PAPERS FROM THE 49TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM OF THE AVS - Thin Films - Thermal behavior of hafnium-based ultrathin films on silicon

Gespeichert in:
Autor*in:

Pezzi, R.P. [verfasserIn]

Morais, J.

Dahmen, S.R.

Bastos, K.P.

Miotti, L.

Soares, G.V.

Baumvol, I.J.R.

Freire Jr, F.L.

Format:

Artikel

Erschienen:

2003

Systematik:

Umfang:

7

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of vacuum science and technology / A - New York, NY : Inst., 1983, 21(2003), 4, Seite 1424-1430

Übergeordnetes Werk:

volume:21 ; year:2003 ; number:4 ; pages:1424-1430 ; extent:7

Katalog-ID:

OLC1647790808

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