Self-assembled near-zero-thickness molecular layers as diffusion barriers for Cu metallization

Gespeichert in:
Autor*in:

Krishnamoorthy, A. [verfasserIn]

Chanda, K.

Murarka, S.P.

Ramanath, G.

Ryan, J.G.

Format:

Artikel

Erschienen:

2001

Umfang:

3

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Applied physics letters - Melville, NY : AIP, 1962, 78(2001), 17, Seite 2467-2469

Übergeordnetes Werk:

volume:78 ; year:2001 ; number:17 ; pages:2467-2469 ; extent:3

Katalog-ID:

OLC1602406685

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