Short Communication: Peak or centroid -- Which parameter is better suited for quantifying apparent marker locations in low-energy sputter depth profiling with reactive primary ion beams?

Gespeichert in:
Autor*in:

Wittmaack, K. [verfasserIn]

Hammerl, E.

Eisele, I.

Patel, S.B.

Format:

Artikel

Erschienen:

2001

Systematik:

Umfang:

4

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Surface and interface analysis - Chichester [u.a.] : Wiley, 1979, 31(2001), 9, Seite 893-896

Übergeordnetes Werk:

volume:31 ; year:2001 ; number:9 ; pages:893-896 ; extent:4

Katalog-ID:

OLC161229166X

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