-91 ; extent:6

Katalog-ID:

OLC1600318851

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