Nanoimprint-induced effects on electrical and optical properties of quantum well structures

Gespeichert in:
Autor*in:

Zankovych, S. [verfasserIn]

Maximov, I.

Shorubalko, I.

Seekamp, J.

Beck, M.

Romanov, S.

Reuter, D.

Schafmeister, P.

Wieck, A.D.

Format:

Artikel

Erschienen:

2003

Umfang:

7

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Microelectronic engineering - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1983, 67(2003), 1, Seite 214-220

Übergeordnetes Werk:

volume:67 ; year:2003 ; number:1 ; pages:214-220 ; extent:7

Katalog-ID:

OLC1644087065

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