Temperature-dependent inelastic response of passivated copper films: Experiments, analyses, and implications

Gespeichert in:
Autor*in:

Shen, Y.-L. [verfasserIn]

Ramamurty, U.

Format:

Artikel

Erschienen:

2003

Systematik:

Umfang:

7

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Journal of vacuum science and technology / B - New York, NY : Inst., 1983, 21(2003), 4, Seite 1258-1264

Übergeordnetes Werk:

volume:21 ; year:2003 ; number:4 ; pages:1258-1264 ; extent:7

Katalog-ID:

OLC1649597320

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