PAPERS - Timing - Timed Circuit Verification Using TEL Structures

Gespeichert in:
Autor*in:

Belluomini, W. [verfasserIn]

Myers, C.J.

Hofstee, H.P.

Format:

Artikel

Erschienen:

2001

Umfang:

18

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems - New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1982, 20(2001), 1, Seite 129-146

Übergeordnetes Werk:

volume:20 ; year:2001 ; number:1 ; pages:129-146 ; extent:18

Katalog-ID:

OLC1600509983

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