Application of NRA to evaluation of boron implants in Si for shallow junctions

Gespeichert in:
Autor*in:

Suzuki, M. [verfasserIn]

Tomita, M.

Murakoshi, A.

Format:

Artikel

Erschienen:

2002

Systematik:

Umfang:

4

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1984, 190(2002), Seite 552-555

Übergeordnetes Werk:

volume:190 ; year:2002 ; pages:552-555 ; extent:4

Katalog-ID:

OLC1625005075

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